統(tǒng)計學處理應寫明所用的統(tǒng)計學軟件及版本，對文中數(shù)據(jù)資料采取的數(shù)據(jù)表達形式，如正態(tài)分布且方差齊的計量資料采用±s表示，非正態(tài)或方差不齊時采用M（P25，P75）表示，不可采用±s、±s、Mean±SD 等表示。計數(shù)資料可以采用例（%）形式表示。

如文中采用了統(tǒng)計學檢驗時，應交代文中相應內容所采用的統(tǒng)計檢驗方法的具體名稱。在使用時，應根據(jù)研究的設計類型、資料性質及作者的分析目的選擇恰當?shù)姆椒?，如配對資料的t檢驗、兩獨立樣本資料的t檢驗、單因素方差分析 （包括進一步采用的兩兩比較的方法，如LSD-t法、SNK-q法、Bonferroni法及Dunnett-t法等）、重復測量資料的方差分析、卡方檢驗、秩和檢驗、Ridit分析、Pearson相關、Spearman相關、多重線性回歸、Logistic回歸、Cox回歸等。統(tǒng)計量t為英文小寫，F(xiàn)檢驗為英文大寫，卡方為希文小寫χ2，積差相關系數(shù)為英文小寫r，等級相關系數(shù)為英文小寫rs，樣本例數(shù)用英文小寫n，概率用英文大寫P。以上統(tǒng)計量均使用斜體表示。統(tǒng)計量（t值、F值、χ2等）和P值一般保留3位小數(shù)。若P值很小時，一般不寫P=0.000，而應為P<0.001。