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      雙基高比線面陣結(jié)合立體測繪幾何模型的構(gòu)建

      2015-10-11 02:22:14李瀛搏胡斌胡海彥方勇傅丹膺
      航天返回與遙感 2015年1期
      關(guān)鍵詞:面陣線面共線

      李瀛搏 胡斌 胡海彥 方勇 傅丹膺

      (1 北京空間機(jī)電研究所,北京 100094)

      (2 西安測繪研究所,西安 710054)

      (3 航天東方紅衛(wèi)星有限公司,北京 100094)

      0 引言

      航天立體測繪衛(wèi)星系統(tǒng)作為航天對地觀測系統(tǒng)的重要組成部分,用于獲取全球范圍目標(biāo)的精確地理信息數(shù)據(jù),為國家基礎(chǔ)地理信息系統(tǒng)的建設(shè)、維護(hù)和更新提供數(shù)據(jù)源,滿足國家基礎(chǔ)測繪、國土資源調(diào)查以及國民經(jīng)濟(jì)建設(shè)等各個方面的需求[1-2]。

      大比例尺航天立體測繪主要用于全球范圍重點目標(biāo)區(qū)域地表三維信息獲取,主要任務(wù)是實現(xiàn)城市等重點目標(biāo)及其設(shè)施和相關(guān)區(qū)域地物目標(biāo)的三維結(jié)構(gòu)重建,目標(biāo)特點是建筑物密集、高度起伏變化劇烈[3],采用傳統(tǒng)的大基高比攝影測量模式存在以下3個方面的難題:

      1)由于地表高程的劇烈變化造成地物之間相互遮擋,需要多視角觀測,在有限的觀測條件下,容易造成有效信息的缺失。

      2)由于大基高比測繪采用大交會角觀測,造成立體像對之間幾何和輻射差異非常大,影響了同名像點的匹配精度,同時三維信息重建自動化程度較低。

      3)比例尺越大,對地物要素信息的表達(dá)越詳細(xì)、影像分辨率越高、幾何精度越高,因此,對光學(xué)測繪衛(wèi)星系統(tǒng)的綜合性能提出了更高的要求,體積和質(zhì)量明顯增加,系統(tǒng)設(shè)計和研制的難度也會顯著增大[4]。

      因此,本文提出了基于雙基高比線面陣結(jié)合的立體測繪方法。采用大、小基高比的雙基高比立體測繪相機(jī)可以實現(xiàn)大基高比交會成像和小基高比近同時成像的綜合成像模式,兼顧了平緩地形測繪和地表陡峭地物三維測繪要求,可以降低建筑物遮擋帶來的問題,有利于提高影像匹配精度和自動化處理程度,在城市大比例尺立體測繪中有更多優(yōu)勢。同時,由于面陣探測器具有較好的幾何保真度,線陣加入面陣形成線面陣聯(lián)合相機(jī)系統(tǒng)后,立體定位的可靠度和精度將得到明顯提高,兼顧了正射影像等測繪產(chǎn)品的制作,有利于實現(xiàn)無地面控制點高精度全球測繪[5]。

      本文以共線條件方程為基礎(chǔ),從理論上分析面陣相機(jī)和線陣相機(jī)的成像機(jī)制,建立雙基高比線面陣結(jié)合立體測繪的傳感器嚴(yán)格幾何成像模型,并基于仿真影像進(jìn)行雙基高比線面陣結(jié)合定位精度分析,驗證成像模型的正確性,可為我國實現(xiàn)1︰5 000比例尺甚高精度航天立體測繪提供一種新思路和解決途徑。

      1 線面陣聯(lián)合成像模型的構(gòu)建

      嚴(yán)格成像模型是以共線方程為基礎(chǔ),通過不同坐標(biāo)系之間轉(zhuǎn)換,嚴(yán)格描述像點的空間坐標(biāo)與相應(yīng)地面點的數(shù)學(xué)關(guān)系。因此,根據(jù)傳感器成像幾何特性的不同,所對應(yīng)的嚴(yán)格成像模型也有所不同。

