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      大深徑比深小孔圓柱度誤差評(píng)價(jià)

      2023-05-08 03:55:42裴袁鑫黃紹服
      關(guān)鍵詞:圓柱面測(cè)量點(diǎn)小孔

      裴袁鑫 ,黃紹服

      (1.安徽理工大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院, 安徽 淮南 232001;2.南京航空航天大學(xué), 江蘇省精密與微細(xì)制造技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 江蘇 南京 210016;3.安徽理工大學(xué) 環(huán)境友好材料與職業(yè)健康研究院, 安徽 蕪湖241003)

      在工業(yè)和制造業(yè)乃至航空和軍事領(lǐng)域,孔類零件的使用十分廣泛,如發(fā)動(dòng)機(jī)氣缸體缸孔、航空發(fā)動(dòng)機(jī)的氣膜冷卻小孔、炮管與槍管等,這些孔類零件在各自領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用[1-3]。對(duì)于孔類零件,常見的加工方式有利用切削力的鉆孔、利用高溫熔化材料的激光鉆孔、利用電化學(xué)腐蝕的電化學(xué)鉆孔等。無論哪種加工方式,孔類零件加工時(shí)刀具的震動(dòng)和加工熱等都會(huì)直接影響孔的加工質(zhì)量,因而對(duì)孔類零件的加工質(zhì)量進(jìn)行有效檢測(cè)十分必要。

      目前,常用兩點(diǎn)法、三點(diǎn)法、三坐標(biāo)測(cè)量法、數(shù)據(jù)采集儀連接百分表測(cè)量等方法檢測(cè)孔類零件的內(nèi)壁圓柱度誤差。張翠翠等[4]以激光為光源,利用單縫衍射原理設(shè)計(jì)一種圓筒類零件內(nèi)壁圓柱度檢測(cè)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)薄壁圓筒類零件的圓柱度綜合誤差評(píng)定,該系統(tǒng)檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確、成本低,但對(duì)于直徑1 mm 以下的深小孔激光無法有效射入,且由于孔內(nèi)空間的限制無法進(jìn)行有效觀測(cè);Shih 等[5]結(jié)合試驗(yàn)和有限元分析方法,綜合分析工件由于熱膨脹、切削力和夾緊力引起的內(nèi)孔畸變,通過諧波識(shí)別圓柱度誤差的諧波成分,得到精鏜孔的圓柱度誤差主要來源于內(nèi)孔畸變中的主軸徑向誤差,雖找到了誤差源,但無法獲知孔的圓柱度誤差,無法評(píng)價(jià)孔的加工質(zhì)量;Sun 等[6]考慮偏心量、測(cè)頭偏移量、測(cè)頭尖端半徑和傾斜誤差建立了一種多系統(tǒng)誤差的圓柱度測(cè)量模型,該模型可用于誤差的分離和比較,尤其適用于37 mm 左右的大尺寸圓柱元件,但不適用于直徑1 mm 及以下的小孔;Liu 等[7]提出了一種基于增量-單純形算法的圓柱度誤差評(píng)價(jià)方法,該方法在保證精度要求的基礎(chǔ)上,運(yùn)行效率優(yōu)于傳統(tǒng)算法,但仍未解決深小孔測(cè)量難的問題。

      上述研究借助激光光源、有限元分析方法和數(shù)學(xué)模型提高了圓柱度誤差的測(cè)量精度,但對(duì)于直徑在1 mm 以下、深徑比超過10∶1 的深小孔,由于小孔內(nèi)部空間的限制,仍無法直接從小孔內(nèi)部對(duì)深小孔進(jìn)行測(cè)量,常規(guī)檢測(cè)方法已不再適用;孔徑極小,激光難以射入,且深孔中反射光線難以有效接收,間接測(cè)量方法如激光三角檢測(cè)法同樣不再適用。因此深小孔的測(cè)量成為難題,只有解決深小孔測(cè)量難的問題,才能獲取深小孔的相關(guān)數(shù)據(jù)求解深小孔的圓柱度誤差。鑒于此,提出使用超聲波設(shè)備對(duì)大深徑比的深小孔從外表面進(jìn)行檢測(cè)的方法,并借助軟件和數(shù)學(xué)模型對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)。

