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      基于低壓線路電氣火災(zāi)的磁場(chǎng)研究性分析

      2017-07-08 07:47:50熊金鈴
      科技創(chuàng)新與應(yīng)用 2017年19期
      關(guān)鍵詞:磁通量磁場(chǎng)

      熊金鈴

      摘 要:由低壓線路的接觸不良造成電氣火災(zāi)的現(xiàn)象屢見(jiàn)不鮮,因此深化接觸不良研究是一項(xiàng)非常有意義的工作,文章通過(guò)有限元軟件對(duì)接觸不良實(shí)際情況進(jìn)行三維建模,研究結(jié)果表明:場(chǎng)強(qiáng)與磁場(chǎng)強(qiáng)度、磁通量密度隨著接觸不良的局部微間隙增大而減小,但磁場(chǎng)強(qiáng)度與磁通量密度變化幅度相對(duì)場(chǎng)強(qiáng)變化幅度較小。

      關(guān)鍵詞:接觸不良;磁場(chǎng);磁通量;微間隙

      中圖分類(lèi)號(hào):TM726.2 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A 文章編號(hào):2095-2945(2017)19-0195-02

      引言

      現(xiàn)實(shí)低壓線路中接觸不良是固然存在的, 連結(jié)不牢,施工中不按規(guī)定接線,隨意扭接,即造成電接觸先天性接觸不良。同時(shí),金屬材料的熱膨脹系數(shù)因材質(zhì)不同而不同以及電阻率的不同,從而造成銅、鋁接頭處因熱脹冷縮程度不同而松動(dòng)(鋁的膨脹系數(shù)比銅大),即使是同種材料連接,在通過(guò)大電流(超載)時(shí)也會(huì)發(fā)生這種現(xiàn)象。另外,長(zhǎng)期的運(yùn)行,對(duì)電器及線路的接點(diǎn)不檢修檢測(cè),從而使觸點(diǎn)受震動(dòng)而發(fā)生觸點(diǎn)松動(dòng)。

      1 低壓線路放電

      低壓電弧故障是導(dǎo)致電氣火災(zāi)的重要原因之一。傳統(tǒng)的斷路器和保險(xiǎn)絲在過(guò)流保護(hù)和短路保護(hù)方面可以起到非常有效的作用,但調(diào)研結(jié)果表明很多火災(zāi)事故中斷路器并沒(méi)有動(dòng)作,不能有效防止低電流電弧故障導(dǎo)致的火災(zāi)。電纜損壞后產(chǎn)生間斷的飛濺電弧,其電流特性并不能導(dǎo)致通常的有效值檢測(cè)裝置斷開(kāi)電路,因?yàn)檫@些故障的有效值遠(yuǎn)低于保護(hù)裝置的整定過(guò)載C-T曲線;當(dāng)有可燃材料存在時(shí),電弧反復(fù)持續(xù)發(fā)生并最終導(dǎo)致火災(zāi),目前大數(shù)實(shí)驗(yàn)室使用的局部放電檢測(cè)儀,進(jìn)行檢測(cè)其放電量,進(jìn)一步來(lái)判斷其放電量大小來(lái)分析接觸不良而引起的放電火花情況。

      2 局放耦合電容器與輸入單元

      輸入單元是將放電試驗(yàn)回路中的放電信息檢測(cè)出來(lái)的重要單元,也稱(chēng)檢測(cè)阻抗。本輸入單元采用高頻變壓器的雙調(diào)諧式輸入單元,初次級(jí)均為L(zhǎng)CR回路,其初級(jí)電感量在局放儀的放大器頻帶內(nèi)與試驗(yàn)電路的等效電容相調(diào)諧。適當(dāng)?shù)倪x擇輸入單元可獲得較佳的檢測(cè)靈敏度,檢測(cè)阻抗的選擇原則是保證LCR檢測(cè)回路的諧振頻率落在所選擇的放大器頻帶內(nèi)。本課題選擇的檢測(cè)阻抗為2號(hào)單元,調(diào)諧電容范圍25~100~400Pf,靈敏度0.04Pc,允許電流有效值:不平衡電路50mA,平衡電路0.5A。

