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      高均勻性摻鎂鈮酸鋰晶體的生長(zhǎng)及光學(xué)性能研究

      2017-08-29 04:08解雅潔
      教育教學(xué)論壇 2017年35期
      關(guān)鍵詞:晶體生長(zhǎng)

      解雅潔

      摘要:我們生長(zhǎng)了以下四組配比的摻鎂鈮酸鋰晶體Li2O∶Nb2O5∶MgO=45.3∶50∶4.7、45.8∶50∶4.2、44.8∶50∶5.2、45.3∶49.9∶5.5,分別標(biāo)記為Mg1、Mg2、Mg3、Mg4,希望得到具有近化學(xué)計(jì)量比結(jié)構(gòu)的同成分高均勻性高質(zhì)量的摻鎂鈮酸鋰晶體。通過觀察晶體的生長(zhǎng)條紋,測(cè)試晶體的紫外—可見吸收譜和OH-吸收譜,研究其均勻性、內(nèi)部的缺陷結(jié)構(gòu)以及摻雜閾值。從實(shí)驗(yàn)結(jié)果來看,晶體均未達(dá)到閾值,但各部位吸收邊位置接近,表示晶體的均勻性良好。

      關(guān)鍵詞:鈮酸鋰;高摻鎂;晶體生長(zhǎng);均勻性;吸收譜

      中圖分類號(hào):G642.0 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A 文章編號(hào):1674-9324(2017)35-0059-03

      一、引言

      前人已經(jīng)對(duì)摻鎂鈮酸鋰做了大量的深入研究,南開大學(xué)付博[1]等人研究了紫外光輻照下,吸收邊與Mg摻雜濃度的閾值變化關(guān)系。比較了300—400nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的吸收光譜,得到摻Mg會(huì)讓晶體的吸收邊發(fā)生紫移的結(jié)論,摻Mg的濃度越高,吸收邊移動(dòng)越大。相比于同成分摻鎂鈮酸鋰,近化學(xué)計(jì)量比LiNbO3:Mg晶體還擁有更高的抗光損傷閾值、更大的電光系數(shù)、短的紫外吸收邊等優(yōu)點(diǎn),但是近化學(xué)計(jì)量比LN晶體較低的光損傷閾值也限制了它在非線性光學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用[2]。無(wú)論同成分還是近化學(xué)計(jì)量比摻鎂鈮酸鋰晶體都有優(yōu)良的性能,在很多方面都有重要的應(yīng)用,特別是高質(zhì)量、高均勻性的摻鎂鈮酸鋰晶體的生長(zhǎng)是當(dāng)前促進(jìn)這種晶體應(yīng)用急待解決的問題。

      由于鎂的分凝系數(shù)是1.2,摻鎂后鈮鋰比偏離同成分點(diǎn),所以生長(zhǎng)組分均勻且光學(xué)均勻性好的高質(zhì)量MgO:LN晶體是困難的。當(dāng)前解決問題的根本方法是尋找摻鎂鈮酸鋰晶體的同成分點(diǎn)。Kimura和Uda[3]研究了氧化物熔體晶體在生長(zhǎng)過程中離子的分凝情況,發(fā)現(xiàn)通過MgO的摻雜,非化學(xué)計(jì)量比的c-LN已經(jīng)轉(zhuǎn)化為三相系統(tǒng)中具有化學(xué)計(jì)量比的摻鎂鈮酸鋰晶體即cs-MgO:LN,這樣從三相組分中生長(zhǎng)出的摻鎂鈮酸鋰晶體相比于c-LN和s-LN,有更好的光學(xué)性能。當(dāng)摻鎂量在某一范圍時(shí),所有的摻雜都是cs-MgO:LN,具有統(tǒng)一的分凝系數(shù),在這樣的三相配比下生長(zhǎng)出的摻鎂鈮酸鋰都具有良好的均勻性。因此,我們生長(zhǎng)了以下四種配比的晶體。

      Li■O∶Nb■O■∶MgO=45.3∶50∶4.7

      Li■O∶Nb■O■∶MgO=45.8∶50∶4.2 (1)

