張先鋒,王恒遠(yuǎn),趙 政,魏 李
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所,安徽 合肥230088)
星載雷達(dá)等電子設(shè)備作為衛(wèi)星的重要有效載荷,對(duì)其重量和體積有著嚴(yán)苛的要求。為此,隨著微電子技術(shù)不斷進(jìn)步以及新材料、新工藝的應(yīng)用,新一代航天電子載荷呈現(xiàn)集成化、多功能化、輕量化的發(fā)展態(tài)勢(shì)[1-2]。
衛(wèi)星在軌運(yùn)行過(guò)程中,需面臨真空、超低溫以及劇烈變化的外熱流等復(fù)雜空間熱環(huán)境,且電子設(shè)備自身的發(fā)熱量變化也很大,需采取有效的熱控手段,來(lái)保證電子設(shè)備從低溫到高溫所有工況均處于合適的溫度,確保設(shè)備高溫工況下不超過(guò)最高溫度,低溫工況時(shí)不低于低溫設(shè)計(jì)極限。電加熱器作為航天器熱控中最常用的主動(dòng)熱控手段,主要用于電子設(shè)備在低溫條件下溫度補(bǔ)償,即當(dāng)設(shè)備溫度過(guò)低時(shí),通過(guò)電加熱來(lái)提高設(shè)備溫度,使之滿足低溫設(shè)計(jì)要求[3]。目前,通常采用薄膜型電加熱器對(duì)航天電子設(shè)備進(jìn)行補(bǔ)償加熱,一般通過(guò)膠結(jié)方式裝配到設(shè)備中,同時(shí)還需要預(yù)留空間用于加熱器附屬部件的集成,其不利于新一代電子設(shè)備載荷的集成化、小型化設(shè)計(jì)?;跈C(jī)電熱耦合的一體化設(shè)計(jì)是解決上述問(wèn)題的有效手段之一[4],即將電加熱器與電子設(shè)備結(jié)構(gòu)或其他功能件集成設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)熱控部件與功能件一體化。尹可等[5]嘗試在印制板內(nèi)集成采用銅箔布線的加熱電路,用于某機(jī)載電子控制器的低溫補(bǔ)償加熱,以減小電子控制器機(jī)箱的重量和體積。而隨著電子設(shè)備向多功能化發(fā)展,印制板集成密度不斷提升,采用銅箔布線的加熱電路占用面積較大,無(wú)法有效滿足設(shè)備板級(jí)高密度組裝及布線的要求。
本文設(shè)計(jì)了一種基于薄膜電阻的自加熱式印制板,通過(guò)在高密度組裝的多層印制板中設(shè)置的熱控功能層中埋置薄膜電阻,用于印制板自身的補(bǔ)償加熱,實(shí)現(xiàn)電加熱器與印制板集成化設(shè)計(jì),滿足星載電子設(shè)備低溫時(shí)的溫控需求?;谠撍悸罚_(kāi)展了自熱式印制板加熱電路布局、結(jié)構(gòu)參數(shù)分析與優(yōu)化研究,研制了相應(yīng)的樣件,完成了樣件的加熱性能實(shí)驗(yàn)研究。
圖1為自熱式印制板的結(jié)構(gòu)示意圖,該印制板為多層印制板,由絕緣材料、介質(zhì)材料,以及相關(guān)電路和器件等復(fù)合而成。根據(jù)需要在各層設(shè)計(jì)相關(guān)電路以及埋置相關(guān)器件,設(shè)置相應(yīng)的功能層,如網(wǎng)絡(luò)層、接地層等。本文所設(shè)計(jì)的自熱式印制板,除了上述電性能的功能層外,還設(shè)置具備加熱功能的熱控功能層,即在印制板的中間層設(shè)計(jì)加熱電路,埋置加熱電阻,用于印制板低溫時(shí)的補(bǔ)償加熱。
圖1 自熱式印制板構(gòu)型示意
