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      透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)教學(xué)中常見非正?,F(xiàn)象快速判斷與矯正方法研究

      2019-08-03 02:03:22劉利娜陶佳杭義萍
      中國(guó)教育技術(shù)裝備 2019年2期
      關(guān)鍵詞:實(shí)驗(yàn)教學(xué)

      劉利娜 陶佳 杭義萍

      摘 ?要 透射電子顯微鏡在高校的需求率不斷增加,因其操作復(fù)雜,使用過程中學(xué)生對(duì)一些非正?,F(xiàn)象很難快速正確應(yīng)對(duì)。探討比如燈絲像簡(jiǎn)易調(diào)節(jié)方法、電荷耦合器件圖像傳感器背景矯正判斷和樣品高度快速調(diào)焦的方法,對(duì)提高學(xué)生學(xué)習(xí)效率、減少操作失誤、拍出高質(zhì)量圖片很有幫助。同時(shí)減少學(xué)生眼睛的勞損,有益身心健康。

      關(guān)鍵詞 透射電子顯微鏡;燈絲像;CCD;實(shí)驗(yàn)教學(xué);透射電鏡及應(yīng)用

      中圖分類號(hào):G642.423 ? ?文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:B

      文章編號(hào):1671-489X(2019)02-0119-03

      1 引言

      隨著科學(xué)的發(fā)展,人們對(duì)微觀世界的研究不斷深入,透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,TEM)的應(yīng)用也越來(lái)越廣泛[1-5]??蒲兄袑?duì)TEM的需求量也大幅增加[6-8],培訓(xùn)學(xué)生熟練掌握TEM的操作,讓學(xué)生自行測(cè)試,勢(shì)在必行。華南理工大學(xué)化學(xué)與化工學(xué)院針對(duì)化學(xué)類專業(yè)碩士研究生開設(shè)了實(shí)驗(yàn)課“透射電鏡及應(yīng)用”,學(xué)生在實(shí)踐操作環(huán)節(jié)需要自己動(dòng)手進(jìn)行下列操作:

      1)樣品的制備,包括銅網(wǎng)的選擇、粉末樣品的分散和制備、塊體樣品的切割、打磨、凹坑和減薄等;

      2)針對(duì)學(xué)科特點(diǎn),選擇既可以拍攝低倍形貌,也可以拍攝高分辨晶格相的樣品,此時(shí)要尋找合適的樣品區(qū)域,拍攝清晰的低倍形貌照片以及高分辨電子顯微圖像;

      3)針對(duì)圖像數(shù)據(jù)的處理,指導(dǎo)學(xué)生采用CCD軟件測(cè)量樣品的尺寸、晶面間距等,學(xué)會(huì)樣品缺陷結(jié)構(gòu)的觀察以及電子衍射的簡(jiǎn)單標(biāo)定等,并利用晶體的理論知識(shí)與實(shí)際數(shù)據(jù)結(jié)果相聯(lián)系,進(jìn)行分析和理解。

      在實(shí)驗(yàn)教學(xué)過程中發(fā)現(xiàn),由于TEM操作步驟煩瑣,尤其是在出現(xiàn)一些非正常現(xiàn)象時(shí),學(xué)生很難判斷問題所在,更無(wú)法快速做出相應(yīng)的矯正措施。另外,由于經(jīng)驗(yàn)不足,每位學(xué)生的操作時(shí)間都比較長(zhǎng),導(dǎo)致在有限的教學(xué)時(shí)間里完成不了實(shí)驗(yàn),導(dǎo)致有部分學(xué)生操作時(shí)間太短,甚至沒機(jī)會(huì)上機(jī)操作。同時(shí),在有限的教學(xué)時(shí)間里,學(xué)生也沒能很好地掌握透射電子顯微鏡正確的使用方法。因此,本文以JEM-2100透射電子顯微鏡為例,針對(duì)其在操作過程中出現(xiàn)的一些常見非正?,F(xiàn)象,探討改革相應(yīng)的判斷方法,建立簡(jiǎn)易的矯正方法,提高學(xué)生的學(xué)習(xí)效率,減少眼睛勞損,同時(shí)拍出高質(zhì)量的圖片。