      1 工件加工與檢測(cè)平臺(tái)搭建

      1.1 深小孔工件加工

      實(shí)驗(yàn)工件直徑為30 mm、長(zhǎng)為100 mm,材料為304 不銹鋼的光軸,在工件中心位置沿軸線方向加工直徑為1 mm 的通孔。常規(guī)的鉆孔設(shè)備在此深徑比下,鉆頭極易折斷,加工難度極大。實(shí)驗(yàn)中,選擇特種加工中的電火花加工,利用電火花穿孔機(jī)在試件上加工出需要的深小孔。根據(jù)實(shí)驗(yàn)室電火花加工機(jī)床的使用說明,設(shè)置加工技術(shù)參數(shù),如表1。

      表1 電加工主要參數(shù)Tab.1 Main parameters of electrical machining

      在深小孔加工過程中,選擇去離子水作為工作液,一方面及時(shí)清除加工過程中產(chǎn)生的金屬屑和炭黑等電蝕產(chǎn)物;另一方面去離子水可降低工作液的導(dǎo)電性,減小工作液對(duì)工件的電化學(xué)腐蝕,利于減小深小孔內(nèi)壁的表面粗糙度,提高小孔的加工質(zhì)量。所選工件及加工后的小孔樣貌如圖1。

      圖1 工件及加工后的小孔樣貌Fig.1 Appearance of workpiece and machined small hole

      1.2 檢測(cè)平臺(tái)搭建

      檢測(cè)平臺(tái)主要由超聲波脈沖發(fā)生接收器、傳感器探頭、示波器組成。超聲波脈沖發(fā)生接收器選用的型號(hào)為Olympus Model 5800PR。根據(jù)被測(cè)工件材料特性及電火花加工出的小孔直徑1.0 mm,選用V116-RM 型指尖接觸式傳感器探頭,探頭半徑為3 mm、檢測(cè)頻率為20 MHz。選用Tektronix DPO3012 數(shù)字熒光示波器,示波器配有電腦軟件,可在示波器固定波形后抓取波形數(shù)據(jù)并以圖片形式記錄,方便后期讀取所需的波形數(shù)據(jù)。

      2 數(shù)據(jù)獲取與預(yù)處理

      2.1 測(cè)量點(diǎn)標(biāo)定

      在工件表面用刻度尺沿軸線方向畫出等分點(diǎn),借用分度頭夾持工件,并用臺(tái)鉗夾持畫線筆,將筆尖定位到等分點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)分度頭的搖柄,讓工件轉(zhuǎn)動(dòng)1 周,即可完成1 個(gè)等分點(diǎn)的圓周畫線。在每個(gè)等分點(diǎn)重復(fù)上述操作,即可在工件表面畫出多個(gè)圓周線,每條軸向等分線和圓周線的交點(diǎn)即為測(cè)量點(diǎn)。探頭在測(cè)量時(shí)須始終保證與工件表面充分接觸,故在工件兩端要留有一定的空間裕量,最終被選作測(cè)量的點(diǎn)共有11×12=132個(gè)。標(biāo)定測(cè)量點(diǎn)的工件如圖2。

      圖2 標(biāo)定測(cè)量點(diǎn)的工件Fig.2 Workpiece with calibrated measuring points

      2.2 深小孔測(cè)量

      采用探頭測(cè)量時(shí),為排除探頭與被測(cè)工件表面間的空氣,使超聲波能有效穿入被測(cè)工件,減少能量損失,保證超聲波在被測(cè)工件中有足夠的聲強(qiáng)透射率,可在被測(cè)工件表面涂抹一層耦合劑。此外,探頭在工件表面移動(dòng)過程中,耦合劑還可減輕探頭磨損,延長(zhǎng)探頭壽命。實(shí)驗(yàn)中測(cè)量11 個(gè)圓截面,每個(gè)截面12 個(gè)測(cè)量點(diǎn),共132 個(gè)測(cè)量點(diǎn),在抓取132 個(gè)測(cè)量點(diǎn)的波形后,讀取每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的時(shí)間數(shù)據(jù)tij(第i個(gè)截面上第j個(gè)測(cè)量點(diǎn)),如表2。