本文針對(duì)某微波多層印制板,開(kāi)展了加熱電路設(shè)計(jì)。在該印制板中,各類功率器件集成到印制板的頂層表面,根據(jù)不同類型器件的布局,劃分了多個(gè)大小相同的子區(qū)域。受電性能指標(biāo)限制,電子設(shè)備在工作過(guò)程中要求印制板上各類器件具有良好的溫度一致性,這里要求印制板頂面溫度分布均勻[6]。
本文在熱控功能層設(shè)計(jì)了加熱電路,通過(guò)埋置薄膜方塊電阻作為加熱電阻,實(shí)現(xiàn)自加熱功能,用于電子設(shè)備低溫時(shí)的補(bǔ)償加熱。該電阻具有穩(wěn)定性好、電阻溫度系數(shù)低和工藝成熟等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于各類高頻、高密度印制板中[7]。加熱電路的設(shè)計(jì)是以印制板的子區(qū)域?yàn)榛A(chǔ)開(kāi)展的,設(shè)計(jì)時(shí)需結(jié)合加熱功率需求,綜合考慮印制板電路布局、加熱電路主備份、加熱供電特性和溫控區(qū)域溫度均勻性等因素。
為了評(píng)估自熱式印制板加熱性能,對(duì)其開(kāi)展仿真優(yōu)化設(shè)計(jì)。在熱分析建模過(guò)程中,假設(shè)印制板中各子區(qū)域的大小和結(jié)構(gòu)布局均一致,所以僅對(duì)單個(gè)子區(qū)域進(jìn)行分析。仿真模型如圖2所示,熱控層位于靠近印制板底層的區(qū)域,頂層表面為溫控區(qū)域。熱控層與底層之間無(wú)接地層,其距離為0.35 mm,假設(shè)導(dǎo)熱系數(shù)為0.6 W/(m·K),且各向同性。熱控層和頂層之間有多個(gè)功能層,包含多個(gè)接地層,距離為h,該區(qū)域?qū)嵯禂?shù)受印制板接地層電路布局影響。在熱控層內(nèi)均勻布置共m×n個(gè)加熱電阻(m為電阻行數(shù)、n為電阻列數(shù)),每個(gè)子區(qū)域的尺寸為42 mm×42 mm,加熱總功率為0.35 W。在仿真過(guò)程中,每個(gè)子區(qū)域X向、Y向邊界為周期性邊界,頂層和底層為絕熱邊界,環(huán)境溫度設(shè)為20 ℃。
圖2 仿真模型
由于加熱電阻分散布置印制板中,在補(bǔ)償加熱過(guò)程中印制板存在溫度不一致的現(xiàn)象,這里將采用溫度均勻性來(lái)評(píng)判,其定義印制板溫控區(qū)域表面溫度的最大值和最小值之差為ΔT1。通常情況下,星載產(chǎn)品在真空熱試驗(yàn)系統(tǒng)中要求溫度測(cè)量精度為0.30 ℃,因此本文要求電加熱過(guò)程中溫控區(qū)域溫度均勻性優(yōu)于該測(cè)溫精度,即印制板溫控區(qū)域溫度差ΔT1≤0.30 ℃。
另外,印制板在補(bǔ)償加熱過(guò)程中,加熱電阻區(qū)域溫度高于其他區(qū)域,導(dǎo)致印制板內(nèi)存在局部熱點(diǎn),需要對(duì)此溫度差異進(jìn)行關(guān)注,這里定義ΔT2為加熱電阻與印制板溫控區(qū)域的溫度差。
圖3給出了工作5 min后印制板頂層和底層的表面溫度分布。該印制板中在每個(gè)子區(qū)域內(nèi)設(shè)置有4×3個(gè)加熱電阻,每個(gè)加熱電阻的尺寸為2 mm×2 mm,熱控層到頂層厚度h為2 mm,該區(qū)域水平方向等效導(dǎo)熱系數(shù)Kxy和垂直方向等效導(dǎo)熱系數(shù)Kz分別為5 W/(m·K)和0.6 W/(m·K)。由圖3可知,在工作5 min后,頂層的最高溫度為32.70 ℃,溫差ΔT1=0.25 ℃,底面最高溫度為37.60 ℃,該面的溫差達(dá)5.20 ℃。可見(jiàn),對(duì)于印制板頂面區(qū)域,由于有接地層中有覆銅層,在Kxy較大時(shí),擴(kuò)熱效果較好,頂面(即溫控區(qū)域)的溫度一致性較好,而熱控層與底面的區(qū)域XY向?qū)嵯禂?shù)較小,相應(yīng)的底面溫度一致性較差。
