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      基于負(fù)載跟蹤技術(shù)的低漏失大電流LDO 的設(shè)計

      2022-02-14 02:55:44茅欣彧汪西虎姚和平閆兆文
      電子元件與材料 2022年1期
      關(guān)鍵詞:功率管柵極緩沖器

      茅欣彧 ,汪西虎, ,姚和平, ,閆兆文,

      (1.西安郵電大學(xué) 電子工程學(xué)院,陜西 西安 710121;2.上海電子線路智能保護工程技術(shù)研究中心,上海 201202;3.上海維安電子有限公司,上海 201202)

      便攜式電子產(chǎn)品在當(dāng)代生活中有著廣泛需求,例如手機、智能手機、PAD、MP3 等產(chǎn)品。隨著電子產(chǎn)品性能的進一步提升,LDO 作為它們的供電電源需具有更為寬泛的輸入電壓和更小的漏失電壓以提高工作效率,在中低頻需具有較高的電源抑制比(Power Supply Rejection Ratio,PSRR)以消除前級功率放大器產(chǎn)生的電池電壓紋波,保證良好的音質(zhì)。針對以上要求,本文設(shè)計了一款低漏失高穩(wěn)定性高PSRR 的LDO。

      LDO 由多級放大器級聯(lián)而成,環(huán)路中存在多個零極點,位于LDO 輸出端的極點動態(tài)變化影響環(huán)路相位裕度,如何保持環(huán)路穩(wěn)定是設(shè)計關(guān)鍵[1]。文獻[2]采用ESR 補償功率管輸出極點,通過密勒補償對運算放大器內(nèi)部極點進行補償,但ESR 補償只能在固定范圍內(nèi)進行補償,密勒補償電容面積大,低頻PSRR 較低。文獻[3]通過一種電流模式方法,建立左半平面零點,抵消低頻極點,但會消耗額外的電流,增加功耗。

      本文采用負(fù)載跟蹤技術(shù)對環(huán)路進行補償。通過高精度采樣網(wǎng)絡(luò),控制工作在深線性區(qū)的MOS 管柵極電壓,將該MOS 管等效為可變電阻,與頻率補償電容串聯(lián)接入環(huán)路,對動態(tài)極點進行補償。同時設(shè)置負(fù)載電流監(jiān)測電路,精準(zhǔn)控制MOS 管等效電阻阻值。為進一步提高環(huán)路穩(wěn)定性,緩沖級采用阻抗衰減緩沖器,降低緩沖級輸出阻抗,在單位增益帶寬積內(nèi)具有足夠大的相位裕度。

      1 傳統(tǒng)的LDO 結(jié)構(gòu)

      圖1 為傳統(tǒng)LDO 結(jié)構(gòu),由基準(zhǔn)電壓(VREF)、誤差放大器(Error Amp,EA)、緩沖器(Buffer)和功率管PMOS 組成,電阻RF1和RF2為反饋電阻,RL和CL分別為負(fù)載電阻和負(fù)載電容,RESR為ESR 電阻。在結(jié)構(gòu)形式上,LDO 屬于電壓串聯(lián)負(fù)反饋電路,具有輸出電壓穩(wěn)定、輸出電阻小、驅(qū)動能力強的特點[4-5]。反饋電壓VFB與基準(zhǔn)電壓經(jīng)過誤差放大器進行比較,通過調(diào)整控制功率管柵極電壓,對輸出電壓VOUT和負(fù)載電流IOUT進行控制。由于內(nèi)阻和寄生電容的存在,環(huán)路中的極點分別位于誤差放大器輸出端、功率管柵極和LDO 輸出端:

      圖1 傳統(tǒng)LDO 結(jié)構(gòu)Fig.1 Traditional LDO structure

      式中:rOEA是誤差放大器輸出端的輸出阻抗;CBuf是緩沖器輸入端等效電容;rOBuf是緩沖器的輸出阻抗;CP是功率管柵極的輸入電容;rout是LDO 輸出端的等效電阻。為了提高環(huán)路的穩(wěn)定性,要求rOEA和CP都要很小,保證極點P1和P2處于遠離單位增益頻率的高頻位置。然而隨著rOEA的減小,環(huán)路增益下降,LDO 電壓輸出精度受到影響;同時,減小CP需要減小調(diào)整管的尺寸,這將使得LDO 不能滿足低漏失、驅(qū)動大負(fù)載電流的特性需求。

      2 電路設(shè)計

      本文設(shè)計的低漏失大電流LDO 采用負(fù)載跟蹤技術(shù)。主要由以下模塊構(gòu)成:誤差放大器、阻抗衰減緩沖器、電流監(jiān)測模塊、動態(tài)零點補償模塊、采樣管和功率管,電路結(jié)構(gòu)如圖2 所示。

      圖2 負(fù)載跟蹤補償方案的LDO 結(jié)構(gòu)Fig.2 LDO structure of load tracking compensation scheme

      在此設(shè)計中,采用N 型MOS 作為功率管,VIN為其供電,相較于文獻[6]使用電荷泵為NMOS 柵極供電,該方法節(jié)約面積,減小電路冗余度,可獲得低漏失電壓、大輸出電流特性。補償方案采用新穎的負(fù)載跟蹤補償方案,同時添加負(fù)載電流監(jiān)測電路,保證重載下動態(tài)零點更好地追蹤輸出極點;采用阻抗衰減緩沖器進一步減小緩沖器的等效輸出電阻。

      2.1 低漏失高穩(wěn)定性LDO 電路設(shè)計

      本文提出的LDO 結(jié)構(gòu)圖,由誤差放大器、采樣電路、負(fù)載電流監(jiān)測電路和零點-極點跟蹤補償電路組成,如圖3 所示。

      圖3 提出的LDO 具體電路Fig.3 The proposed LDO specific circuit

      誤差放大器采用兩級運放結(jié)構(gòu),相比于折疊式運放與套筒運放,兩級運放的功耗和噪聲較低[7]。第一級采用差分放大器,NMOS 和PMOS 作為輸入對管都可以確保合適的工作點,但由于誤差放大器中差分輸入對管的閃爍噪聲在LDO 輸出噪聲中占主導(dǎo)地位,選擇閃爍噪聲更小的PMOS 作為輸入級[8]。在中頻段,即誤差放大器主極點和帶寬之間的頻段處,主極點對PSRR 造成影響,PSRR 在主極點處開始衰減,且PSRR 隨著頻率的增加越來越差。為保證該頻段處的PSRR,將極點PEA1推離原點。

      傳統(tǒng)PMOS 管輸入差分放大器增益為:

      輸出端極點為:

      輸入對管M2、M3 漏極間跨接電阻R1,該級增益可表示為:

      第一級運放輸出端極點變?yōu)?

      其中,R1/2 遠小于ro3,R1/2 遠小于ro5,運放輸出端變?yōu)榈妥韫?jié)點,極點PEA1遠離原點。該方式相較于傳統(tǒng)的前饋紋波消除技術(shù)降低功耗[9],不需要大的帶寬,避免對頻率補償造成影響。相較于主極點處于LDO 輸出端,更利于環(huán)路補償[10]。如圖4 所示,PSRR 會在較高的頻率處開始衰減。

      圖4 主極點對PSRR 的影響Fig.4 Influence of primary pole on PSRR

      第二級為共源極放大器,輸出為高阻節(jié)點,為環(huán)路提供主要增益,放大輸出擺幅。緩沖器采用阻抗衰減跟隨器結(jié)構(gòu),M17 與源極跟隨器M16 輸出并聯(lián)形成負(fù)反饋結(jié)構(gòu),有效減小了源跟隨器的輸出電阻rOBuf[11]。

