馬榮康,劉鳳朝
(大連理工大學(xué)管理與經(jīng)濟(jì)學(xué)部,遼寧大連116024)
納米技術(shù)作為當(dāng)今世界發(fā)展最迅速和影響廣泛的新興科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域之一,是21世紀(jì)社會(huì)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的重要“引擎”[1],也是發(fā)達(dá)國家角逐世界科技強(qiáng)國的必爭領(lǐng)域[2]。
作為一個(gè)新興的交叉科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,納米技術(shù)的發(fā)展不僅與其它技術(shù)領(lǐng)域相互滲透,而且其自身的各子技術(shù)領(lǐng)域也相互交叉融合,形成一幅內(nèi)外交叉滲透的發(fā)展圖景。因此,世界各國分別基于納米科技發(fā)展的特有規(guī)律制定相應(yīng)的發(fā)展戰(zhàn)略,以期盡快實(shí)現(xiàn)在納米技術(shù)優(yōu)勢(shì)領(lǐng)域的率先突破。然而,技術(shù)基礎(chǔ)以及戰(zhàn)略選擇的差異性決定了各國在納米技術(shù)領(lǐng)域選擇多樣化的發(fā)展模式。中國作為世界上少數(shù)最先開展納米技術(shù)研究的國家之一,在納米科學(xué)研究領(lǐng)域已經(jīng)取得了較大的進(jìn)步。但已有研究表明,我國僅在少數(shù)基礎(chǔ)研究領(lǐng)域占有優(yōu)勢(shì),在應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域與美國、歐盟、日本等國家存在較大差距[1,3]。因此,從不同技術(shù)領(lǐng)域交互作用視角,研究納米技術(shù)的發(fā)展模式,識(shí)別我國與其他國家發(fā)展路徑的差異,對(duì)未來納米技術(shù)發(fā)展戰(zhàn)略設(shè)計(jì)具有重要參考價(jià)值。
近年來,隨著納米科技的迅速發(fā)展,納米領(lǐng)域相關(guān)的論文和專利數(shù)量大幅增加,論文及專利中包含的豐富信息為分析納米技術(shù)的發(fā)展提供了較好的數(shù)據(jù)支撐[1]。目前,學(xué)術(shù)界對(duì)世界各國納米技術(shù)發(fā)展規(guī)律的考察主要集中在三個(gè)方面。
一是基于論文或?qū)@麛?shù)據(jù)對(duì)納米技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行科學(xué)計(jì)量分析。Huang等、Li等基于USPTO、EPO以及JPO專利數(shù)據(jù)分析了納米技術(shù)的國家、機(jī)構(gòu)和技術(shù)領(lǐng)域分布,研究發(fā)現(xiàn)三大專利數(shù)據(jù)庫中排名前列的國家基本相同,各國的優(yōu)勢(shì)技術(shù)領(lǐng)域差別較大[4-6];Scheu等、Wong等考察了世界各國納米技術(shù)及其應(yīng)用領(lǐng)域的演變歷史[7-8];Dang等對(duì)比了1991-2008年世界各國在不同專利數(shù)據(jù)庫中納米技術(shù)專利的發(fā)展情況[9]。梁立明等、官建成等考察了中國納米科技研究動(dòng)向及主要研發(fā)力量分布[10-12]。
二是對(duì)納米技術(shù)發(fā)展中的收斂或擴(kuò)散模式進(jìn)行深入研究。Basselcoulard等分析納米科技論文的引用關(guān)系發(fā)現(xiàn),其它學(xué)科對(duì)納米技術(shù)引用較多,納米技術(shù)在諸多學(xué)科發(fā)展中發(fā)揮重要作用[13];Yu的研究也發(fā)現(xiàn)納米技術(shù)向其他學(xué)科流動(dòng)的速度遠(yuǎn)高于其他學(xué)科向納米技術(shù)流動(dòng)的速度,納米技術(shù)是一個(gè)開放的跨領(lǐng)域?qū)W科[14];Meyer對(duì)瑞典納米技術(shù)專利聚類分析發(fā)現(xiàn),納米技術(shù)并未收斂到一個(gè)領(lǐng)域,而是擴(kuò)散應(yīng)用到不同產(chǎn)業(yè)部門[15];Porter和Youtie基于專利數(shù)據(jù)的分析也表明目前納米技術(shù)廣泛地應(yīng)用到多個(gè)領(lǐng)域,呈現(xiàn)出跨學(xué)科的發(fā)展趨勢(shì)[16]。