圖3 印制板表面溫度分布
圖4為不同時(shí)刻各個(gè)部分的溫度差異,可見(jiàn),頂層表面溫度差ΔT1以及溫控區(qū)域與加熱電阻的溫度差ΔT2,在加熱過(guò)程中隨時(shí)間變化很小,在工作5 min后,加熱電阻的最高溫度達(dá)到37.90 ℃,與底面最高溫度相當(dāng)。
圖4 不同時(shí)刻的溫度差異
印制板中,器件位置、過(guò)孔布置等制約加熱電阻及電路布局設(shè)計(jì),而印制板材料的選擇和接地電路的布局等將影響印制板的導(dǎo)熱性能。這些均直接影響溫控區(qū)域的均溫特性,需進(jìn)行優(yōu)化分析和評(píng)估。
表1為不同條件下印制板溫控區(qū)域溫度差,這里基于h=2 mm,分別考慮了4×4、4×3、3×3、3×2和2×2等5種布局下,Kxy由1 W/(m·K)增大到12 W/(m·K)時(shí)的印制板溫度分布狀況。可見(jiàn),在相同的Kxy下,加熱電阻布置得越多,溫控區(qū)域的均溫性越好。而相同布局時(shí),Kxy越大,印制板溫控區(qū)域的均溫性越好,頂層表面溫度的差異越小。
表1 不同布局下溫控區(qū)域溫度差(ΔT1)
圖5為不同條件下溫控區(qū)域和加熱電阻的溫差(ΔT2)的變化情況,可見(jiàn),在相同Kxy下,加熱電阻數(shù)量越多,ΔT2越小。相同布局時(shí),加熱電阻布置得越密,ΔT2隨Kxy變化越小。如在子區(qū)域內(nèi)4×4布局時(shí),Kxy由1 W/(m·K)增大到12 W/(m·K)時(shí),ΔT2由4.60 ℃減小到3.80 ℃,而2×2布局時(shí),ΔT2由18.50 ℃減小到15.20 ℃。
印制板垂直方向?qū)嵯禂?shù)(Kz)對(duì)加熱性能的影響情況如圖6所示。由圖6可知,隨著Kz增大,加熱電阻產(chǎn)生的熱量快速往印制板頂面?zhèn)鬟f,這導(dǎo)致頂面區(qū)域溫度差異不斷增大,而加熱電阻和頂面的溫差不斷減小。當(dāng)Kz由0.15 W/(m·K)增至5 W/(m·K)時(shí),ΔT1由0.06 ℃增大到0.69 ℃,ΔT2由7.90 ℃減小到3.90 ℃。
圖5 不同布局下ΔT2隨導(dǎo)熱性能變化情況
圖6 不同Kz時(shí)的ΔT1和ΔT2
圖7為不同加熱電阻大小下印制板加熱性能的變化情況,分別考慮加熱電阻大小為1 mm×1 mm和2 mm×2 mm的2種情況??梢?jiàn),隨著加熱電阻尺寸的增大,溫控區(qū)域與加熱電之的溫差ΔT2不斷減小,而溫控區(qū)域溫差ΔT1的變化卻很小。這是由于在加熱功率一定時(shí),隨著加熱電阻尺寸的增大,加熱電阻局部區(qū)域熱流密度減小,相應(yīng)的溫度也會(huì)較低,其和頂面的溫差隨之減小,而頂面溫控區(qū)域的溫差ΔT1主要受印制板布局和導(dǎo)熱性能影響,變化很小。
圖7 加熱電阻大小對(duì)加熱性能影響
圖8為不同h時(shí)印制板加熱性能的變化情況??梢?jiàn),隨著h增大,頂面溫控區(qū)域溫度差異不斷減小,而加熱電阻和頂面的溫差不斷增大。當(dāng)h由1 mm增大到2.5 mm時(shí),ΔT1由1.45 ℃減小到0.15 ℃,ΔT2由4.70 ℃增大到5.60 ℃。
圖8 不同h時(shí)的ΔT1和ΔT2