      Li■O∶Nb■O■∶MgO=44.8∶50∶5.2

      Li■O∶Nb■O■∶MgO=45.3∶49.9∶5.5

      目的在于希望通過這樣的摻雜能生長(zhǎng)出三相組分下,各離子分凝系數(shù)達(dá)到統(tǒng)一的高質(zhì)量、高均勻性的摻鎂鈮酸鋰晶體,即cs-MgO:LN。

      二、晶體生長(zhǎng)

      將原料按照(1)式比例配比,混合均勻后,放到白金皿中燒結(jié),得到LiNbO3多晶料,采用計(jì)算機(jī)控制提拉法晶體生長(zhǎng)系統(tǒng)自動(dòng)控制晶體生長(zhǎng),該系統(tǒng)能夠?qū)w的直徑進(jìn)行很好地控制,生長(zhǎng)出的晶體表面光滑,有效減少了晶體表面臺(tái)階,從而大大提高了晶體內(nèi)部的均勻性。實(shí)驗(yàn)中生長(zhǎng)的4塊晶體均約50cm長(zhǎng),內(nèi)部通透,表面光滑,無(wú)肉眼可見的包裹體等缺陷,見圖1。

      為了觀察生長(zhǎng)條紋,我們將4塊晶體進(jìn)行了厚度3mm的y切片,用氦氖激光器經(jīng)擴(kuò)束后的激光將晶片投影,觀察生長(zhǎng)條紋。Mg1和Mg4生長(zhǎng)條紋比較明顯,條紋密集的地方,沿生長(zhǎng)方向大約每毫米的長(zhǎng)度內(nèi)有一條,Mg2和Mg3條紋不明顯,但是也比較密集。晶體的生長(zhǎng)條紋沿生長(zhǎng)方向基本呈現(xiàn)均勻分布,并沒有隨著摻鎂量的增加以及各組分分凝帶來頭部條紋少、尾部條紋多的現(xiàn)象出現(xiàn)。這說明我們的cs-MgO:LN系列晶體生長(zhǎng)的均勻性還是比較好的。

      三、光學(xué)性能研究

      1.紫外—可見吸收光譜的測(cè)試。鈮酸鋰晶體的光學(xué)吸收邊被認(rèn)為是電子由O2-的2P軌道向Nb5+的4d軌道躍遷所需能量決定的,摻雜離子進(jìn)入鈮酸鋰晶格,會(huì)影響帶隙寬度,造成吸收邊產(chǎn)生紅移或者紫移,因此通過紫外—可見光譜觀察吸收邊的移動(dòng),可以研究晶體內(nèi)部的缺陷結(jié)構(gòu)。我們采用BECKMAN DU-8B紫外—可見光分光光度計(jì),在室溫下測(cè)試1mm高摻鎂鈮酸鋰晶片的紫外—可見吸收譜。

      晶體的吸收邊位置定義為吸收系數(shù)α等于15 cm-1時(shí)對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)。選取300—500 nm作為吸收譜的范圍。為了分析晶體的均勻性,我們?cè)?塊樣品沿c軸方向的上中下部位分別取一點(diǎn)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。

      圖2為cs-MgO:LN系列摻鎂鈮酸鋰晶體中Mg2和Mg4的紫外—可見光吸收譜的測(cè)試結(jié)果。從圖中可以看到,Mg2上中下三部分的吸收邊范圍在317.0—317.25nm之間,相差不到0.5nm,且沿著c軸從上到下,吸收邊逐漸紅移。這是符合預(yù)期的,因?yàn)殡x子分凝會(huì)造成晶體下部分的摻鎂量小于上部分,隨著摻鎂量的減少,晶體缺陷增多,吸收邊逐漸紅移。從實(shí)驗(yàn)結(jié)果看,Mg1和Mg3都服從這樣的規(guī)律。但對(duì)于圖2中的Mg4,由于摻雜的配比與前三個(gè)不同,所以吸收邊呈現(xiàn)出不同的結(jié)果,樣品中部的吸收邊最小,然后是樣品頂端,最大的是樣品底部,但是所有樣品不同部位的吸收邊相差都不到0.5nm。由此可見,4塊樣品的光學(xué)均勻性還是比較好的。