三是對(duì)納米技術(shù)發(fā)展過程中科學(xué)與技術(shù)之間聯(lián)系的研究。Hu等研究發(fā)現(xiàn)納米技術(shù)專利對(duì)論文的引用數(shù)不斷增加,納米科學(xué)對(duì)納米技術(shù)的發(fā)展起到至關(guān)重要的作用[17]。Meyer將納米技術(shù)領(lǐng)域的專利發(fā)明人與論文作者匹配,發(fā)現(xiàn)擁有專利的科學(xué)家論文產(chǎn)出數(shù)量及質(zhì)量都高于沒有專利的科學(xué)家同行,從研發(fā)產(chǎn)出的視角驗(yàn)證了納米科學(xué)與納米技術(shù)之間的聯(lián)系[18];官建成和王剛波利用中國數(shù)據(jù)也發(fā)現(xiàn)學(xué)術(shù)型發(fā)明人的績效顯著高于純學(xué)術(shù)研究者[19-20];Bonaccorsi和 Thoma研究發(fā)現(xiàn)納米技術(shù)領(lǐng)域?qū)W術(shù)型發(fā)明人擁有專利的質(zhì)量遠(yuǎn)高于非學(xué)術(shù)發(fā)明人,進(jìn)一步驗(yàn)證了納米技術(shù)發(fā)展中納米科學(xué)和納米技術(shù)之間的良性互動(dòng)[21]。
綜上,學(xué)術(shù)界對(duì)于納米技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)、收斂與擴(kuò)散模式以及納米科學(xué)與納米技術(shù)之間的聯(lián)系等問題進(jìn)行了大量研究,取得了諸多有創(chuàng)見的成果。然而,已有研究大都從技術(shù)層面研究納米科學(xué)、技術(shù)乃至產(chǎn)業(yè)化發(fā)展的規(guī)律,較少從科學(xué)技術(shù)發(fā)展的內(nèi)在機(jī)理與國家科技發(fā)展戰(zhàn)略選擇互動(dòng)的角度,分析如何依據(jù)科學(xué)技術(shù)發(fā)展規(guī)律,結(jié)合具體國家的特定國情,制定切實(shí)可行的納米技術(shù)發(fā)展戰(zhàn)略問題。納米技術(shù)作為一種廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域的技術(shù),各國基于不同技術(shù)基礎(chǔ)選擇了何種發(fā)展戰(zhàn)略,各國納米技術(shù)發(fā)展過程中不同應(yīng)用領(lǐng)域之間的交互關(guān)系如何?這些問題的回答有助于從技術(shù)層面清晰地揭示不同國家納米技術(shù)的發(fā)展模式。近年來,Choi等提出了基于專利的交互影響分析方法(patent-based cross impact analysis),通過分析某種技術(shù)對(duì)其他技術(shù)的影響來考察技術(shù)間的交互關(guān)系,進(jìn)而識(shí)別不同技術(shù)間的交互影響模式[22]。借鑒已有研究思路,本文使用美國專利和商標(biāo)局(USPTO)專利數(shù)據(jù),采取專利交互影響分析方法考察納米技術(shù)不同技術(shù)領(lǐng)域的交互影響,揭示不同國家納米技術(shù)的發(fā)展模式,以期為我國科學(xué)制定納米科技發(fā)展戰(zhàn)略提供參考。
專利數(shù)據(jù)已經(jīng)被廣泛地用于分析國家、區(qū)域、組織等層面的技術(shù)創(chuàng)新活動(dòng)[23-24]。美國專利和商標(biāo)局(USPTO)的專利信息囊括了世界上大多數(shù)先進(jìn)技術(shù),尤其是新興技術(shù),本文使用USPTO檢索納米技術(shù)專利數(shù)據(jù)。2004年,USPTO推出了納米技術(shù)專利專屬分類977,并對(duì)以往的專利進(jìn)行追加,該分類逐漸得到學(xué)術(shù)界的認(rèn)可和廣泛使用[8],因此本文采用USPTO的納米技術(shù)分類作為檢索標(biāo)準(zhǔn)??紤]到專利的質(zhì)量問題,僅檢索USPTO授權(quán)的發(fā)明專利。以977為專利分類號(hào)按授權(quán)日檢索所有的授權(quán)發(fā)明專利作為納米技術(shù)的專利數(shù)據(jù),檢索日期為2011年11月25日,檢索時(shí)間截止到2010年,一共得到6667件專利。把納米技術(shù)專利按發(fā)明人所屬地址對(duì)國家進(jìn)行分類發(fā)現(xiàn),從1978到2010年,美國共有1530件,日本共有1153件,德國共有333件,韓國共有306件,這四個(gè)國家是納米技術(shù)專利最多的國家,其專利總和占納米技術(shù)專利總體的 49.83%,中國僅有 81件,占1.21%??梢哉f,美國、日本、德國和韓國是當(dāng)前納米技術(shù)發(fā)展實(shí)力最強(qiáng)的國家。因此,本文選擇美國、日本、德國和韓國作為研究樣本,對(duì)比分析其納米技術(shù)的發(fā)展模式,并以其為對(duì)照組探討中國納米技術(shù)的發(fā)展路徑。