      數(shù)字示波器采用TEK公司的產(chǎn)品。產(chǎn)品型號(hào)為T(mén)DS2012B;該型號(hào)產(chǎn)品具有2通道,每個(gè)通道有2500點(diǎn)記錄長(zhǎng)度,帶寬為100MHZ,采樣速率為1.0GS/s,彩色顯示且有用于文件存儲(chǔ)的USB閃存驅(qū)動(dòng)端口。

      3 接觸不良放電

      因?qū)嶋H接頭接觸面狀況往往不規(guī)則,其接觸面導(dǎo)體間電場(chǎng)分布可認(rèn)為是不均勻電場(chǎng)。針板電極間電場(chǎng)同樣是一種不均勻的電場(chǎng),兩者在模型構(gòu)造和放電原理上具有很大的相似性。在導(dǎo)體正常載流量下針形電極尖端附近的電流密度較大,電力線較為集中,其電場(chǎng)強(qiáng)度也是最高,在針板電極間出現(xiàn)接觸不良放電,其針電極的尖端即開(kāi)始出現(xiàn)電暈放電的亮點(diǎn),極間開(kāi)始出現(xiàn)空氣放電現(xiàn)象,進(jìn)而空氣間隙被全部擊穿進(jìn)入自持放電階段?;谝陨戏治霰菊撐哪M考慮采用針板電極作為接觸不良放電模型。

      4 局放接觸不良物理模型仿真

      有限元思想(FEM)是先將待求微分議程數(shù)學(xué)模型——邊值問(wèn)題轉(zhuǎn)化為的變分問(wèn)題即函數(shù)求極值問(wèn)題,再用剖分插值和離散轉(zhuǎn)化為普通多遠(yuǎn)函數(shù)的極值問(wèn)題,最終歸結(jié)一組多元代數(shù)方程組,電磁場(chǎng)(包括靜電場(chǎng)、恒定電場(chǎng)、靜磁場(chǎng)等)的求解都可視為從麥克斯韋方程出發(fā),用偏微分議程和定解條件描述的邊值問(wèn)題求解。其邊值問(wèn)題為:

      式中,V為求解域,T為求解域邊界。

      5 接觸不良的場(chǎng)強(qiáng)基本探討

      現(xiàn)實(shí)生活中低壓220V線路大多以銅、鋁絞線鋪設(shè),因不牢固連結(jié)、扭接、不按規(guī)定接線、金屬材料的熱膨脹系數(shù)及各電阻率的不同等若干因素造成接觸不良后,則接觸電阻明顯的增大,進(jìn)步在接觸部位形成高溫,對(duì)于銅導(dǎo)線來(lái)說(shuō)即發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成Cu2O(鋁導(dǎo)線則生成Al2O3),其導(dǎo)電性能很差,氧化膜的厚度隨時(shí)間成正比例增加,接觸電阻也成倍增加,如此應(yīng)激效應(yīng)導(dǎo)致銅線表面發(fā)生嚴(yán)重氧化、碳化,金屬的本質(zhì)屬性緩慢發(fā)生改變,導(dǎo)電性能逐漸變?nèi)?。其求解模型如圖1:

      6 接觸不良的磁場(chǎng)分析

      為了研究接觸不良情況下,銅導(dǎo)線周邊磁場(chǎng)分布情況,通過(guò)查找相關(guān)資料得到汞、銀、銅、碳、鉛等均為抗磁性物質(zhì),其相對(duì)磁導(dǎo)率都小于1,設(shè)銅磁導(dǎo)率為0.99991,而空氣為1.00000004,碳化物、氧化物為0.999979,計(jì)算模型仍采用圖1模型,通過(guò)賦予各材料屬性后,導(dǎo)入氧、碳化前后程序進(jìn)行求解,發(fā)現(xiàn)磁場(chǎng)強(qiáng)度(H)數(shù)值基本不變,對(duì)應(yīng)極值相差僅為0.06%。

