王子文,李浩源,鄧 莉,張詩按,馬 彬,國澤镕
(華東師范大學 物理與電子科學學院,上海 200241)
本文利用示波器,采用三種可視化方法測量RLC串聯(lián)電路欠阻尼信號的衰減常數(shù),通過Desmos軟件擬合欠阻尼圖像,并對測量結(jié)果的準確度進行了評估。采用能量損耗方程式,計算損耗電阻,并對理論值進行了修正,修正后的理論值與實驗測量值吻合度提高。
RLC串聯(lián)電路如圖1所示,電源為方波,當Us從高電平降為0,電路開始放電,這一過程中,電阻、電感、電容的總電壓恒為0,列出微分方程為:
圖1 RLC串聯(lián)電路
(1)
(2)
圖2 包絡(luò)線法測量τ值
由圖2可以看到,用包絡(luò)線法測量τ值的確可以反映真實的暫態(tài)過程,但只是近似,需要擬合出包絡(luò)線,增大了操作的難度,引入實驗誤差。
tan(ωdt+φ)=ωdτ
(3)
(4)
將(4)帶入到公式(2)中,可得:
(5)
其中UCM為振蕩峰值。
令UCM為振蕩峰值的絕對值,可得:
(6)
取對數(shù)可得:
(7)
根據(jù)式(7)可以看到最大振幅的對數(shù)與時間t呈線性關(guān)系,因此,測量一系列(UCM,t)值,做出lnUCM-t直線,根據(jù)斜率就可以求出τ值。圖解法直接根據(jù)曲線上的點進行測量,因此是一種精確的測量方法。
又由式(6)可知,振動的峰值呈指數(shù)衰減。如果類似包絡(luò)線法,作連接振動峰值的點的曲線,測量它從最大振幅降到最大振幅0.368倍處的時間間隔也可以得到τ。包絡(luò)線法用的是切點不是頂點,自然就有實驗誤差,只能作為近似求法。
根據(jù)式(3)可知達到振蕩峰值的時間為:
(8)
因此arctan(ωdτ)=kπ+φ,可知達到振蕩峰值的時間為:
(9)
因此,振蕩的周期為:
(10)
根據(jù)這一關(guān)系,得到一種準確測量τ值的方法,即比值法。
設(shè)相隔n個周期的2個最大正峰值為UCM1和UCM(n+1),將它們相除,根據(jù)(6)式可得:
(11)
因此,測量兩個最大正峰值和它們之間的振蕩周期數(shù)也可以算出τ值,比值法也是一種精確測量的方法。
圖3 欠阻尼波形圖
實驗測得電容電壓從初始振幅下降到初始振幅0.368倍的時間為ΔT=τ測=400 μs,測量值與理論值的相對誤差P=14.5%。
保持狀態(tài)不變進行圖解法測量,結(jié)果如表1和圖4所示:
表1 用圖解法測量τ值
由圖4可知,lnUCM=-0.002 66t+3.425 14,斜率k=-0.002 66,因此可知τ測=375.9μs,測量值與理論值的相對誤差P=19.7%。
根據(jù)圖4,取相隔較遠且在直線上的兩點,UCM1=29.2V,UCM5=3.6V,n=4,Td=200.0μs,代入公式(11),可得τ測=382.2μs,測量值與理論值的相對誤差P=18.4%。
以上三種方法測得的τ值與理論值之間的相對誤差都較大,超過了10%,且測量值都小于理論值,故一定還存在某種因素造成該系統(tǒng)誤差。
將欠阻尼放電過程電容電壓的表達式即式子(2)和相關(guān)參數(shù)輸入到Desmos軟件中,得到的圖像如圖5所示:
圖5 軟件擬合欠阻尼放電過程
讀取圖中數(shù)據(jù),用圖解法處理,結(jié)果如表2和圖6所示。由圖6可知,
lnUCM=-2136.7t+3.376,
斜率k=-2136.7,因此可知τ測=468.0μs,測量值與理論值的相對誤差P=0.02%。
表2 軟件擬合法數(shù)據(jù)
圖6 軟件擬合法lnUCM-t圖
取表2中的第2組和第8組數(shù)據(jù),用比值法計算,得到τ測=467.7μs,測量值與理論值的相對誤差P=0.09%。
在Desmos軟件中只能精確讀取曲線上的點的坐標,而使用包絡(luò)法常常需要精確讀取曲線外的點,故測量誤差很大,因此包絡(luò)線法不適用于Desmos軟件擬合。
使用圖解法和比值法在軟件擬合測量時間常數(shù)時誤差都非常小,小于千分之一,說明這兩種方法的確能夠精準測量時間常數(shù)。
為什么軟件擬合時的誤差幾乎為零而實際實驗中誤差卻超過了10%呢?這是因為軟件擬合相當于實驗時使用的儀器都是理想的,而實際上儀器中會有各種損耗,這些損耗可以看成損耗電阻,它們使得電路中總電阻偏大,從而導致時間常數(shù)減小。
電路損耗主要來源于電感和電容,因此把電路中總的損耗電阻記為RLC。下面用能量損耗方程式計算出損耗電阻RLC并修正τ值。
由(2)式可得電路中的電流為:
(12)
(13)
因此可得:
(14)
將RLC代入,可得:
(15)
就可以得到修正后的理論值。
將各方法測得的時間常數(shù)帶入式子(14)和式子(15),就可求出電路的損耗電阻和修正的理論值,如表3所示:
表3 三種方法測得到的RLC與修正的理論值
由表3可知,每種方法的實驗測量值與修正理論值符合得都很好,相對誤差在1%以內(nèi),且圖解法和比值法的誤差相對于包絡(luò)法更小,測量更加精確。
采用包絡(luò)法、圖解法、比值法三種可視化方法測量RLC串聯(lián)電路欠阻尼信號的衰減常數(shù),對三種方法的測量準確性進行了評估,發(fā)現(xiàn)包絡(luò)線法近似測量、還是圖解法、比值法精確測量,測得的時間常數(shù)都與理論值存在超過10%的較大偏差。說明圖解法和比結(jié)合Desmos軟件擬合欠阻尼圖像進行模擬,測得的時間常數(shù),測量值與理論值相差小于0.1%,提高了測量的準確度。采用能量損耗方程式,計算損耗電阻,并對理論值進行進一步修正,理論值與實驗測量值相對誤差小于1%,說明了該修正方法的有效性。修正后的理論值與精確測量的時間常數(shù)符合得很好。本研究也為測量損耗電阻提供了一個新的實驗測量方法。