USPTO專利數(shù)據(jù)中包含專利所屬的IPC分類(國際專利分類)信息,基于完善的IPC分類體系,可以對(duì)納米技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行具體統(tǒng)計(jì)。借鑒已有關(guān)于IPC分類與技術(shù)領(lǐng)域的對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)ISISPRU-OST-concordance[25],把所有專利按其IPC四位分類對(duì)應(yīng)到43個(gè)技術(shù)領(lǐng)域①根據(jù)Schmoch等的研究,實(shí)際上有44個(gè)技術(shù)領(lǐng)域,從1到44;但是第8個(gè)技術(shù)領(lǐng)域?yàn)槌霭婕坝∷?,不包含專利,因此與IPC四位分類對(duì)應(yīng)的僅有43個(gè)技術(shù)領(lǐng)域。,具體技術(shù)領(lǐng)域見表1。如果一條專利包含多個(gè)IPC分類,而這多個(gè)IPC分類屬于不同的技術(shù)領(lǐng)域,說明多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域在該專利中同時(shí)出現(xiàn),稱為“技術(shù)領(lǐng)域共現(xiàn)”?;趯@募夹g(shù)共現(xiàn)信息可以分析不同技術(shù)領(lǐng)域之間的關(guān)聯(lián)[26-27],如果專利存在技術(shù)領(lǐng)域共現(xiàn),說明該專利屬于多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域,這些技術(shù)領(lǐng)域之間存在關(guān)聯(lián),具有交互融合發(fā)展的趨勢(shì);反之,專利屬于單個(gè)技術(shù)領(lǐng)域,說明技術(shù)獨(dú)立發(fā)展。
根據(jù)專利的技術(shù)領(lǐng)域共現(xiàn)信息,利用 Choi等[22]提出的基于專利的交互影響分析(patentbased cross impact analysis)方法可以分析納米技術(shù)不同技術(shù)領(lǐng)域之間的交互影響關(guān)系。不同技術(shù)領(lǐng)域之間的交互影響可以用技術(shù)影響指數(shù)(I)衡量,I(A,B)定義為A技術(shù)與B技術(shù)之間的條件概率,衡量A技術(shù)對(duì)B技術(shù)的影響,計(jì)算公式為:
表1 按IPC四位分類的43個(gè)技術(shù)領(lǐng)域
公式中,N(A)指A技術(shù)的所有專利數(shù),N(A∩B)指A技術(shù)與B技術(shù)共現(xiàn)的專利數(shù)。該指數(shù)位于0-1之間,值越接近于0,說明A技術(shù)對(duì)B技術(shù)的影響程度越低;值越接近于1,說明A技術(shù)對(duì)B技術(shù)的影響程度越高。
如果同時(shí)計(jì)算I(B,A),就可以得出B技術(shù)對(duì)A技術(shù)的影響。根據(jù)I(A,B)與I(B,A)的高低,可以把A技術(shù)與B技術(shù)之間的交互影響分為三種類型,從而識(shí)別不同的交互影響模式。如果I(A,B)與I(B,A)均為高影響指數(shù),那么技術(shù)對(duì)(A,B)或(B,A)就屬于“雙向影響技術(shù)對(duì)”;如果I(A,B)與I(B,A)一個(gè)為高影響指數(shù),另一個(gè)為低影響指數(shù),那么技術(shù)對(duì)(A,B)或(B,A)就屬于“單向影響技術(shù)對(duì)”;如果 I(A,B)與 I(B,A)均為低影響指數(shù),那么A技術(shù)與B技術(shù)之間的交互影響程度較低,二者幾乎是獨(dú)立的,(A,B)或(B,A)可以稱為“無影響技術(shù)對(duì)”。本文把I值大于或等于0.5界定為高影響指數(shù),小于0.5界定為低影響指數(shù)。