      1.1 面陣相機(jī)嚴(yán)格成像模型

      面陣影像的成像過程為面中心投影,每景影像僅有一個投影中心[6]。影像覆蓋范圍內(nèi)的地面點通過投影中心(像主點S)進(jìn)入傳感器內(nèi)部,在像平面上形成影像。

      基于中心投影原理,像點和物點的向量關(guān)系如圖1所示,共線方程為

      圖1 共線方程向量式Fig.1 Vector diagram of collinearity equation

      地面點 P (X,Y,Z)和像點 p (x,y,z)以及投影中心S三點共線,根據(jù)共線條件方程,則面陣影像的嚴(yán)格模型為

      考慮到系統(tǒng)誤差,上式擴(kuò)展為

      為考慮到系統(tǒng)誤差的數(shù)學(xué)模型,系統(tǒng)誤差數(shù)學(xué)模型和這些附加參數(shù)是根據(jù)相機(jī)系統(tǒng)誤差的實際物理幾何特性來確定的,對于復(fù)雜的系統(tǒng)誤差也可采用高階多項式來描述,附加參數(shù)的有效性需要實際的試驗和數(shù)據(jù)平差處理來確定。共線方程的一般式可表示為

      式中 ω、φ、κ為像空間坐標(biāo)系(相機(jī)坐標(biāo)系)和物方空間坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)變換角;xp、yp、c為相機(jī)內(nèi)方位元素;xF、yF為考慮系統(tǒng)誤差的共線方程一般表達(dá)式。

      1.2 線陣相機(jī)嚴(yán)格成像模型

      與面陣相機(jī)的成像方式不同,線陣影像是由一系列垂直于軌道方向的線陣 CCD傳感器通過推掃的方式獲取的,通過衛(wèi)星沿軌飛行,獲得所攝地區(qū)的連續(xù)航帶影像。因此,一幅影像上像點坐標(biāo)對應(yīng)的外方位元素并不唯一,每一掃描行圖像與被攝物體之間存在著中心投影關(guān)系,都對應(yīng)獨立的一套外方位元素

      1.2.1 線中心投影共線方程模型

      對于單個像點,線陣相機(jī)和地面點的數(shù)學(xué)關(guān)系為

      式中 (XC,YC,ZC)為投影中心在地面坐標(biāo)系統(tǒng)中的坐標(biāo);f為相機(jī)焦距。

      對于光學(xué)系統(tǒng)由多個鏡頭組成的傳感器,對上述模型需要改化,引入附加參數(shù)以描述其他鏡頭相對于正視鏡頭的位置與姿態(tài)關(guān)系。例如,對于鏡頭j(j=1, 2, 3, …, n),以dxj、dyj、dzj為相對于正視鏡頭的相對位置,αj、βj、γj為相對于正視鏡頭的相對姿態(tài),如圖2所示,圖中fj、xpj、ypj為鏡頭j的焦距和主點坐標(biāo)[7-10],PCj、xCj、yCj、zCj為相機(jī)j的像空間坐標(biāo),則公式擴(kuò)展為

      圖2 相機(jī)j與正視鏡頭的幾何位置相對關(guān)系Fig.2 Positional relationship between camera j and nadir camera

      考慮到相機(jī)自檢校,上述模型可進(jìn)一步擴(kuò)展為

      式中 Δxj和Δyj為關(guān)于鏡頭畸變、CCD線陣畸變以及內(nèi)定向參數(shù)(改正量)等成像系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差模型。

      1.2.2 線陣相機(jī)軌道模型

      傳感器外部定向模型(EO)用關(guān)于時間的分段多項式(PPM)來建模[11]。可以通過衛(wèi)星飛行軌道的特性設(shè)置多項式階數(shù),根據(jù)控制點(GCPs)和連接點(TPs)的分布來確定多項式的分段個數(shù),分段多項式軌道模型如圖3所示。