      我們又選取4塊樣品中部點(diǎn)作對(duì)比,如圖3所示,Mg1、Mg2、Mg3晶體的吸收邊都在317nm左右,只有Mg4的吸收邊在315nm處發(fā)生了紫移,可見Mg4晶體的內(nèi)部缺陷相對(duì)較少,我們可以推測(cè)是因?yàn)镸g4晶體的摻鎂量最高且晶體的Li/Nb比最高。

      2.OH-吸收譜的測(cè)試。由于OH-振動(dòng)對(duì)周圍的離子環(huán)境非常敏感,可以將OH-作為探針來研究晶體的缺陷結(jié)構(gòu)。我們用MAGNA-560 FT-IR型紅外光譜儀在室溫下對(duì)1mm晶片進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試范圍為400—4000 cm-1,分辨率為4 cm-1,掃描次數(shù)為20次。

      圖4是cs-MgO:LN系列晶體的OH-吸收譜。如該圖所示,所有樣品的OH-吸收帶處于3484 cm-1附近,并沒有發(fā)生移動(dòng)。我們需要對(duì)它們的OH-吸收譜線進(jìn)行更詳細(xì)地研究。

      圖5為Mg2三峰擬合結(jié)果。為了比較cs-MgO:LN系列晶體OH-譜線內(nèi)部結(jié)構(gòu)的不同,我們將其進(jìn)行了歸一化處理。將它們的透射譜轉(zhuǎn)換成吸收譜,并對(duì)各吸收譜用Lorentz函數(shù)進(jìn)行三峰擬合,以便對(duì)譜線結(jié)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)一步的研究。

      我們同樣對(duì)其他3塊晶體進(jìn)行了擬合,擬合后Mg1的峰值為3485cm-1,Mg2、Mg3、Mg4的峰值為3483cm-1,cs-MgO:LN晶體的三峰擬合峰位與LN晶體的3484 cm-1相比,沒有發(fā)生大的變化。而對(duì)于cs-MgO:LN系列晶體,特別是Mg4,我們希望看到由于MgO的摻雜濃度超過閾值,Mg2+開始占據(jù)鈮位,而出現(xiàn)一個(gè)新的吸收峰3498cm-1。

      然而,cs-MgO:LN晶體OH-吸收譜的研究結(jié)果表明,在cs-MgO:LN系列的4塊晶體中,MgO的摻雜濃度都沒有達(dá)到實(shí)際閾值濃度。

      四、結(jié)論

      我們生長(zhǎng)的系列高摻鎂鈮酸鋰晶體,均勻性良好,Mg1、Mg2、Mg3晶體的吸收邊都在317nm左右,只有Mg4的吸收邊在315nm處發(fā)生了紫移,可見Mg4晶體的內(nèi)部缺陷相對(duì)較少,因?yàn)镸g4的摻鎂量最高且Li/Nb比最高。OH-吸收譜的研究結(jié)果表明,在cs-MgO:LN系列的4塊晶體中,MgO的摻雜濃度都沒有達(dá)到實(shí)際閾值,所以進(jìn)行更高濃度的摻雜,生長(zhǎng)高品質(zhì)的高摻鎂鈮酸鋰晶體是接下來要做的重要工作。

      參考文獻(xiàn):

      [1]付博,張國(guó)權(quán),趙璐冰.同成分摻鎂鈮酸鋰晶體的紫外光至吸收與之效應(yīng)的研究[J].光學(xué)學(xué)報(bào),2005,(25).

      [2]Furukawa Y,Sato M,Kitamura K,et a1.J.Appl.Phys,1992,72(8):3250-3254.

      [3]Conversion of non-stoichiometry of LiNbO3 to constitutional stoichiometry by impurity doping;Hiromitsu Kimura,Satoshi Uda;J Crystal Growth,2009,(311):4094-4101.

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