通過(guò)上述分析可知,自熱式印制板在加熱過(guò)程中,加熱電阻相對(duì)其他區(qū)域的存在較大溫差,該溫差將會(huì)導(dǎo)致印制板內(nèi)部產(chǎn)生熱變形,需評(píng)估其對(duì)印制板力學(xué)特性的影響。為此,本文基于加熱電阻的自熱式印制板,開(kāi)展了力學(xué)仿真分析。針對(duì)圖2所示的多層印制板進(jìn)行建模,由于在印制板內(nèi)部,加熱電阻為均勻分布,所以在對(duì)仿真模型進(jìn)行簡(jiǎn)化時(shí),仿真區(qū)域取以單個(gè)2 mm×2 mm加熱電阻為中心的10.5 mm×10.5 mm區(qū)域,并考慮了不同ΔT2溫差下印制板的力學(xué)特性。
表2為不同ΔT2下印制板的最大變形和最大應(yīng)力情況??梢?jiàn),在印制板自加熱過(guò)程中,隨著加熱電阻與熱區(qū)域溫差ΔT2的增大,印制板內(nèi)的最大變形和應(yīng)力呈線性增大,當(dāng)ΔT2=20.00 ℃時(shí),最大變形為3 μm,最大應(yīng)力為17.7 MPa,可滿足在安全系數(shù)為1.5時(shí)安全裕度要求[8]。
表2 不同ΔT2下印制板力學(xué)特性
在自熱式印制板設(shè)計(jì)時(shí),需對(duì)印制板電路及加熱電阻布局、結(jié)構(gòu)參數(shù)等進(jìn)行優(yōu)化,使得印制板加熱性能需滿足溫控區(qū)域溫度均勻性,同時(shí)應(yīng)盡量減小加熱電阻與其他區(qū)域的溫差,降低印制板內(nèi)部熱變形及熱應(yīng)力。
本自熱式印制板樣件共有12層,各層功能分布如圖9所示。其中,有4層接地層,頂層為表面覆銅,第9層為熱控層,在42 mm×42 mm的子區(qū)域內(nèi)按3×4方式布置加熱電阻,電阻為2 mm×2 mm的薄膜方阻,介質(zhì)板材料為CLTE-XT?;谠摻Y(jié)構(gòu),熱控層與頂層之間區(qū)域的等效導(dǎo)熱系數(shù)Kxy和Kz分別為8 W/(m·K)和0.5 W/(m·K),熱控層與頂層之間區(qū)域的導(dǎo)熱系數(shù)為0.5 W/(m·K)。
圖9 印制板樣件各功能層分布
針對(duì)印制板樣件,開(kāi)展了加熱性能測(cè)試,采用紅外測(cè)溫儀分析對(duì)頂面和底面的溫度進(jìn)行了監(jiān)測(cè),結(jié)果如圖10所示。
圖10 印制板溫度分布
圖10為工作5 min后印制板表面的溫度分布,其測(cè)試條件如下:初始溫度為17.50 ℃,加熱功率按面平均200 W/m2的熱流密度進(jìn)行加載。分析圖10可知,在印制板的頂面即溫控區(qū)域,由于內(nèi)部接地層覆銅的均熱作用,溫度場(chǎng)差異為0.50 ℃(圖中27.90 ℃點(diǎn)為印制板過(guò)孔區(qū)域),而在底面溫度差異較大,約為5.00 ℃,和2.1節(jié)溫度分布趨勢(shì)基本一致,但和表1對(duì)應(yīng)的仿真分析結(jié)果相比,頂面的溫度一致性相對(duì)較差。這是由于在測(cè)試過(guò)程中,空氣對(duì)流作用以及紅外測(cè)溫儀測(cè)試誤差等原因?qū)е碌摹?/p>
本文通過(guò)在多層印制板中埋置高效的加熱電阻,設(shè)計(jì)了一種自熱式印制板,以滿足高密度集成的星載電子設(shè)備補(bǔ)償加熱需求?;跀?shù)值仿真分析了自熱式印制板電路及加熱電阻布局、導(dǎo)熱性能、結(jié)構(gòu)參數(shù)等對(duì)加熱性能的影響規(guī)律,評(píng)估了加熱過(guò)程對(duì)印制板力學(xué)特性的影響情況,并完成樣件研制和試驗(yàn)驗(yàn)證。研究結(jié)果顯示,自熱式印制板在設(shè)計(jì)時(shí),除保證溫控區(qū)域的溫度均勻性外,還需關(guān)注加熱電阻與溫控區(qū)域的溫度差異,以控制印制板內(nèi)部的熱變形及熱應(yīng)力。本研究結(jié)論對(duì)指導(dǎo)其他集成加熱功能的一體化部件設(shè)計(jì)也具有借鑒意義。