      圖3 分段多項式軌道模型Fig.3 Orbit model of sectioned polynomial

      對于被分割軌道的第i段(該段的首末端點的線陣影像獲取時刻記為),則定義時間變量t為

      式中0t為該段軌道上某線陣影像的獲取時刻。以2階多項式為例(時間t為因變量),則在分段多項式的每一段,傳感器外部定向參數(shù)模型為

      1.3 附加參數(shù)模型

      為了提高模型對傳感器的物理描述真實度,需要對基本的共線方程進(jìn)行擴(kuò)展,以期達(dá)到精細(xì)化建模的目的。具體做法是對共線方程引入附加參數(shù),這些附加參數(shù)在平差處理過程同時予以求解。附加參數(shù)必須滿足3個要求:1)所有新引入的參數(shù)必須與已存在的平差中的待估參數(shù)無關(guān);2)如果引入的附加參數(shù)模型為多項式,多項式階數(shù)不宜過高;3)還需要使用統(tǒng)計方法對引入的參數(shù)進(jìn)行顯著性檢驗,以確定各個附加參數(shù)對整個模型貢獻(xiàn)的顯著性。

      根據(jù)附加參數(shù)是否具有實際的物理意義,可以將像差改進(jìn)模型分為顧及像點特性的系統(tǒng)誤差改正模型和多項式誤差改正模型兩大類。測繪相機(jī)系統(tǒng)誤差的一般表達(dá)式為

      像差改進(jìn)模型是關(guān)于像空間坐標(biāo)的函數(shù),利用相機(jī)自身物理參數(shù)或正交化參數(shù)來予以描述,最終反映理想的像空間坐標(biāo)和實際的像點坐標(biāo)之間的差異。

      顧及像點特性的這類系統(tǒng)誤差模型是從實際的物理、幾何特性出發(fā)來描述和刻畫盡可能與實際相機(jī)相符的系統(tǒng)誤差數(shù)學(xué)模型。

      通過分析測繪衛(wèi)星系統(tǒng)的誤差源,可以將上式展開為

      式中 Δxi、Δyi為內(nèi)定向參數(shù)誤差(主點、主距);Δxr、Δyr為鏡頭的徑向畸變;Δxd、Δyd為鏡頭的偏心畸變;Δxf、Δyf為成像面內(nèi)誤差(像元尺寸均勻度、陣列正交性);Δxu、Δyu為成像面誤差(像面平整度)。

      由于線陣相機(jī)與面陣相機(jī)在系統(tǒng)組成上的區(qū)別,其附加參數(shù)也不相同。線陣相機(jī)通常采用多個線陣傳感器拼接來獲得足夠的成像幅寬,因此,需要對多個線陣傳感器之間的直線度誤差和拼接精度進(jìn)行分析和建模。

      1.4 線面陣聯(lián)合成像模型

      混合型的線面陣相機(jī)組合,從數(shù)學(xué)模型上來講,是將線陣、面陣不同傳感器模型及其成像模式結(jié)合在一起,在數(shù)據(jù)平差處理時,其觀測方程組的建立,系數(shù)矩陣的構(gòu)造等與前兩者存在一定的差異,這是線面陣相機(jī)的數(shù)據(jù)平差處理的“組合”,其本質(zhì)是“多源數(shù)據(jù)聯(lián)合平差空中三角測量”問題[12-13]。

      對于如圖4所示的線面陣結(jié)合相機(jī)系統(tǒng),如果地面點A分別成像在線陣影像及面陣影像上,則面陣相機(jī)成像模型、線陣相機(jī)成像模型組成聯(lián)立方程組。

      圖4 雙基高比線面陣結(jié)合相機(jī)系統(tǒng)立體定位示意(以一個線陣和一個面陣為例)Fig.4 Double baseline stereo photogrammetric mode(one linear array sensor and one area array sensor)

      式中 下標(biāo)M、L分別為面陣相機(jī)和線陣相機(jī)。式(16)為線(面)陣相機(jī)攝影時刻約束方程,由于線陣相機(jī)與面陣相機(jī)安裝在同一衛(wèi)星平臺上,因此,在同一攝影時刻 t,線陣相機(jī)與面陣相機(jī)具有相同的外方位元素。