      當(dāng)負(fù)載電流增加時,源跟隨器M16 輸入電壓恒定,輸出電壓增加時,流過M16 的電流增大,使得R4兩端的電壓增大,最終M17 管的電流增加,進一步減小了源跟隨器的輸出電阻。需要強調(diào)的是,R4阻值要足夠大以保證負(fù)反饋M17 管在不同負(fù)載條件下都處于導(dǎo)通狀態(tài)。源跟隨器的輸出阻抗為:

      阻抗衰減跟隨器的輸出阻抗為:

      由式(8)、(9)對比可知,阻抗衰減跟隨器可以大大降低緩沖級的輸出阻抗rOBuf。

      負(fù)載跟蹤補償電路由采樣電路、補償電路、負(fù)載電流監(jiān)測電路構(gòu)成。采樣電路由采樣管MS、功率管MN、M19~M23 管構(gòu)成的運放和尺寸相同的M14、M18 管組成。運放和M18 管為正反饋增益buffer,鉗位MS和MN的源極電壓,因此MS和MN的三端電壓均相等。該種電流采樣結(jié)構(gòu)與常用的電阻網(wǎng)絡(luò)相比,溫漂小,采樣精度高,采樣電流IOUT_S由下式給出:

      式中:(W/L)Ms和(W/L)MN分別為采樣管MS和功率管MN的寬長比。

      電流鏡將采樣電流IOUT_S拷貝到M8~M9 支路,以控制MOS 管MZ的柵極電壓,MZ和CZ產(chǎn)生的零點,其中M8~M9 支路電流I8,9為:

      控制MZ管柵極電壓為:

      補償過程中,MZ管等效電阻RZ與負(fù)載電流的關(guān)系可結(jié)合式(10)~(12)得出:

      由式(13)可看出,RZ與負(fù)載電流成反比,所得零點可跟蹤功率管輸出端極點進行補償。

      M11~M13 管組成負(fù)載電流監(jiān)測電路,通過電流鏡拷貝M10 上采樣電流,與偏置電流比較來控制M12,使得MZ柵極電壓緩慢變化,更好地控制動態(tài)零點。

      I12上的電流為:

      式中:μP為電子遷移率;COX為柵氧化層電容;VTHP為PMOS 管的閾值電壓。負(fù)載電流監(jiān)測環(huán)路中M13 的柵端極點PM13為:

      式中:gm13為M13 的跨導(dǎo);CM13為寄生電容。隨著M12 抽走部分電流,M13 的跨導(dǎo)減小,極點PM13會隨負(fù)載電流增大進入帶寬內(nèi),設(shè)置R3、C1構(gòu)成零點對其進行補償,擴展采樣電流監(jiān)測環(huán)路帶寬,提高響應(yīng)速度。

      2.2 穩(wěn)定性分析

      圖5 為設(shè)計LDO 的等效小信號模型。

      圖5 LDO 小信號等效電路Fig.5 The small signal equivalent circuit

      LDO 主環(huán)路的小信號等效模型中g(shù)m1、gm2和gmn分別為差分放大器、共源極放大器、緩沖級和功率管MN的跨導(dǎo),Rout為輸出端等效電阻。

      β為反饋系數(shù):

      如前節(jié)所述,超級跟隨器的輸出為低阻節(jié)點,且在LDO 的整個負(fù)載范圍內(nèi)均遠高于帶寬,因此在下面環(huán)路穩(wěn)定性的討論中忽略此處極點。環(huán)路傳輸函數(shù)極點推導(dǎo)得出:

      由式(18)可知,環(huán)路增益為負(fù),輸出電壓調(diào)節(jié)為負(fù)反饋。此外,分母為四階多項式,即環(huán)路中存在一個零點與四個極點:

      由于C2遠大于CZ,Ro2遠大于RZ,極點P2在單位增益帶寬外,對環(huán)路穩(wěn)定性沒有影響。同樣,由于Ro1很小,使得極點P3在帶寬之外可以忽略,極點P0可近似為:

      式(18)中H(s)可近似為:

      式(30)、(31)分別為H(s)的主極點和次極點。

      環(huán)路中零極點位置如圖6 所示。

      圖6 環(huán)路零極點分布Fig.6 Loop zero pole distribution

      由于LDO 設(shè)計的最大負(fù)載電流為500 mA,Rout變化單位較大,次極點位置動態(tài)變化。因此,需要在不同負(fù)載電流條件下研究環(huán)路穩(wěn)定性。重載時,Rout非常小,極點P1處在高頻段,環(huán)路近似于單極點系統(tǒng)。空載時,P1向低頻移動,零點Z0對其進行補償,環(huán)路保持穩(wěn)定。

      3 仿真結(jié)果及分析

      電路采用0.18 μm CMOS 工藝,基于Cadence 仿真平臺對電路性能進行仿真驗證。圖7 為LDO 的版圖設(shè)計。

      圖7 LDO 版圖設(shè)計Fig.7 The design of LDO layout

      電源VIN電壓為1.5 V,輸出電壓為1.2 V,LDO 分別在1,150 和500 mA 負(fù)載電流下的頻率穩(wěn)定性如圖8 所示。仿真結(jié)果表明,重載下,環(huán)路中僅有一個極點,相位裕度約為83°,與理論分析一致。輕載下,通過負(fù)載跟蹤補償結(jié)構(gòu),穩(wěn)定性得到改善,相位裕度為52°。負(fù)載電流在1~500 mA 范圍內(nèi),相位裕度均能滿足要求,電路穩(wěn)定性較好。

      圖8 不同負(fù)載電流下的頻率穩(wěn)定性。(a)增益;(b)相位裕度Fig.8 Frequency stability under different load currents.(a) Gain;(b) Phase margin

      LDO 在輸出電壓1.2 V,負(fù)載電流150 mA 時,不同工藝角下VIN和VBIAS的PSRR 曲線如圖9 所示??梢钥闯鯲IN的PSRR 均為85 dB 左右,VBIAS的PSRR 均為90 dB 左右,LDO 具有較高的PSRR。

      圖9 不同工藝角下電路的PSRR。(a)VIN的PSRR;(b) VBIAS的PSRRFig.9 PSRR of the circuit under different process corners.(a)PSRR of VIN;(b) PSRR of VBIAS

      圖10 和圖11 分別為LDO 線性調(diào)整率和負(fù)載調(diào)整率的仿真,仿真結(jié)果表明:LDO 在1.2 V 輸出電壓下,線性調(diào)整率為0.01%/V,負(fù)載調(diào)整率為0.4 mV。

      圖10 線性調(diào)整率Fig.10 Line regulation

      圖11 負(fù)載調(diào)整率Fig.11 Load regulation

      本文設(shè)計的LDO 與文獻[12]和文獻[13]仿真結(jié)果比較如表1 所示,在更大的負(fù)載驅(qū)動電流下,本設(shè)計具有更好的穩(wěn)定性與PSRR。

      表1 LDO 功能參數(shù)對比Tab.1 LDO functional parameter comparison

      4 結(jié)論

      本文中LDO 采用負(fù)載跟蹤補償技術(shù)實現(xiàn)了全負(fù)載范圍內(nèi)環(huán)路的穩(wěn)定,保證1 kHz 時有較高的PSRR,輸出電壓穩(wěn)定。文中詳細介紹了LDO 環(huán)路補償原理和電路結(jié)構(gòu)的設(shè)計,基于0.18 μm CMOS 工藝完成了電路仿真以及版圖的設(shè)計。電路最大負(fù)載電流可達500 mA,仿真結(jié)果表明,全負(fù)載范圍內(nèi)LDO 環(huán)路的相位裕度均大于52°,電路具有較小的負(fù)載調(diào)整率和線性調(diào)整率,滿足便攜式電子設(shè)備的電源需求。

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