涂平,李娟,王駿,王良波,黃禮麗,易分
(四川化工職業(yè)技術(shù)學(xué)院, 四川 瀘州 646300)
粉煤灰是燃煤熱電廠煙道收集的一種粉末,顆粒大小范圍1~100 μm。粉煤灰對(duì)于燃煤熱電廠和社會(huì)而言是一種固體廢棄物,只會(huì)增加管理成本和環(huán)境問(wèn)題。常規(guī)的粉煤灰處理方式有制作水泥、肥料[1-3],以及回收其中的微量金屬。不同燃煤熱電廠的粉煤灰品質(zhì)是有差異的,共同點(diǎn)是都含有大量的SiO2、三氧化二鋁[4],是合成分子篩的主要原料,分子篩具有很大的經(jīng)濟(jì)價(jià)值和社會(huì)價(jià)值。所以本文把粉煤灰合成A 型分子篩[5-9],擴(kuò)展粉煤灰的一種處理方式。在合成反應(yīng)中,原料配比是重要影響因素之一,另外一個(gè)重要影響因素就是合成的環(huán)境條件。合成的環(huán)境條件主要包括溫度、時(shí)間,本文圍繞這兩個(gè)因素進(jìn)行精細(xì)的研究和分析。
本文用的粉煤灰來(lái)自于某燃煤電廠,分析其主要化學(xué)成分為SiO250.51%、Al2O322.32%、Fe2O35.6%、CaO 3.25%。合成方法是水熱合成法[10-12],在不銹鋼聚四氟內(nèi)襯水熱反應(yīng)釜中進(jìn)行,合成工藝路線如圖1。
圖1 A 型分子篩合成工藝路線
本文用SEM 對(duì)樣品進(jìn)行晶粒形貌、晶粒大小的分析,用XRD 分析A 型分子篩產(chǎn)物的相對(duì)結(jié)晶度。
標(biāo)準(zhǔn)商品分子篩的結(jié)晶度為100%,A 型分子篩產(chǎn)物相對(duì)結(jié)晶度的計(jì)算:
式中:Xc—A 型分子篩產(chǎn)物的相對(duì)結(jié)晶度,% ;
X0—標(biāo)準(zhǔn)商品分子篩的結(jié)晶度,%;
Ic—A 型分子篩產(chǎn)物某晶面( hkl)的衍射強(qiáng)度;
I0—標(biāo)準(zhǔn)商品分子篩某晶面( hkl)的衍射強(qiáng)度[13]。
在硅鋁比(SiO2/Al2O3,摩爾比)為2,鈉硅比(Na2O/SiO2,摩爾比)為2.5,NaOH 濃度0.66 mol·L-1,晶化溫度為100 ℃的條件下,分別晶化4 h、6 h、8 h、10 h、12 h 和15 h 考察其相對(duì)結(jié)晶度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果見(jiàn)表1。
表1 不同晶化時(shí)間下相對(duì)結(jié)晶度測(cè)定結(jié)果
圖2 為不同晶化時(shí)間下的XRD 圖譜。
圖2 不同晶化時(shí)間下的XRD 圖譜
從XRD 中可以看出,在經(jīng)過(guò)4 h 的晶化反應(yīng)后,就已經(jīng)產(chǎn)生了部分的A 型分子篩,當(dāng)隨著晶化時(shí)間的增長(zhǎng),合成產(chǎn)品中的相對(duì)結(jié)晶度也隨之增加。然而在晶化6~10 h 之間,隨著晶化時(shí)間的遞增,對(duì)相對(duì)結(jié)晶度的影響并不明顯。當(dāng)晶化時(shí)間超過(guò)10 h 以后隨著晶化時(shí)間的增長(zhǎng),相對(duì)結(jié)晶度再一次的遞增,這是因?yàn)槎纬珊说挠绊?。?jīng)過(guò)一段時(shí)間的晶化,反應(yīng)體系中除了硅源與鋁源以外,還存在著大量的分子篩晶體,此時(shí)的分子篩晶體就起著母晶的作用,在一定濃度的硅鋁條件下二次成核,因此相對(duì)結(jié)晶度會(huì)再一次的增加。