如果把所有技術(shù)領(lǐng)域之間的交互影響表示成一個(gè)網(wǎng)絡(luò)形式,那么就可以把分析視角從兩兩技術(shù)領(lǐng)域關(guān)系擴(kuò)展到所有技術(shù)領(lǐng)域關(guān)系。因此,以技術(shù)領(lǐng)域?yàn)楣?jié)點(diǎn),以技術(shù)領(lǐng)域間的影響作為節(jié)點(diǎn)之間的聯(lián)系,節(jié)點(diǎn)聯(lián)系的方向?yàn)榧夹g(shù)領(lǐng)域間的影響方向,便可以繪制技術(shù)領(lǐng)域間的交互影響網(wǎng)絡(luò)圖譜。本文利用社會(huì)網(wǎng)絡(luò)理論中的“核心-邊緣”模型,分析各國納米技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)的“核心-邊緣”結(jié)構(gòu),識(shí)別網(wǎng)絡(luò)中的核心節(jié)點(diǎn)、邊緣節(jié)點(diǎn)及其交互關(guān)系,從而可以在整體層面對(duì)比各國納米技術(shù)不同領(lǐng)域間的交互影響模式。
綜上,基于專利數(shù)據(jù)考察納米技術(shù)專利的技術(shù)共現(xiàn)及領(lǐng)域分布、對(duì)比技術(shù)交互影響指數(shù)及技術(shù)對(duì)類型分布、分析技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)的整體結(jié)構(gòu)特征,便構(gòu)成從技術(shù)關(guān)聯(lián)角度考察不同國家納米技術(shù)發(fā)展模式的分析框架。
表2統(tǒng)計(jì)了樣本國家納米技術(shù)專利的技術(shù)領(lǐng)域共現(xiàn)情況??梢钥闯?,雖然美國和日本是納米技術(shù)專利最多的國家,德國和韓國的專利總數(shù)比較接近,但是從納米專利技術(shù)共現(xiàn)與獨(dú)立發(fā)展的情況看,四國呈現(xiàn)出與專利總數(shù)不同的模式。美國和韓國技術(shù)共現(xiàn)專利數(shù)僅占21%和22%,而日本和德國則分別占47%和46%,說明美國和韓國納米技術(shù)各技術(shù)領(lǐng)域獨(dú)立發(fā)展的趨勢(shì)比較明顯,技術(shù)領(lǐng)域間的關(guān)聯(lián)程度較低,而日本和德國不同技術(shù)領(lǐng)域間的關(guān)聯(lián)程度則較高。從納米技術(shù)分布的技術(shù)領(lǐng)域數(shù)看,專利總數(shù)較多的美國和日本技術(shù)領(lǐng)域分布較為廣泛,而專利相對(duì)較少的德國和韓國納米技術(shù)分布領(lǐng)域較少,但是幾乎所有技術(shù)領(lǐng)域均與其他技術(shù)領(lǐng)域存在共現(xiàn)關(guān)系,說明各國納米技術(shù)發(fā)展過程中不同技術(shù)領(lǐng)域之間或多或少地存在關(guān)聯(lián),跨技術(shù)領(lǐng)域的融合發(fā)展是納米技術(shù)發(fā)展的普遍現(xiàn)象。
表2 樣本國家納米技術(shù)專利及技術(shù)領(lǐng)域統(tǒng)計(jì)
圖1對(duì)比了樣本國家納米技術(shù)重點(diǎn)領(lǐng)域的分布情況,圖中省略了四個(gè)國家專利數(shù)均小于5的技術(shù)領(lǐng)域??梢钥闯觯瑯颖緡壹{米技術(shù)主要分布于25個(gè)技術(shù)領(lǐng)域?;净瘜W(xué)(10)、電子元件(34)、測量儀器(38)是四個(gè)國家表現(xiàn)都比較突出的技術(shù)領(lǐng)域,作為納米技術(shù)基礎(chǔ)領(lǐng)域的納米化學(xué)、納米電子學(xué)以及儀器設(shè)備是所有納米強(qiáng)國發(fā)展的必需。其次是非金屬及金屬制品(18、19、20)、基本制造(13、24、25、28)、儀器設(shè)備(37、40)等應(yīng)用領(lǐng)域,這體現(xiàn)了納米技術(shù)在各產(chǎn)業(yè)部門的廣泛應(yīng)用。25個(gè)技術(shù)領(lǐng)域中,除了電子元件(34)外,美國幾乎在所有領(lǐng)域均衡發(fā)展,體現(xiàn)了美國全面領(lǐng)先的納米技術(shù)戰(zhàn)略布局;日本在個(gè)別領(lǐng)域重點(diǎn)優(yōu)先發(fā)展,如基本化學(xué)(10)、辦公設(shè)備和計(jì)算機(jī)(28)、電子元件(34)、測量儀器(38),其他領(lǐng)域選擇性兼顧發(fā)展,并且采取與美國有所差異的發(fā)展路線,如在28、38、40領(lǐng)域比美國發(fā)展突出;德國是有選擇的側(cè)重發(fā)展,除了10、34、38等基礎(chǔ)領(lǐng)域,主要在制藥(13)、辦公設(shè)備和計(jì)算機(jī)(28)和醫(yī)療設(shè)備(37)領(lǐng)域有所應(yīng)用;而韓國目前主要在基礎(chǔ)領(lǐng)域發(fā)展,尤其是電子元件(34)和基本化學(xué)(10)領(lǐng)域,在其他領(lǐng)域的應(yīng)用還處于起步階段。
