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      電化學(xué)放電加工中氣膜厚度及其影響研究*

      2023-10-24 10:27:12阿達(dá)依謝爾亞孜旦
      制造技術(shù)與機(jī)床 2023年10期
      關(guān)鍵詞:氣膜氣泡電化學(xué)

      劉 顥 阿達(dá)依·謝爾亞孜旦

      (新疆大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,新疆 烏魯木齊 830017)

      近年來,由于良好的光學(xué)透明性、化學(xué)穩(wěn)定性、耐高溫性和絕緣性能等,玻璃類硬脆材料廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、微流體和微機(jī)電系統(tǒng)等領(lǐng)域的微型產(chǎn)品制造[1-2],例如固體氧化物燃料電池、DNA 陣列制造、微加速計(jì)、微反應(yīng)器、微泵和一些醫(yī)療設(shè)備(流量傳感器或藥物輸送設(shè)備等)[3-4]。由于玻璃作為一種非導(dǎo)電硬脆材料,傳統(tǒng)的加工方法對(duì)其進(jìn)行加工具有極高的難度,因此一些非傳統(tǒng)的加工方法被關(guān)注,如超聲加工、激光加工和磨料流加工等。但這些非傳統(tǒng)加工方法不能很好地解決玻璃微加工中的微裂紋等問題,限制了其廣泛應(yīng)用[5-10]?;谶@些問題,國內(nèi)外學(xué)者研究提出了一種新型復(fù)合加工方法,即電化學(xué)放電加工(elctrochemical discharge machining,ECDM)。電化學(xué)放電加工由電化學(xué)加工時(shí)出現(xiàn)的電極放電效應(yīng)發(fā)展而來,1844 年,F(xiàn)oucault M L 等在電解水的實(shí)驗(yàn)中觀察到,非常細(xì)的鉑電極上會(huì)出現(xiàn)放電,他們將該現(xiàn)象稱為電極效應(yīng),該電極效應(yīng)即是后來的電化學(xué)放電效應(yīng)[11]。電化學(xué)放電加工方法最早由Kurafuji H 和Suda H 于1986 年提出[12],作為一種針對(duì)絕緣硬脆材料的有效微細(xì)加工技術(shù),該方法具有成本低、加工柔性好和加工效率高等特點(diǎn)。

      作為ECDM 中放電產(chǎn)生的主要介質(zhì),氣膜質(zhì)量將顯著影響加工后的蝕刻坑或微孔質(zhì)量。因此,對(duì)氣膜的特性和質(zhì)量的研究尤為重要。2004 年,Wüthrich R 和Bleuler H 報(bào)告了通過垂直圓柱形電極形成氣膜的理論模型和臨界條件,為進(jìn)一步研究ECDM 中的氣膜特性提供了理論基礎(chǔ)[13]。隨后,Wüthrich R 等發(fā)現(xiàn)氣膜厚度是ECDM 的主要限制性因素。此外,有研究表明,添加表面活性劑可以有效地減小氣膜厚度[14]。2010 年,Cheng C P 等通過輪廓形狀和尺寸來表征氣膜,并研究了氣膜穩(wěn)定性對(duì)放電穩(wěn)定性的重要性。此外,電流信號(hào)提供的信息揭示了氣膜結(jié)構(gòu)的變化,為后續(xù)研究改變工藝參數(shù)以提高加工效率和精度提供了寶貴的參考[15]。其他研究人員采用響應(yīng)面設(shè)計(jì)和完全因子試驗(yàn)等方法研究了各種加工條件下的氣膜特性,其中,氣膜的表征被認(rèn)為是一個(gè)關(guān)鍵的研究領(lǐng)域。2018 年,Kolhekar K R 和Sundaram M 通過應(yīng)用完全因子參數(shù)研究方法,驗(yàn)證了一種使用放電電流數(shù)據(jù)來表征氣體薄膜的技術(shù)[16]。 Singh T 通過對(duì)旋轉(zhuǎn)模式(RM)ECDM 的三重混合過程中的氫氣膜厚度進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)調(diào)查,報(bào)道了氣膜厚度對(duì)RM-ECDM 工藝中能量通道化行為的影響,并提高了加工質(zhì)量[17]。 Goud M等總結(jié)了ECDM 中材料去除機(jī)制的概念。探討了眾多元素對(duì)材料去除的影響,以及提高材料去除率的可能性。這篇詳盡的評(píng)論文章總結(jié)并闡述了ECDM 的演變,這無疑對(duì)未來ECDM 的研究和發(fā)展提供了方向[18]。其他一些研究報(bào)道了用計(jì)算機(jī)模擬或軟計(jì)算等方法對(duì)電化學(xué)放電加工過程進(jìn)行建模,預(yù)測(cè)加工結(jié)果,并通過改變加工參數(shù)優(yōu)化實(shí)驗(yàn)參數(shù)。這些調(diào)查毫無疑問地促進(jìn)了ECDM 研究的發(fā)展[19-21]。但是,由于ECDM 中參數(shù)的高度不確定性,各種因素之間的相互影響必須得到更多關(guān)注,對(duì)氣膜特性及其對(duì)加工質(zhì)量影響的研究必須進(jìn)一步完善。