      表2 各測(cè)量點(diǎn)的時(shí)間數(shù)據(jù)Tab.2 Time data of each measurement point

      2.3 測(cè)量數(shù)據(jù)坐標(biāo)化

      本實(shí)驗(yàn)中,將深小孔視作工件的內(nèi)部缺陷,利用超聲檢測(cè)設(shè)備從工件外表面進(jìn)行測(cè)量,測(cè)得的數(shù)據(jù)是超聲波從工件外表面到深小孔內(nèi)表面再反射回的時(shí)間數(shù)據(jù),并不能直接使用,需對(duì)測(cè)得的時(shí)間數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,將其轉(zhuǎn)換為空間坐標(biāo)數(shù)據(jù)[8]。如圖3 所示,以深孔中軸線為z軸建立空間直角坐標(biāo)系。

      在空間坐標(biāo)系中,每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的z值已知,每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的x,y可借助每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的時(shí)間數(shù)據(jù)計(jì)算出。光軸工件半徑也已知(15 mm),通過計(jì)算半徑與厚度的差值即為每個(gè)被測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的深小孔內(nèi)壁到中心軸的距離,再通過該距離與x,y軸之間的角度關(guān)系,借助三角函數(shù)即可得出每個(gè)被測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的深小孔內(nèi)壁坐標(biāo),計(jì)算公式為:

      其中:v為超聲波在被測(cè)工件中的聲速;r0為共建半徑,可借助第一個(gè)測(cè)量截面進(jìn)行計(jì)算。

      其中:d為被測(cè)工件的厚度;t為第一測(cè)量截面平均時(shí)間;r′為深小孔半徑。通過式(1)~(3)將所有的時(shí)間數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為坐標(biāo)數(shù)據(jù),結(jié)果如表3。

      表3 各測(cè)量點(diǎn)坐標(biāo) 單位:mmTab.3 Coordinate of each measurement point Unit: mm

      3 基于遺傳算法優(yōu)化的圓柱度誤差評(píng)價(jià)

      3.1 圓柱度誤差評(píng)價(jià)數(shù)學(xué)模型

      圓柱度誤差是被測(cè)工件實(shí)際圓柱面與其理想圓柱面之間的變動(dòng)量。一個(gè)工件的實(shí)際圓柱面是固定的,但理想圓柱面是可以選取的。理想圓柱面的選取應(yīng)遵循誤差最小的原則,即選取理想圓柱面與實(shí)際圓柱面之間的最大變動(dòng)量,再?gòu)乃械淖畲笞儎?dòng)量中選取最小值。根據(jù)理想圓柱面的選取位置不同,圓柱度誤差的評(píng)價(jià)方法總體上可分為4 種:最大內(nèi)接圓柱法(maximum inscribed cylinder,MIC),最小外接圓柱法(minimum circumscribed cylinder,MCC),最小二 乘法(least square cylinder,LSC)和 最 小 區(qū) 域 法(minimum none cylinder,MZC)[9-10]。

      如圖4 所示,設(shè)L為理想圓柱軸線、S為實(shí)際圓柱面、M為理想圓柱面、e為圓柱度誤差,則理想軸線L的數(shù)學(xué)方程為

      圖4 圓柱度誤差評(píng)價(jià)模型Fig.4 Cylindricity error evaluation model

      其中a,b,u,q為理想軸線L數(shù)學(xué)方程的參數(shù)。L的方向由參數(shù)u,q決定,位置由參數(shù)a,b決定,可將理想圓柱面與實(shí)際圓柱面之間的變動(dòng)量轉(zhuǎn)化為理想軸線與實(shí)際圓柱面之間的變動(dòng)量。在實(shí)際圓柱面M上任取k個(gè)點(diǎn),設(shè)每點(diǎn)的坐標(biāo)Mk(xk,yk,zk),k=1,2,3,···,K,則每點(diǎn)到理想軸線L的距離rk可表示為:

      3.1.1 最大內(nèi)接圓柱法

      最大內(nèi)接圓柱法指在實(shí)際圓柱面內(nèi)部尋找一個(gè)理想圓柱面,使理想圓柱面內(nèi)切于實(shí)際圓柱面,且理想圓柱面半徑最大,即實(shí)際圓柱面與理想圓柱面之間的誤差最小,其尋優(yōu)目標(biāo)函f(a,b,u,q)=-max{minrk},當(dāng)a,b,u,q尋得最優(yōu)值時(shí),目標(biāo)函數(shù)取得最小值。