圖1 美國、日本、德國與韓國納米技術(shù)重點(diǎn)領(lǐng)域分布對(duì)比
表3 美國、日本、德國與韓國技術(shù)影響指數(shù)排名前10技術(shù)對(duì)統(tǒng)計(jì)
在測算技術(shù)交互影響指數(shù)時(shí),考慮到樣本國家在部分納米技術(shù)領(lǐng)域的專利數(shù)極少,不足以考察其與其它技術(shù)領(lǐng)域之間的互動(dòng)關(guān)系,因此僅考察納米技術(shù)專利數(shù)大于5的技術(shù)領(lǐng)域之間的交互影響。通過測算樣本國家的技術(shù)交互影響指數(shù)發(fā)現(xiàn),美國、日本、德國與韓國交互影響指數(shù)大于0的技術(shù)對(duì)個(gè)數(shù)分別為229、276、162和76,其中影響指數(shù)大于或等于0.5的高影響技術(shù)對(duì)的個(gè)數(shù)分別為0、68、47 和19,所占比例分別為 0、25%、29%和25%。可以看出,相對(duì)其他三個(gè)國家而言,美國沒有高影響技術(shù)對(duì),各技術(shù)領(lǐng)域獨(dú)立發(fā)展的特征較明顯;日本和德國是影響技術(shù)對(duì)總數(shù)和高影響技術(shù)對(duì)比例均較高的國家,技術(shù)領(lǐng)域之間的關(guān)聯(lián)程度較高;韓國則處于以上國家之間,技術(shù)領(lǐng)域交互影響程度高于美國,但低于日本和德國。
在測算技術(shù)影響指數(shù)的基礎(chǔ)上,按影響指數(shù)的高低對(duì)不同技術(shù)對(duì)進(jìn)行分類。由于無影響技術(shù)對(duì)不是關(guān)注的重點(diǎn),因此僅考慮技術(shù)影響指數(shù)大于或等于0.5的高影響技術(shù)對(duì)的分類情況。以I(A,B)作為橫坐標(biāo),以 I(B,A)作為縱坐標(biāo)(其中A<B),可以繪制高影響技術(shù)對(duì)的二維分布圖。美國沒有高影響技術(shù)對(duì),因此僅繪制日本、德國和韓國的技術(shù)對(duì)分類情況,其中,高-高象限為雙向影響技術(shù)對(duì),高-低與低-高象限均為單向影響技術(shù)對(duì)。表3統(tǒng)計(jì)了樣本國家技術(shù)影響指數(shù)排名前10的技術(shù)對(duì),圖2顯示了日本、德國和韓國的技術(shù)對(duì)分類的二維分布。
由表3可知,美國沒有高于0.5的高影響技術(shù)對(duì),前10名技術(shù)影響指數(shù)在0.28-0.48之間;日本和德國前10名均在0.85-1之間,韓國在0.53-0.89之間。具體來看,美國主要在納米化學(xué)領(lǐng)域存在一定的交互影響,包括化學(xué)品(11、15)對(duì)基本化學(xué)(10)、制藥(13)以及人造纖維(16)的影響,其他諸多領(lǐng)域(22、40)的發(fā)展也對(duì)納米化學(xué)產(chǎn)生了一定的影響,體現(xiàn)出納米化學(xué)作為基礎(chǔ)領(lǐng)域在美國納米技術(shù)應(yīng)用中的廣泛性。
結(jié)合圖2可知,日本共有11組雙向影響技術(shù)對(duì),46個(gè)單向影響技術(shù)對(duì)。雙向影響技術(shù)對(duì)主要包括(19,25)、(35,38)、(20,40)、(16,18)、(13,25)、(19,38)、(30,34),體現(xiàn)為金屬(19、20)與機(jī)械(25)及儀器設(shè)備(38、40)領(lǐng)域在納米技術(shù)應(yīng)用中的相互促進(jìn)與協(xié)同發(fā)展;技術(shù)交互影響較高的技術(shù)對(duì)基本都屬于單向影響技術(shù)對(duì),其中基本化學(xué)(10)對(duì)制藥和金屬領(lǐng)域、機(jī)床(24)對(duì)化學(xué)、金屬及非金屬、電子元件(34)對(duì)控制裝備和汽車領(lǐng)域、醫(yī)療設(shè)備(37)和測量儀器(38)分別對(duì)金屬、化學(xué)以及機(jī)械設(shè)備產(chǎn)生單向影響,這些技術(shù)之間的交叉融合促進(jìn)了日本納米技術(shù)在納米電子學(xué)、納米儀器及設(shè)備等領(lǐng)域的發(fā)展。
圖2 日本、德國與韓國交互影響技術(shù)對(duì)分類分布
