• 
    

    
    

      99热精品在线国产_美女午夜性视频免费_国产精品国产高清国产av_av欧美777_自拍偷自拍亚洲精品老妇_亚洲熟女精品中文字幕_www日本黄色视频网_国产精品野战在线观看 ?

      新型垂直導(dǎo)電體PCB與傳統(tǒng)導(dǎo)通孔PCB之性能博弈

      2019-08-22 09:58:14孫麗麗莫錫焜JoeDickson
      印制電路信息 2019年8期
      關(guān)鍵詞:通孔熱應(yīng)力結(jié)論

      孫麗麗 莫錫焜 Joe Dickson

      (滬士電子股份有限公司,江蘇 昆山 215301)

      0 前言

      目前被行業(yè)所熟知的PCB設(shè)計(jì)中各層次線(xiàn)路是通過(guò)鉆孔后電鍍銅連接,而垂直導(dǎo)電體結(jié)構(gòu)(VeCS:Vertical Conductive Structure)[1]作為新型的PCB設(shè)計(jì)。此技術(shù)將原始的BGA密集孔設(shè)計(jì)改為垂直銅柱設(shè)計(jì),在加工過(guò)程中取消了原始BGA位的鉆孔,通過(guò)銑長(zhǎng)短槽的方法將垂直導(dǎo)體銅柱逐個(gè)分割。目前的0.8 mmpitch的BGA只可以走單線(xiàn),但是VeCS可以走五條線(xiàn)路,大大的提高了布線(xiàn)密度(如圖1)。

      圖1 標(biāo)準(zhǔn)機(jī)喝VeCs設(shè)計(jì)圖

      1 加工方法比較

      以0.5 mmpitch的VeCS加工為例,首先用0.5 mm銑刀銑初槽,初槽可以根據(jù)客戶(hù)的需要為通槽或者為盲槽;然后進(jìn)行第二步電鍍,此步驟之后槽體內(nèi)壁與槽底部均鍍有25 μm(1 mil)銅。第三步采用0.3 mm的槽刀銑取底銅;再銑斷槽內(nèi)壁,從而將槽內(nèi)壁切割成一個(gè)個(gè)孤立的銅柱(如圖2)。

      2 VeCS與傳統(tǒng)導(dǎo)通孔可靠性比較

      2.1 測(cè)試樣品

      2.2 再流焊(Refiow)可靠性比較

      (1)測(cè)試條件(見(jiàn)表2、圖3)

      (2)再流焊的接受標(biāo)準(zhǔn)與結(jié)果

      接受標(biāo)準(zhǔn)為再流焊測(cè)試6次以后無(wú)爆板分層問(wèn)題(見(jiàn)圖4)。

      結(jié)論:在相同測(cè)試條件下采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB與常規(guī)設(shè)計(jì)PCB均可以通過(guò)6次Reflow測(cè)試,并且采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB在經(jīng)過(guò)10次再流焊后未出現(xiàn)開(kāi)路與爆板分層問(wèn)題。

      圖2 加工流程比較圖

      表1 測(cè)試樣品結(jié)構(gòu)

      表2 再流焊測(cè)試條件

      圖3 測(cè)試時(shí)真實(shí)溫度監(jiān)控曲線(xiàn)

      圖4 再流焊測(cè)試結(jié)果

      2.3 熱應(yīng)力可靠性比較

      (1)熱應(yīng)力測(cè)試條件:浸錫288 ℃、10 s、3次。

      (2)熱應(yīng)力的接受標(biāo)準(zhǔn)及結(jié)果:接受標(biāo)準(zhǔn)為三次浸錫后無(wú)分層現(xiàn)象(見(jiàn)圖5)。PCB電阻變化率僅0.1%,而常規(guī)設(shè)計(jì)的PCB 設(shè)計(jì)的測(cè)試結(jié)果變化率最大值為6.7%。

      綜上采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB的可靠性?xún)?yōu)于常規(guī)PCB。

      圖5 熱應(yīng)力測(cè)試結(jié)果

      結(jié)論:在相同測(cè)試條件下采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB均可以通過(guò)熱應(yīng)力的測(cè)試。即采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB的熱應(yīng)力性能可以達(dá)到常規(guī)PCB的能力。

      2.4 熱循環(huán)測(cè)試(TCT:Thermal Cycle Test)