      式(14)聯(lián)立的條件是線面陣相機(jī)對同一物點A在不同攝影時刻進(jìn)行攝影成像,需要注意線陣相機(jī)影像tax坐標(biāo)與時間t等價。如果面陣相機(jī)能夠形成連續(xù)立體模型(連續(xù)航向重疊)或單張影像覆蓋3個以上控制點,則可由面陣相機(jī)的攝影航帶進(jìn)行區(qū)域網(wǎng)平差或單片后交,從而計算得到面陣相機(jī)在某些攝影時刻的外方位元素,而且這些攝影時刻需要正確記錄,進(jìn)而利用式(16)進(jìn)行線(面)陣相機(jī)攝影時刻約束。由于式(14)為非線性系統(tǒng),需要采用牛頓迭代法平差求解,線性化后對于攝影區(qū)域的多個控制點及對應(yīng)的多個面陣影像及線陣條帶影像,會有如下線性化后的觀測方程組:

      式中 H為未知數(shù)向量;E為系數(shù)矩陣;L為觀測量;v為觀測量改正數(shù)。

      其中

      式(18)中,未知數(shù)H可以分為3類:1)面陣相機(jī)外方位元素(u為面陣相機(jī)鏡頭數(shù));2)線陣相機(jī)軌道模型參數(shù)(v為線陣相機(jī)鏡頭數(shù));3)物點物方坐標(biāo)(w為物點數(shù))。至此,平差精度(內(nèi)部精度)的評估可按最小二乘技術(shù)中的相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行;外部精度(檢查精度)按RMS計算而得。

      通過理論建模,本文提出了雙基高比線面陣結(jié)合立體測繪嚴(yán)格幾何模型,既可以解決線陣、面陣不同類型傳感器結(jié)合的測繪數(shù)據(jù)處理和高精度定位問題,也可以解決大、小基高比不同探測模式的數(shù)據(jù)處理和平差解算。

      2 基于仿真影像的雙基高比線面陣結(jié)合定位精度分析

      2.1 仿真場景建立

      本文利用 SE-Workbench軟件實現(xiàn)遙感器成像仿真過程中三維場景的構(gòu)建,利用軟件仿真模擬大、小基高比條件下光學(xué)遙感器的立體成像過程[14-15],采用高精度亞像素視差相關(guān)匹配處理方法處理過程,從仿真分析的角度驗證小基高比和雙基高比立體測繪的可行性,對雙基高比線面陣結(jié)合的立體測繪成像模式進(jìn)行研究。

      試驗采用的仿真場景如圖5所示,場景包含三維控制點21個,具有不同高度的城市建筑12組。影像分辨率為 0.3m?;谠搱鼍?,對五種成像模式進(jìn)行對比分析,分別為小基高比 0.05兩面陣相機(jī)成像模式、大基高比雙線陣兩相機(jī)聯(lián)合成像模式(基高比0.6)、大小基高比兩線陣一面陣三相機(jī)聯(lián)合成像模式、大小基高比四相機(jī)聯(lián)合聯(lián)合成像模式和線面陣兩相機(jī)聯(lián)合成像模式進(jìn)行了定位精度分析。從仿真途徑驗證雙基高比線面陣結(jié)合立體測繪嚴(yán)格幾何模型的正確性,分析不同測繪模式相對于傳統(tǒng)測繪方法的優(yōu)勢。

      圖5 控制場的控制點與檢查點點位分布情況Fig.5 The distribution of controls points and check points in control field

      2.2 小基高比0.05面陣試驗結(jié)果

      小基高比 0.05兩面陣相機(jī)成像模式的立體定位精度結(jié)果如表 1所示,對應(yīng)的像點量測精度為 1/20像元。

      表1 基高比0.05面陣相機(jī)立體定位檢查點精度統(tǒng)計(像點量測精度1/20像元)Tab.1 Stereo positioning accuracy of baseline 0.05 area array camera (matching in sub-pixel precisions)