德國共有7組雙向影響技術(shù)對(duì),33個(gè)單向影響技術(shù)對(duì)。雙向影響技術(shù)對(duì)主要包括(19,24)、(20,24)、(10,22)、(10,16),體現(xiàn)為金屬、化學(xué)與機(jī)械領(lǐng)域之間的相互影響,反映出德國納米技術(shù)在機(jī)械領(lǐng)域的逐步興起,這在單向影響技術(shù)對(duì)中也得到了一定體現(xiàn),如金屬(19、20)對(duì)通用機(jī)械(22)、專用機(jī)械(25)及辦公設(shè)備和計(jì)算機(jī)(28)等領(lǐng)域的單向影響。雖然目前德國納米技術(shù)在機(jī)械領(lǐng)域應(yīng)用還比較有限,但機(jī)械設(shè)備等領(lǐng)域的發(fā)展正逐步帶動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的興起。
韓國共有4組雙向影響技術(shù)對(duì),11個(gè)單向影響技術(shù)對(duì)。雙向影響技術(shù)對(duì)為(13,38)、(16,38)、(20,38)、(20,25),體現(xiàn)為化學(xué)、金屬與測量儀器以及金屬與專用機(jī)械之間的交互影響;單向影響技術(shù)對(duì)中,主要是化學(xué)、金屬、機(jī)械、電子元件和測量儀器等領(lǐng)域?qū)︶t(yī)療設(shè)備(37)產(chǎn)生了單向影響。韓國的醫(yī)療設(shè)備和測量儀器領(lǐng)域正積極與其他技術(shù)融合發(fā)展,是未來可能崛起的重要納米技術(shù)領(lǐng)域。
綜上,從技術(shù)影響指數(shù)及技術(shù)對(duì)分類來看,四國納米技術(shù)的交互影響模式呈現(xiàn)出明顯的差異。美國的技術(shù)交互影響主要集中在納米化學(xué)領(lǐng)域;日本的納米電子學(xué)、金屬、儀器及設(shè)備領(lǐng)域之間均存在一定的交互影響;德國主要集中在機(jī)械設(shè)備領(lǐng)域,而韓國體現(xiàn)為化學(xué)及金屬設(shè)備與醫(yī)療設(shè)備和測量儀器領(lǐng)域的交互影響??傮w而言,美國納米技術(shù)發(fā)展過程中的交互影響較弱,日本納米技術(shù)各領(lǐng)域間的交互融合程度較高,而德國和韓國的部分技術(shù)領(lǐng)域通過與其他技術(shù)的交叉融合,在納米技術(shù)向機(jī)械、計(jì)算機(jī)、儀器設(shè)備等領(lǐng)域的拓展應(yīng)用中發(fā)揮了積極作用。
為了從整體上考察所有納米技術(shù)領(lǐng)域之間的交互影響關(guān)系,以技術(shù)影響指數(shù)0.5作為技術(shù)間是否存在聯(lián)系的界定標(biāo)準(zhǔn),利用UCINET6.0軟件繪制日本、德國和韓國的技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)圖譜,如圖3所示。利用社會(huì)網(wǎng)絡(luò)分析中的“核心-邊緣”模型,對(duì)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行二值化轉(zhuǎn)換后,測算了日本、德國和韓國納米技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)的“核心-邊緣”結(jié)構(gòu)。
表4顯示了日本、德國和韓國技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)的“核心-邊緣”密度矩陣。德國的模型最終適合度最高(0.34),核心-邊緣結(jié)構(gòu)比較明顯;其次是日本,模型適合度為0.201,網(wǎng)絡(luò)也呈現(xiàn)出比較明顯的核心-邊緣結(jié)構(gòu),而韓國的模型適合度較低(0.119),網(wǎng)絡(luò)的核心與邊緣分塊趨勢(shì)較弱。具體而言,日本核心組之間的密度為0.221,說明核心技術(shù)領(lǐng)域之間的交互影響程度較高;核心組與邊緣組之間的密度僅為0.071和0.063,說明邊緣組技術(shù)領(lǐng)域與核心技術(shù)領(lǐng)域之間聯(lián)系較弱,而邊緣組之間的密度為0,表明邊緣組技術(shù)領(lǐng)域幾乎游離于技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)之外。德國核心組之間的密度為0.347,核心技術(shù)領(lǐng)域之間存在緊密的交互關(guān)系,而核心組對(duì)邊緣組的影響程度也較高,二者間的密度達(dá)到0.19,核心組技術(shù)領(lǐng)域帶動(dòng)了邊緣組技術(shù)領(lǐng)域的協(xié)同發(fā)展;但邊緣組對(duì)核心組的影響以及邊緣組之間的交互程度相對(duì)較低。韓國核心組之間也存在緊密的聯(lián)系,密度達(dá)到0.333,但核心組與邊緣組之間的交互關(guān)系較弱,邊緣組之間的交互程度反而較高,達(dá)到0.167。