      3.1.2 最小外接圓柱法

      與最大內(nèi)接圓柱法相似,最小外接圓柱法是在實(shí)際圓柱面外部尋找一個(gè)理想圓柱面,使其外接于實(shí)際圓柱面,且最大直徑為所有理想外接圓柱中的最小值。對(duì)應(yīng)的圓柱度誤差為被測(cè)實(shí)際圓柱面到理想圓柱回轉(zhuǎn)軸線最大與最小距離的差值,其目標(biāo)函數(shù)為f(a,b,u,q)=min{maxrk},當(dāng)a,b,u,q尋得最優(yōu)值時(shí),目標(biāo)函數(shù)取得最小值。

      3.1.3 最小二乘法

      3.1.4 最小區(qū)域法

      在圓柱度誤差評(píng)價(jià)中,當(dāng)最終計(jì)算結(jié)果有爭(zhēng)議時(shí),以最小區(qū)域法的結(jié)果為準(zhǔn),最小區(qū)域法求解得到的結(jié)果也是4 種評(píng)價(jià)方法中誤差最小的。最小區(qū)域法評(píng)價(jià)圓柱度誤差,實(shí)質(zhì)上是尋找2 個(gè)共軸的理想圓柱面,當(dāng)2 個(gè)共軸的理想圓柱面能包容實(shí)際圓柱面,且2 個(gè)理想圓柱面的半徑差值最小時(shí),其半徑差即是最小區(qū)域圓柱度誤差。根據(jù)定義,最小區(qū)域圓柱法的目標(biāo)函數(shù)f(a,b,u,q)=maxrk-minrf,其中k,f=1,2,···,N,N為實(shí)際圓柱面上選取觀測(cè)點(diǎn)的個(gè)數(shù)。根據(jù)最小區(qū)域法的目標(biāo)函數(shù),優(yōu)化a,b,u,q使f(a,b,u,q)取得最小值,即為最小區(qū)域法的圓柱度誤差。

      3.2 遺傳算法設(shè)置

      遺傳算法(genetic algorithm,GA)是根據(jù)達(dá)爾文生物進(jìn)化論中的自然選擇和遺傳學(xué)機(jī)理,模擬自然界生物進(jìn)化機(jī)制,通過將實(shí)際問題轉(zhuǎn)化為數(shù)學(xué)模型,借助計(jì)算機(jī)模擬生物進(jìn)化中染色體基因的交叉、變異等過程,對(duì)數(shù)學(xué)模型進(jìn)行仿真運(yùn)算,實(shí)現(xiàn)優(yōu)勝劣汰的進(jìn)化過程,即在尋優(yōu)過程中保留有用數(shù)據(jù),去除無用數(shù)據(jù)。GA在求解尋優(yōu)問題,尤其是較復(fù)雜的組合優(yōu)化問題時(shí),通常能夠較快地獲得較好的優(yōu)化結(jié)果[11-13]。圓柱度誤差評(píng)價(jià)的4 個(gè)數(shù)學(xué)模型本質(zhì)上是在實(shí)際圓柱面所在的空間尋找一個(gè)理想圓柱面,使實(shí)際圓柱面上選取的觀測(cè)點(diǎn)到評(píng)價(jià)模型對(duì)應(yīng)理想圓柱面的誤差最小,從數(shù)學(xué)角度就是搜尋最優(yōu)組合的a,b,u,q參數(shù)值,使f(a,b,u,q)最小[14]。故在圓柱度誤差評(píng)價(jià)模型中,引入GA 以增強(qiáng)求解過程中模型的搜索能力,提高求解精度,即在實(shí)際圓柱面所在空間搜尋理想圓柱面,并求解出最優(yōu)理想圓柱面對(duì)應(yīng)的圓柱度誤差值。

      3.2.1 編碼

      GA 中主要有二進(jìn)制和實(shí)數(shù)2 種編碼方式,二進(jìn)制編碼需對(duì)待求的問題進(jìn)行編碼,且需根據(jù)精度要求確定字符長(zhǎng)度,還需對(duì)求解出的結(jié)果進(jìn)行解碼,過程復(fù)雜,且隨著編碼長(zhǎng)度的增加尋優(yōu)速度會(huì)降低。為減少計(jì)算量,提升計(jì)算速度,文中選擇便捷且直觀的實(shí)數(shù)編碼。設(shè)由4 個(gè)尋優(yōu)變量(a,b,u,q)組成的第m個(gè)染色體Um=(am,bm,um,qm)。

      3.2.2 適應(yīng)度函數(shù)