      另外,分析銅導(dǎo)線與板間不同微間隙條件下對(duì)磁場(chǎng)強(qiáng)度與磁通量密度的影響,記錄不同微間隙下磁場(chǎng)強(qiáng)度(H)、磁通量密度(B)數(shù)值,見(jiàn)表1。

      由表1知,低壓線路的接觸不良的局部微間隙對(duì)磁場(chǎng)強(qiáng)度、磁通量密度存在一定影響,微間隙較小時(shí),對(duì)應(yīng)磁場(chǎng)強(qiáng)度與磁通量密度數(shù)值較大,微間隙1mm對(duì)應(yīng)10mm的磁場(chǎng)強(qiáng)度、磁通量密度數(shù)值分別高8.33%、10.4%。可知,磁場(chǎng)強(qiáng)度與磁通量密度的變化規(guī)律亦可以在某一角度上來(lái)反映線路接觸不良的情況。

      7 接觸不良部位微間隙場(chǎng)強(qiáng)分析

      低壓線路上的接觸不良大多是扭接、松動(dòng)、氧碳化等造成的,有的時(shí)候兩導(dǎo)線間僅僅一根細(xì)絲銅線牽連一起實(shí)現(xiàn)電路的導(dǎo)通,有時(shí)兩接觸松動(dòng)造成局部微間隙,在微間隙內(nèi)部穩(wěn)定的放電維持電路的導(dǎo)通,或兩接觸面通過(guò)導(dǎo)電污穢膜實(shí)現(xiàn)連通,這些 “假連通”現(xiàn)象人肉眼不好觀察判斷,則會(huì)火災(zāi)留下了無(wú)窮的隱患。但是這些若從微觀的角度出發(fā),如電場(chǎng)的數(shù)值大小、變化率等則可以對(duì)“假連通”的判斷提供一定的參考依據(jù)。因此,對(duì)接觸不良不同的微間隙建模,導(dǎo)入10個(gè)接觸不良的APDL程序,求出各種不同微間隙條件下場(chǎng)強(qiáng)數(shù)值大小,見(jiàn)表2(單位:v/mm)。

      表2比較得,場(chǎng)強(qiáng)隨著接觸不良處局部微間隙的增大而對(duì)應(yīng)減小,間隙為1mm時(shí),場(chǎng)強(qiáng)數(shù)值最大,達(dá)到111.19V/mm,若此接觸不良處于重要通訊等設(shè)施柜內(nèi),則產(chǎn)生嚴(yán)重的場(chǎng)強(qiáng)干擾,對(duì)電磁波產(chǎn)生擾動(dòng),影響通訊質(zhì)量,而隨著微間隙的增大,場(chǎng)強(qiáng)值逐漸減小。

      8 結(jié)束語(yǔ)

      當(dāng)?shù)蛪壕€路電流增大的過(guò)程中,特別是有電容性負(fù)載時(shí),導(dǎo)體接觸面無(wú)空氣間隙接觸不會(huì)發(fā)生接觸不良放電,而只在有空氣間隙時(shí)會(huì)出現(xiàn)火花放電現(xiàn)象,這也是間隙放電的根源,也是家庭或者是相關(guān)公共場(chǎng)所發(fā)生火災(zāi)的一大概率的因素,本文為實(shí)踐工程中作了廣泛的參考意義。

      參考文獻(xiàn):

      [1]司戈.我國(guó)建筑電氣火災(zāi)的現(xiàn)狀、問(wèn)題和防控對(duì)策[J].建筑電氣,2008,10:28-30.

      [2]張學(xué)楷.低壓線路常見(jiàn)電氣火災(zāi)原因分析認(rèn)定及預(yù)防措施研究[D].重慶大學(xué),2005.

      [3]Kim Dong-Ook,Kim Hyang-Kon, Shong Kil-Mok, Choi Chung-Seog.The properties of oxidation growth and overheating by poor contact[C] Proceedings of the 8th international Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials, 2006: 392-395.

      [4]Choi Chung-Seog, Kim Hyang-Kon, Kim Dong-Ook.The properties variation of PVC insulated plug damaged by poor contact[C].Proceedings of the7th international Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials, 2003: 431-434.

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