圖3 日本、德國與韓國技術(shù)交互影響網(wǎng)絡(luò)圖譜
表4 日本、德國與韓國交互影響網(wǎng)絡(luò)“核心-邊緣”密度矩陣
表5具體統(tǒng)計(jì)了日本、德國和韓國的核心組與邊緣組技術(shù)領(lǐng)域。日本的核心組技術(shù)領(lǐng)域遍布化學(xué)、金屬、非金屬、電信、儀器設(shè)備等領(lǐng)域,邊緣組主要是制藥、機(jī)械、電池及照明、汽車等領(lǐng)域,核心領(lǐng)域與邊緣領(lǐng)域恰恰是日本納米技術(shù)的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)領(lǐng)域。德國的核心組技術(shù)領(lǐng)域包括化學(xué)、非金屬、機(jī)械、辦公設(shè)備和計(jì)算機(jī)、電子等領(lǐng)域,邊緣組包括制藥、金屬、電信、醫(yī)療設(shè)備、測量儀器等領(lǐng)域,其中制藥、醫(yī)療設(shè)備和測量儀器作為德國納米技術(shù)發(fā)展比較迅速的技術(shù),對(duì)其他技術(shù)的影響和帶動(dòng)作用還有待進(jìn)一步加強(qiáng)。韓國的核心組技術(shù)領(lǐng)域包括化學(xué)、制藥、金屬、醫(yī)療設(shè)備和測量儀器,邊緣組主要是辦公室設(shè)備、電子元件領(lǐng)域,其中電子元件作為專利最多的領(lǐng)域,并沒有在核心組與邊緣組的交互中充分發(fā)揮作用。
表5 日本、德國與韓國核心組與邊緣組技術(shù)領(lǐng)域分布
作為國家重大科學(xué)研究計(jì)劃之一,納米科技的研發(fā)在我國得到了政府科技部門、研究機(jī)構(gòu)和高校院所的充分重視[20]。目前,我國在納米技術(shù)基礎(chǔ)研究領(lǐng)域取得了顯著成就,在國際論文發(fā)表量方面居于世界前列,但在納米技術(shù)的應(yīng)用和商業(yè)化方面做得還遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠[2]。從美國專利和商標(biāo)局(USPTO)檢索結(jié)果看,截止到2010年,包含中國發(fā)明人的納米技術(shù)授權(quán)專利共有81件,其中第一件是在1997年授權(quán)。經(jīng)過十幾年的發(fā)展,我國納米技術(shù)擴(kuò)展到了16個(gè)技術(shù)領(lǐng)域,但專利數(shù)大于5件的僅有7個(gè)領(lǐng)域。其中,基本化學(xué)(10)、人造纖維(16)以及電子元件(34)領(lǐng)域是目前應(yīng)用較多的技術(shù)領(lǐng)域。可以看出,我國的納米技術(shù)主要應(yīng)用于部分基礎(chǔ)領(lǐng)域方面,多數(shù)應(yīng)用領(lǐng)域的發(fā)展仍處于起步階段。
從技術(shù)領(lǐng)域間的交互關(guān)系看,我國有28件專利屬于技術(shù)共現(xiàn)專利,大約占35%,技術(shù)融合發(fā)展的趨勢(shì)比美國和韓國明顯,但弱于日本和德國。專利數(shù)大于5的7個(gè)技術(shù)領(lǐng)域均與其他技術(shù)存在共現(xiàn)關(guān)系,但技術(shù)交互影響指數(shù)大于或等于0.5的交互影響技術(shù)對(duì)僅有六對(duì),分別為(34,38)、(25,34)、(25,18)、(10,18)、(16,34)和(15,16),均為單向影響技術(shù)對(duì),主要體現(xiàn)為電子元件、化學(xué)、機(jī)械、非金屬以及測量儀器領(lǐng)域之間的交互影響?;瘜W(xué)、人造纖維和電子元件作為專利最多的技術(shù)領(lǐng)域,也是我國納米技術(shù)發(fā)展中的核心領(lǐng)域,帶動(dòng)了納米技術(shù)向其他應(yīng)用領(lǐng)域的擴(kuò)展。
綜上,從納米技術(shù)發(fā)展模式上看,我國與德國發(fā)展模式有所類似,側(cè)重在化學(xué)、機(jī)械和電子等領(lǐng)域率先發(fā)展,通過彼此交互影響帶動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域協(xié)同發(fā)展。日本的發(fā)展模式可能是我國進(jìn)一步發(fā)展的借鑒,通過支持目前次優(yōu)領(lǐng)域(如非金屬、測量與儀器)的發(fā)展,使其逐步得到積累并形成一定的技術(shù)優(yōu)勢(shì),進(jìn)而擴(kuò)大核心技術(shù)領(lǐng)域的陣營。因此,政府應(yīng)該大力促使諸多核心技術(shù)之間產(chǎn)生良好的互動(dòng)融合,催發(fā)納米技術(shù)整體的協(xié)同發(fā)展效應(yīng),從而推動(dòng)我國納米技術(shù)實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展。
