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      泰克示波器的特性阻抗測試系統(tǒng)性能分析

      2015-11-12 06:23:14陳韻羽
      科技傳播 2015年18期
      關鍵詞:特性阻抗量具示波器

      陳韻羽

      四川建筑職業(yè)技術學院,四川德陽 618000

      泰克示波器的特性阻抗測試系統(tǒng)性能分析

      陳韻羽

      四川建筑職業(yè)技術學院,四川德陽 618000

      對于PCB生產(chǎn),傳輸線特性阻抗測量十分重要。阻抗測量系統(tǒng)性能好壞直接影響測量結果的好壞。論文使用測量系統(tǒng)分析方法中的方差分析法,根據(jù)GRR%、P/T%值、可區(qū)分類別數(shù)(ndc)以及量具R&R圖綜合評價系統(tǒng)好壞。據(jù)分析,測量系統(tǒng)穩(wěn)定,重復性和再現(xiàn)性好,測量系統(tǒng)變異較小。

      特性阻抗;測量系統(tǒng)分析;重復性;再現(xiàn)性

      隨著電子產(chǎn)品的迅速發(fā)展,電子產(chǎn)品設計系統(tǒng)的主頻越來越高,漸精細的工藝技術使得晶體管尺寸越來越小,因而器件的信號跳變沿也就越來越快,傳輸線的反射、時延、振鈴都會造成信號間串擾[1],從而更加嚴重地破壞高速數(shù)字電路系統(tǒng)信號的完整性。因此,電路板生產(chǎn)完成后,需要測量電路板傳輸線阻抗值,判定其是否符合相關規(guī)定,以滿足實際的生產(chǎn)需要。

      為了獲得更加可靠的阻抗值,需要對阻抗測量系統(tǒng)性能進行評估[2]。通常情況下使用過程控制的方法分析影響產(chǎn)品質(zhì)量的偶然因素,但是如果所用測量系統(tǒng)本身產(chǎn)生的誤差過大時,將會掩蓋過程控制時因偶然因素造成的誤差。為了避免造成上述情況發(fā)生,則需要對測量系統(tǒng)進行評價,使用測量系統(tǒng)分析(MSA Measurement System Analysis)方法進行評估[3]。本文僅對特性阻抗測量系統(tǒng)的重復性和再現(xiàn)性進行評價。

      1 數(shù)據(jù)測量要求

      1.1儀器校準

      在使用DSA8200示波器時,需要注意靜電保護,儀器開啟30min以后再進行測量。當儀器內(nèi)部溫度異常時,需要進行校準,該校準過程需要幾分鐘才能完成。直到儀器顯示溫度標示為綠色為止。

      1.2數(shù)據(jù)采集

      探針和待測試樣條的連接處由于阻抗不連續(xù),將會產(chǎn)生波動,波形過渡不平穩(wěn)。調(diào)整水平值,使整個試樣條的測量值鋪滿整個水平面,取波形中50%-70%(兩條綠線之間的范圍)獲得試樣條的平均阻抗值。

      2 測量具體步驟

      取12個試樣條,分成兩組進行測量:第一組均為50Ω試樣條6個,樣品編號1~6;第二組50Ω、75Ω、100Ω各兩個,樣品編號1~6。3個測量員A、B、C,分別對兩組試樣條重復測量3次,測量不分先后順序,隨機抽取,直到全部測量結束,3個測量員均不知道彼此的測量結果。

      3 系統(tǒng)性能分析

      測量系統(tǒng)分析中,通常使用的是量具的重復性和再現(xiàn)性(Gauge R&R,Gauge Repeatability and Reproducibility)評判系統(tǒng)性能的好壞[4]。對測量數(shù)據(jù)進行分析的方法通常有兩種:均值-極差法和方差分析法。兩種方法相比之下,方差分析法較優(yōu),能更準確地評估變差,可從實驗數(shù)據(jù)中得到更多的信息,使用于任何實驗。因此,本文采用方差分析法分析測量數(shù)據(jù)。

      3.1系統(tǒng)性能評價指標

      在IPC-TM-650中Measurement Precise Estimation Variables Data規(guī)定,若GRR%和P/T%處于10%-30%之間,測量系統(tǒng)可視情況接受,若均小于10%,測量系統(tǒng)狀況良好。根據(jù)特性阻抗測量的具體測量而言,兩項指標均小于30%便可接受。GRR%和P/T%計算公式如下所示

      除了上述兩個指標外,系統(tǒng)的可區(qū)分類別數(shù)ndc(the number of distinct categories)要大于等于5。ndc代表系統(tǒng)識別部件間差異的能力。

      3.2測量數(shù)據(jù)分析結果

      運用方差分析法,使用minitab軟件分析數(shù)據(jù),第一組測量50Ω試樣條的量具R&R結果如表1和表2所示。R&R(方差分析)圖如圖1所示。

      表1 第一組各分量方差及貢獻率

      過程公差=10

      表2 第一組各分量標準差及個變異貢獻率

      可區(qū)分的類別數(shù)=9

      第二組分別由50Ω、75Ω、100Ω試樣條各取兩個組成,經(jīng)分析,其量具R&R結果如表3和表4所示。R&R(方差分析)圖如圖2所示。

      表3 第二組各分量方差及貢獻率

      表4 第二組各分量標準差及個變異貢獻率

      可區(qū)分的類別數(shù)=481

      從兩組測量結果的極差控制圖中可得,所有點均落在控制上下限之間,說明測量系統(tǒng)穩(wěn)定,操作員使用量具的一致性很好。

      4 總結

      本文應用測量系統(tǒng)分析方法中的方差分析法,評價了基于泰克示波器的特性阻抗測試系統(tǒng)的性能。最終結果表明系統(tǒng)性能穩(wěn)定,測量系統(tǒng)誤差小,重復性和再現(xiàn)性等各個指標符合MSA的評價標準。同時測量的結果能夠滿足實際生產(chǎn)要求。

      [1]戴文,王芳,劉燕竹.高速數(shù)字電路PCB設計中的阻抗控制[J].電子技術應用,2006(06).

      [2]黃書偉,趙丹玲.PCB設計的阻抗控制與阻抗匹配[J].電子質(zhì)量,2005(04).

      [3]徐蘭.測量系統(tǒng)誤差分析研究[D].南京理工大學,2007.

      [4]董祺.測量系統(tǒng)分析方法的研究及應用[D].西安電子科技大學,2011.

      TN934

      A

      1674-6708(2015)147-0146-02

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