      生物進(jìn)化論中,某個(gè)體對(duì)環(huán)境的適應(yīng)能力即為適應(yīng)度,適應(yīng)度也表示研究的對(duì)象或個(gè)體繁殖后代的能力,GA 中將其稱為評(píng)價(jià)函數(shù)。在進(jìn)行仿真運(yùn)算時(shí),評(píng)價(jià)函數(shù)主要用于判斷設(shè)置的種群中每個(gè)被選擇個(gè)體的優(yōu)劣程度,且是根據(jù)所求問題的目標(biāo)函數(shù)進(jìn)行評(píng)估的,所以適應(yīng)度一般是非負(fù)值[15]。文中求解的是最小值問題,故適應(yīng)度函數(shù)設(shè)置為F(a,b,u,q)=-f(a,b,u,q)。

      3.2.3 遺傳算子

      選擇操作使用系統(tǒng)默認(rèn),為均勻隨機(jī)選擇;交叉和變異操作同樣使用系統(tǒng)默認(rèn),MATLAB 軟件自帶的GA 與直接搜索工具箱(GADS)會(huì)根據(jù)問題建立與結(jié)果板塊( problem setup and results )中輸入的約束類型選擇變異函數(shù);GA 的計(jì)算精度受初始種群數(shù)及迭代數(shù)的影響非常大。故設(shè)種群數(shù)為500、交叉概率為0.8、變異概率為0.1、最大迭代數(shù)500,最大迭代數(shù)也是遺傳算法的終止條件。

      3.3 誤差求解

      將處理后得到的坐標(biāo)數(shù)據(jù)(表3)導(dǎo)入MATLAB,先進(jìn)行三次樣條插值處理[16],豐富計(jì)算的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù),再借助經(jīng)GA 優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型,分別對(duì)最大內(nèi)接圓柱法、最小外接圓柱法、最小二乘法和最小區(qū)域法評(píng)價(jià)模型求解。GA 搜索計(jì)算時(shí)隨機(jī)選取樣本點(diǎn),故每次求解結(jié)果均不相同。為進(jìn)一步提高結(jié)果的精度,每個(gè)評(píng)價(jià)模型計(jì)算10 次,取10 次結(jié)果的平均值作為誤差求解的結(jié)果。最終求解的a,b,u,q及各評(píng)價(jià)模型對(duì)應(yīng)的圓柱度誤差結(jié)果如表4。

      表4 誤差求解結(jié)果Tab.4 Error solving results

      由表4 可看出:借助GA 優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型均可搜索出對(duì)應(yīng)的最優(yōu)理想圓柱軸線,并可求解出對(duì)應(yīng)的圓柱度誤差;最小區(qū)域法求解得到的誤差最小,為0.142 mm,優(yōu)于最大內(nèi)接圓柱法、最小外接圓柱法和最小二乘法,符合圓柱度誤差評(píng)價(jià)中最小區(qū)域法誤差值最小的準(zhǔn)則[17]。

      4 結(jié) 論

      針對(duì)直徑在1 mm 以下、深徑比超過10∶1 的大深徑比深小孔檢測(cè)難的問題,提出一種利用超聲波設(shè)備檢測(cè)的方法。將加工后的深小孔視作工件的內(nèi)部缺陷,從工件外表面利用超聲檢測(cè)平臺(tái)對(duì)深小孔進(jìn)行測(cè)量獲取原始聲程數(shù)據(jù);將獲取的原始數(shù)據(jù)通過坐標(biāo)化處理,導(dǎo)入GA 優(yōu)化的最大內(nèi)接圓柱法、最小外接圓柱法、最小二乘法和最小區(qū)域法的數(shù)學(xué)模型中,搜尋最佳理想軸線,求解圓柱度誤差。結(jié)果表明:提出的檢測(cè)方法可完成大深徑比深小孔的檢測(cè);借助GA 優(yōu)化的圓柱度誤差數(shù)學(xué)模型均可搜索出對(duì)應(yīng)的最優(yōu)理想圓柱軸線,求解出對(duì)應(yīng)的圓柱度誤差,且符合最小區(qū)域法誤差最小的準(zhǔn)則,證明了利用超聲設(shè)備檢測(cè)深小孔的可行性。本文研究可為大深徑比的深小孔檢測(cè)及其評(píng)價(jià)提供一種可行的方案。

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