本文利用USPTO專利數(shù)據(jù),使用專利交互影響分析及社會(huì)網(wǎng)絡(luò)分析方法,分析了美國、日本、德國和韓國納米技術(shù)的發(fā)展模式,并探討了中國的發(fā)展路徑,研究結(jié)論如下。
第一,考察期內(nèi),美國和日本是納米技術(shù)實(shí)力最突出的國家,德國和韓國緊跟其后,各國納米技術(shù)呈現(xiàn)出不同的發(fā)展模式。美國采取的是各分支領(lǐng)域整體推進(jìn),相互獨(dú)立均衡發(fā)展的模式;日本采取的是優(yōu)勢(shì)領(lǐng)域重點(diǎn)發(fā)展,通過技術(shù)交互融合實(shí)現(xiàn)協(xié)同發(fā)展的模式;德國是關(guān)鍵技術(shù)領(lǐng)域率先突破,帶動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域共同發(fā)展的模式;韓國是基礎(chǔ)領(lǐng)域內(nèi)部率先交互融合,應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域選擇發(fā)展的模式。
第二,從納米技術(shù)領(lǐng)域的交互影響模式看,日本在納米化學(xué)、電子學(xué)、金屬、儀器及設(shè)備領(lǐng)域之間存在良好的交互融合;德國的化學(xué)、非金屬、機(jī)械、辦公設(shè)備和計(jì)算機(jī)、電子等領(lǐng)域的技術(shù)交互影響程度較高,尤其是機(jī)械設(shè)備領(lǐng)域;韓國的化學(xué)及金屬設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備和測量儀器等領(lǐng)域呈現(xiàn)協(xié)同發(fā)展的態(tài)勢(shì)。也就是說,各納米技術(shù)強(qiáng)國幾乎不約而同地把納米化學(xué)、電子學(xué)、金屬、關(guān)鍵儀器和設(shè)備等作為優(yōu)先發(fā)展的領(lǐng)域,并進(jìn)一步通過先發(fā)領(lǐng)域?qū)ο嚓P(guān)領(lǐng)域的單向帶動(dòng),形成納米技術(shù)體系的重點(diǎn)網(wǎng)絡(luò)模塊,再通過各網(wǎng)絡(luò)模塊間的交互作用實(shí)現(xiàn)技術(shù)領(lǐng)域的全局聯(lián)通,進(jìn)而促進(jìn)納米技術(shù)的整體發(fā)展。
第三,我國雖然在納米科學(xué)基礎(chǔ)研究方面取得了諸多成就,但在納米應(yīng)用技術(shù)開發(fā)方面與納米科技強(qiáng)國還有較大差距,納米技術(shù)領(lǐng)域之間的交叉融合程度較低。就各技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的推進(jìn)次序看,尚未實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵技術(shù)領(lǐng)域率先突破、關(guān)鍵技術(shù)領(lǐng)域向重點(diǎn)應(yīng)用領(lǐng)域滲透并帶動(dòng)相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展,進(jìn)而通過各技術(shù)領(lǐng)域的相互交叉、形成納米技術(shù)體系基本功能模塊的良性互動(dòng)的發(fā)展機(jī)制。就國外經(jīng)驗(yàn)的借鑒看,德國的發(fā)展模式是當(dāng)前階段可以借鑒的對(duì)象,應(yīng)該對(duì)當(dāng)前核心技術(shù)領(lǐng)域給予大力支持,同時(shí)建立產(chǎn)業(yè)融合發(fā)展平臺(tái)促進(jìn)與其他技術(shù)間的交互影響;在納米技術(shù)發(fā)展的下一階段,應(yīng)該借鑒日本的發(fā)展模式,促進(jìn)次優(yōu)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)積累,擴(kuò)大納米技術(shù)優(yōu)勢(shì)領(lǐng)域的范圍,并積極推進(jìn)核心技術(shù)網(wǎng)絡(luò)模塊間建立良好的協(xié)同發(fā)展機(jī)制,從而實(shí)現(xiàn)納米技術(shù)整體實(shí)力的提升,在全球競爭中占據(jù)領(lǐng)先地位。
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