在硅鋁比(SiO2/Al2O3,摩爾比)為2,鈉硅比(Na2O/SiO2,摩爾比)為2.5,NaOH 濃度0.66 mol·L-1,晶化時(shí)間為12 h 的條件下,晶化溫度分別為90 ℃、95 ℃、100 ℃、105 ℃和110 ℃下考察其相對(duì)結(jié)晶度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果見(jiàn)表2。
表2 不同晶化溫度下結(jié)晶度測(cè)定結(jié)果
從表2 可知,在90 ℃到100 ℃時(shí),隨著晶化溫度的升高,相對(duì)結(jié)晶度也隨之增加。當(dāng)晶化溫度在100 ℃到110 ℃之間時(shí),隨著晶化溫度的遞增,相對(duì)結(jié)晶度反而降低。當(dāng)溫度較高時(shí),常會(huì)有雜晶生成[14-15]。因?yàn)锳 型分子篩在溫度較高的堿性環(huán)境中會(huì)部分溶解,因此當(dāng)超過(guò)一定溫度時(shí),相對(duì)結(jié)晶度會(huì)降低。
圖3 為不同晶化時(shí)間下的XRD 圖譜。
圖3 不同晶化時(shí)間下的XRD 圖譜
對(duì)比圖4 的SEM 照片,晶化4 h 只有少量的形狀規(guī)則的晶體,其余的大多都還是晶核的形式存在;晶化6 h 的出現(xiàn)了大量的晶體,結(jié)晶狀態(tài)較好,晶體形狀也較規(guī)則,仍然存在一些還沒(méi)有長(zhǎng)大的晶體;晶化8 h 出現(xiàn)的晶體結(jié)晶狀態(tài)較好,晶體形狀規(guī)則,粒徑較大,分散度也較好,與4A 型商品分子篩類似;晶化10 h 出現(xiàn)的晶體結(jié)晶狀態(tài)較好,晶體形狀較規(guī)則,分散度也較好,但是已經(jīng)出現(xiàn)了團(tuán)聚現(xiàn)象,有少量的1 μm 微球出現(xiàn);在晶化15 h 后,雖然晶體的形狀規(guī)則,粒徑較大,但是團(tuán)聚現(xiàn)象更嚴(yán)重微球逐漸長(zhǎng)大,呈現(xiàn)毛線團(tuán)的微球。因?yàn)樵诰Щ瘯r(shí)間過(guò)長(zhǎng)的體系中有利于更穩(wěn)定的NaP 分子篩[16]和NaX 型分子篩的形成,所以在圖中呈現(xiàn)的微球以及毛線團(tuán)可能都是形成NaP 分子篩和NaX 型分子篩的前軀體。
圖4 不同晶化時(shí)間下的SEM 照片
在不同的晶化時(shí)間下合成A 分子篩產(chǎn)物的粒徑分布曲線如圖5 所示。
圖5 不同晶化時(shí)間下NaA 型分子篩的粒徑分布曲線
從圖中可以看出晶化時(shí)間為4 h 的平均粒徑為13.19 μm,20 μm 以下的含有77.68%;晶化時(shí)間為6 h 的平均粒徑為14.77 μm,20 μm 以下的含有74.76%;晶化時(shí)間為8h 的平均粒徑為18.78 μ m,20 μm 以下的含有60.49%;晶化時(shí)間為10 h的平均粒徑為 21.83μm,20μm 以下的含有46.12%;晶化時(shí)間為15 h 的平均粒徑為24.51μm,20μm 以下的含有43.52%。從以上可知,隨著晶化時(shí)間的增加,晶體顆粒也呈現(xiàn)遞增的趨勢(shì)。與圖4的SEM 照片上的一致。
本文探究了不同環(huán)境下粉煤灰合成A 型分子篩。晶化時(shí)間是一個(gè)很重要的影響因素,晶化時(shí)間不夠會(huì)導(dǎo)致晶體長(zhǎng)不大,粒徑較小,晶體形狀不規(guī)則等,而晶化時(shí)間過(guò)長(zhǎng)會(huì)導(dǎo)致A 型分子篩產(chǎn)物部分溶解轉(zhuǎn)化生成其他雜晶,從而使得合成的產(chǎn)品不純。本文最最優(yōu)的條件是:晶化溫度100 ℃、晶化時(shí)間2 h。