      2 教學(xué)中出現(xiàn)的非正?,F(xiàn)象

      學(xué)生初次學(xué)習(xí)透射電子顯微鏡,必然存在許多問題,舉三個(gè)比較典型的問題進(jìn)行改進(jìn)。

      問題1 ?JEM-2100透射電子顯微鏡的光源是LaB6燈絲,隨著使用時(shí)間的延長(zhǎng),LaB6燈絲也在不斷消耗,燈絲形狀會(huì)發(fā)生變化。如圖1所示,其中a為L(zhǎng)aB6正常的晶體形狀,光束由下部尖端發(fā)出;使用消耗后,正常燈絲形狀應(yīng)該為b形狀;但有時(shí)因消耗不均勻,LaB6晶體可能變成類似c形狀或其他不規(guī)則形狀,從而發(fā)射出來(lái)的光束方向發(fā)生偏移,即光斑的中心位置發(fā)生偏移,影響樣品圖片的清晰度,使得光斑亮度降低,導(dǎo)致分辨率降低,影響觀察,同時(shí)給眼睛帶來(lái)更大負(fù)擔(dān)。因此,需要通過調(diào)節(jié)燈絲像來(lái)矯正電子槍位置,正常的燈絲像如圖2所示。

      問題2 ?作為透射電子顯微鏡的拍照軟件,照片的背景必須干凈,對(duì)樣品無(wú)影響,因此需要進(jìn)行背景扣除。一般若背景不正常,會(huì)出現(xiàn)弧形條紋,如圖3中箭頭所示,而且樣品的清晰度也受到一定的影響。

      問題3 ?在TEM樣品拍照中,聚焦是一個(gè)重要問題,即不能欠焦,如圖4所示,樣品形貌不真實(shí);但也不能嚴(yán)重過

      焦,如圖5所示,照片視覺效果很差,所以拍照需要達(dá)到正焦。

      3 針對(duì)教學(xué)中出現(xiàn)的上述三個(gè)問題進(jìn)行改進(jìn)操作

      改進(jìn)燈絲像的調(diào)節(jié)方法 ?JEM-2100透射電子顯微鏡光源LaB6燈絲的原理是在高壓激發(fā)下發(fā)射電子,產(chǎn)生電子束,再經(jīng)各級(jí)光欄調(diào)節(jié)篩選出一束近乎平行的光束,與樣品相互作用,得出樣品的形貌及結(jié)構(gòu)特征。常規(guī)調(diào)節(jié)燈絲像方法[9]過程存在三點(diǎn)問題:

      1)操作步驟較多;

      2)在調(diào)節(jié)燈絲飽和度和偏壓過程中會(huì)使Beam Current值升高或降低,可能會(huì)導(dǎo)致高壓不穩(wěn)定,出現(xiàn)掉高壓現(xiàn)象,再重新升高壓又很浪費(fèi)時(shí)間;

      3)調(diào)節(jié)燈絲像過程耗時(shí)較長(zhǎng),眼睛長(zhǎng)時(shí)間觀察,損害眼睛。

      為了解決以上問題,筆者經(jīng)過多次試驗(yàn),發(fā)現(xiàn)一種既簡(jiǎn)單又快速的調(diào)節(jié)燈絲像的方法。改革后的方法就是電子槍的合軸,即觀察燈絲像的形狀,若燈絲像變形,出現(xiàn)各種不對(duì)稱的現(xiàn)象,甚至有的只有半邊燈絲像,如圖6所示,則說明燈絲偏離,需要重新合軸,進(jìn)行燈絲像調(diào)節(jié)。

      具體操作步驟:在放大倍數(shù)為四萬(wàn)倍時(shí),將光斑縮為最小;按F4鍵,調(diào)節(jié)多功能鈕X和Y,直至光斑最亮為止;若最小光斑中心有三角形內(nèi)斑,則調(diào)至正中心,也即為光斑最亮?xí)r,一般也是燈絲位置最佳狀態(tài)。