      為了進(jìn)行不同像點量測精度對定位精度的影響研究,以高精度像點匹配為基礎(chǔ)(像點量測精度約1/20像元),加入高斯白噪聲,形成了量測精度在1/20~1/2像元范圍的6組不同的像點數(shù)據(jù),并進(jìn)行定位實驗檢查點的三維定位精度見表2。

      表2 不同像點匹配精度下基高比0.05面陣相機(jī)立體定位檢查點精度統(tǒng)計Tab. 2 Stereo positioning accuracy of baseline 0.05 area array camera(different matching precisions)

      從圖6可以看出,采用本文提出的嚴(yán)格幾何模型進(jìn)行小基高比解算,在匹配精度為1/20像元條件下,高程精度為0.886m。在基高比為0.05的條件下,隨著像對匹配精度的提高(1/20~1/2像元),導(dǎo)致視差精度的提高,高程精度明顯提高,但匹配精度的提高和高程精度的提高不是正比關(guān)系,匹配精度提高10倍,高程精度提高約1倍。該仿真試驗證明了嚴(yán)格幾何模型可以滿足小基高比條件下的數(shù)據(jù)處理和目標(biāo)三維定位。

      圖6 不同像點量測(匹配)精度下基高比0.05面陣相機(jī)立體定位檢查點精度統(tǒng)計Fig.6 Stereo positioning accuracy of baseline 0.05 area array camera in different matching precisions

      2.3 大小基高比線面陣結(jié)合相機(jī)方案優(yōu)選

      本文分析了4種不同的大小基高比線面陣結(jié)合成像方案,具體相機(jī)形式如圖7所示。

      圖7 4種大小基高比線面陣成像方案Fig.7 Diagram of four imaging plans of double baseline photogrammetry

      仿真結(jié)果得到4種大小基高比線面陣成像方案定位精度結(jié)果,如圖8所示。可以看出,單/雙線陣相機(jī)引入同等幅寬單/雙面陣,定位精度明顯提升,且定位精度相當(dāng);而單線陣引入等幅寬單面陣相機(jī)(基高比0.6),相機(jī)系統(tǒng)形式相對而言最為簡單,因此,一線陣一面陣兩相機(jī)聯(lián)合具有較明顯的優(yōu)勢。

      圖8 4種線面陣方案定位精度比較Fig.8 Comparison of four imaging plans of double baseline photogrammetry

      3 結(jié)束語

      本文以共線方程的嚴(yán)密成像理論為基礎(chǔ),將面陣中心投影共線方程和適用于線陣列影像的擴(kuò)展共線方程進(jìn)行整合,提出了雙基高比線面陣結(jié)合測繪方法,分析了系統(tǒng)誤差補(bǔ)償方法,建立了考慮系統(tǒng)誤差的聯(lián)合嚴(yán)格幾何成像模型,完成了基于仿真影像的雙基高比線面陣結(jié)合定位精度分析,初步研究表明:

      1)引入等幅寬面陣聯(lián)合平差,可提高線陣影像的內(nèi)部精度。

      2)相比雙線陣相機(jī),立體定位的精度和解算的可靠度明顯提高。采用亞像素高精度量測算法可進(jìn)一步提高定位精度。

      3)雙基高比線面陣相機(jī)可有效避免遮擋和死區(qū)對立體測繪的影響,對城市地區(qū)高大建筑物具有更好的量測性能,在提升定位精度的同時,兼顧了面陣正射影像等測繪產(chǎn)品的制作。

      4)單線陣相機(jī)引入同等幅寬單面陣(0.6基高比)的測繪模式,可以作為未來甚高精度測繪的有效解決途徑之一。

      5)通過仿真分析驗證了雙基高比線面陣結(jié)合立體測繪的傳感器嚴(yán)格幾何成像模型的正確性,該模型既可以解決線陣、面陣不同類型傳感器結(jié)合的測繪數(shù)據(jù)處理和高精度定位問題,也可以解決大、小基高比不同探測模式的數(shù)據(jù)處理和平差解算,為甚高精度航天測繪應(yīng)用提供理論依據(jù)。

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