      (1)測(cè)試條件:TCT前試樣進(jìn)行6次再流焊(同2.2)(見(jiàn)表3)。

      表3 TCT條件

      (2)接受標(biāo)準(zhǔn)與結(jié)果:TCT測(cè)試接受標(biāo)準(zhǔn):電阻變化率小于10%,(見(jiàn)表4)。

      結(jié)論:在相同測(cè)試條件下采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB均可以通過(guò)TCT測(cè)試,其中采用VeCS設(shè)計(jì)的

      2.5 導(dǎo)電陽(yáng)極絲(CAF:Conductive Anodic Filament)測(cè)試

      (1)測(cè)試條件:CAF測(cè)試前進(jìn)行6次再流焊(同2.2)(見(jiàn)表5)。

      (2)測(cè)試接受標(biāo)準(zhǔn)及結(jié)果:CAF測(cè)試接受標(biāo)準(zhǔn):測(cè)試100 0h過(guò)程中保持電阻>107Ω,且測(cè)試過(guò)程中電阻變化<10%。測(cè)試結(jié)果如圖6。

      結(jié)論:在相同測(cè)試條件下采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB與常規(guī)PCB均可以通過(guò)1000 h CAF測(cè)試,此結(jié)果說(shuō)明采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB的CAF可靠性可以達(dá)到常規(guī)PCB的設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)。

      3 VeCS 與傳統(tǒng)導(dǎo)通孔的阻抗與信號(hào)性能比較

      (1)插損測(cè)試試樣板(見(jiàn)圖7)。

      表4 TCT結(jié)果(單位:?)

      表5 CAF測(cè)試條件

      (2)插損測(cè)試條件及測(cè)試結(jié)果。

      (3)插損測(cè)試條件及測(cè)試結(jié)果(見(jiàn)圖8)。

      結(jié)論:在同等對(duì)比條件下,VeCS的插入損耗均小于傳統(tǒng)的孔加背鉆結(jié)構(gòu)。

      4 結(jié)論

      傳統(tǒng)的通孔(through hole)與盲孔設(shè)計(jì)不只占用很大的空間,同時(shí)也對(duì)SI有負(fù)面的干擾影響。

      任意層互連(Any layer)雖然有助于增加布線(xiàn)密度,但是成本高、工時(shí)長(zhǎng),VeCS(垂直導(dǎo)電體結(jié)構(gòu))技術(shù)則在這方面有質(zhì)的突破。

      圖6 測(cè)試結(jié)果

      圖8 插損測(cè)試條件與結(jié)果

      采用VeCS設(shè)計(jì)的PCB與傳統(tǒng)的PCB相比,VeCS的可靠性與信號(hào)性能優(yōu)勢(shì)明顯,完全可以滿(mǎn)足汽車(chē)板,服務(wù)器類(lèi)板的高可靠性與信號(hào)要求。同時(shí)VeCS的設(shè)計(jì)可以為終端客戶(hù)節(jié)省大面積空間布線(xiàn),從而達(dá)到降層與降低成本的雙從優(yōu)勢(shì)。

      猜你喜歡
      通孔熱應(yīng)力結(jié)論
      由一個(gè)簡(jiǎn)單結(jié)論聯(lián)想到的數(shù)論題
      WNS型鍋爐煙管管端熱應(yīng)力裂紋原因分析
      立體幾何中的一個(gè)有用結(jié)論
      一種高密度薄膜多層布線(xiàn)基板BCB通孔制作技術(shù)
      采用單元基光滑點(diǎn)插值法的高溫管道熱應(yīng)力分析
      結(jié)論
      多層高速 PCB 通孔分析與設(shè)計(jì)
      基于流熱固耦合的核電蒸汽發(fā)生器傳熱管熱應(yīng)力數(shù)值模擬
      車(chē)用增壓器渦殼熱應(yīng)力預(yù)測(cè)技術(shù)的開(kāi)發(fā)
      三維疊層DRAM封裝中硅通孔開(kāi)路缺陷的模擬
      嘉定区| 葫芦岛市| 南丰县| 科技| 措美县| 保山市| 卓资县| 新建县| 文昌市| 龙江县| 济宁市| 竹山县| 登封市| 会同县| 新丰县| 璧山县| 大关县| 兰西县| 交城县| 喀喇沁旗| 灵丘县| 任丘市| 堆龙德庆县| 富平县| 中方县| 区。| 贞丰县| 凌云县| 南阳市| 五寨县| 贵南县| 潜江市| 宁河县| 兴文县| 石城县| 特克斯县| 桐柏县| 布尔津县| 朔州市| 治县。| 青河县|