      CCD背景矯正判斷 ?CCD作為透射電子顯微鏡的拍照軟件,照片的背景必須干凈,對(duì)樣品無(wú)影響。改進(jìn)后的方法:在樣品空白處,TEM放大倍數(shù)為15~30 K之間的任意倍數(shù),將光斑放大至滿屏;CCD條件選擇在所有放大倍數(shù)下做一次圖像采集,則背景恢復(fù)正常,條紋消失,如圖7中箭頭所指空白處所示。

      樣品高度快速調(diào)焦 ?在TEM樣品拍照中,首要做常規(guī)合軸,其中一項(xiàng)為調(diào)節(jié)樣品高度。在低倍時(shí),可將光斑縮為最小;如果出現(xiàn)多圈光暈,如圖8所示,則需調(diào)節(jié)樣品高度,使光暈消失,縮為一個(gè)光斑,則樣品高度基本合適。一般具體操作:按Z鍵,同時(shí)可根據(jù)需要點(diǎn)擊TEM軟件上Z右側(cè)的加速鍵,但調(diào)節(jié)速度仍然很慢,且在此時(shí)眼睛需一直觀察光斑,會(huì)對(duì)眼睛造成損傷。

      筆者在教學(xué)中進(jìn)行多次試驗(yàn)驗(yàn)證后,改進(jìn)方法;在按亮控制軌跡球快速或慢速移動(dòng)的粗調(diào)鍵時(shí),可以更快速地調(diào)節(jié)樣品高度,如圖9所示,使光暈消失,更好地保護(hù)眼睛不受強(qiáng)光的長(zhǎng)時(shí)間刺激。

      4 結(jié)語(yǔ)

      通過對(duì)透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)教學(xué)中常見非正?,F(xiàn)象快速判斷與矯正方法的研究,并將改進(jìn)后的方法應(yīng)用于教學(xué)中,收到很好的教學(xué)效果,也受到師生的一致好評(píng)。

      1)使學(xué)生更好、更快速地掌握了如何判斷需要調(diào)節(jié)燈絲像和燈絲位置,怎樣使用快速簡(jiǎn)單的調(diào)節(jié)方法,何時(shí)需要背景矯正和快速調(diào)節(jié)樣品高度,如何拍出高質(zhì)量的圖片,等等,增強(qiáng)了學(xué)生的信心,提高了學(xué)習(xí)操作的興趣。

      2)提高了實(shí)驗(yàn)課堂教學(xué)效率,縮短了教學(xué)時(shí)間。由于透射電子顯微鏡臺(tái)套數(shù)少,而學(xué)生人數(shù)比較多,在有限的教學(xué)時(shí)間里,每一個(gè)學(xué)生上機(jī)操作的時(shí)間增加了,得到更多的操作鍛煉。

      3)因?yàn)槭轻槍?duì)研究生開設(shè)的實(shí)驗(yàn),本教學(xué)的改進(jìn)對(duì)后期研究生在科研中自行高效地使用透射電子顯微鏡帶來(lái)幫助,有利于科研的順利開展。

      4)改進(jìn)后的方法因?yàn)闇p少了時(shí)間,也同時(shí)降低了對(duì)操作人員眼睛的損害程度,保護(hù)了學(xué)生的身心健康。

      當(dāng)然,隨著“透射電鏡及應(yīng)用”實(shí)驗(yàn)的進(jìn)行和深入,還會(huì)出現(xiàn)一些其他的問題,需要進(jìn)一步探討和研究,以保證該實(shí)驗(yàn)的教學(xué)對(duì)研究生期間的科研起到更好的幫助作用,為提高教學(xué)質(zhì)量做出應(yīng)有的貢獻(xiàn)。

      參考文獻(xiàn)

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      [9]進(jìn)藤大輔,及川哲夫.材料評(píng)價(jià)的分析電子顯微方法[M].劉安生,譯.北京:冶金工業(yè)出版社,2001:42-43.

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