      上述研究表明,氣膜作為ECDM 過程中將加工狀態(tài)從電解狀態(tài)轉(zhuǎn)換為電火花放電狀態(tài)的最重要的介質(zhì),對(duì)加工質(zhì)量和精度有很大的影響。而且,由于電化學(xué)放電加工中參數(shù)的不穩(wěn)定性,其電壓、電解液濃度等參數(shù)對(duì)氣膜以及加工質(zhì)量有非常大的影響。根據(jù)上述分析,電源參數(shù)及其交互作用對(duì)電化學(xué)放電加工的影響研究不足。電源參數(shù)(電壓、頻率、占空比)作為電化學(xué)放電加工過程中的重要參數(shù),本研究通過三因素三水平的全因子試驗(yàn)設(shè)計(jì)進(jìn)行工藝參數(shù)優(yōu)化,分析了不同電源參數(shù)的組合對(duì)氣膜厚度的影響,并研究了氣膜厚度變化對(duì)電化學(xué)放電加工的影響。

      1 實(shí)驗(yàn)方法與系統(tǒng)

      1.1 實(shí)驗(yàn)裝置

      圖1 所示為電化學(xué)放電加工實(shí)驗(yàn)平臺(tái),實(shí)驗(yàn)裝置由電化學(xué)放電加工裝置和實(shí)驗(yàn)觀測(cè)裝置組成,其中電化學(xué)放電加工裝置由三坐標(biāo)控制平臺(tái)及計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)、直流脈沖電源、位于工作臺(tái)上的電解液槽、電解液、陽極(輔助電極)和陰極(工具電極)組成,觀測(cè)裝置由高速攝像機(jī)和示波器組成。電解液槽由透明有機(jī)玻璃制成,便于高速攝像機(jī)實(shí)時(shí)捕獲氣膜圖像和電化學(xué)放電加工的整個(gè)過程。高速攝像機(jī)曝光度調(diào)為100 來捕捉更為清晰的氣膜,同時(shí)根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,相鄰兩張圖像采集時(shí)間間隔為100 ms。示波器用于記錄放電過程中的電流和電壓信號(hào)圖。

      圖1 電化學(xué)放電加工實(shí)驗(yàn)平臺(tái)

      1.2 材料

      實(shí)驗(yàn)中提供一個(gè)直流脈沖電源作為加工電源。電化學(xué)加工槽由有機(jī)玻璃(瑞慈PMMA)制成。輔助陽極材料選擇大小為50 mm×40 mm×4 mm 的石墨板(埃墨里石墨AIMOLI004)。工具電極材料為長150 mm、直徑300 μm 的柱狀碳化鎢(科研高純材料定制)。電解質(zhì)選用1 mol/L 的氫氧化鈉(品牌:析標(biāo))溶液。工件材料選擇1 mm 厚的K9 光學(xué)玻璃(諾卓NZ026)和石英玻璃(亞特光學(xué))。表1 顯示了電化學(xué)放電加工各實(shí)驗(yàn)裝置及材料參數(shù)選擇。

      表1 電化學(xué)放電加工各實(shí)驗(yàn)裝置及材料參數(shù)

      1.3 方法

      試驗(yàn)采用三因素三水平全因子試驗(yàn)設(shè)計(jì),試驗(yàn)參數(shù)如電極間距、電解液濃度和電解液水平等通過文獻(xiàn)推薦,選擇大電極間距、小的電解液濃度和電解液水平,見表1。選擇電壓、頻率和占空比作為輸入?yún)?shù),并通過前置實(shí)驗(yàn)選取參數(shù)區(qū)間,見表2。使用高速攝像機(jī)和示波器對(duì)試驗(yàn)圖像進(jìn)行采集,ImageJ 和Minitab 19 分別被用來提取數(shù)據(jù)和分析高速攝像機(jī)采集的氣膜圖像。

      表2 考慮水平變化的工藝參數(shù)

      圖2 所示為電化學(xué)放電加工氣膜圖像捕獲及加工系統(tǒng)示意圖。實(shí)驗(yàn)分為兩部分,第一部分為氣膜生成及圖像采集,第二部分為實(shí)驗(yàn)加工。第一部分實(shí)驗(yàn)中工具電極夾裝在三坐標(biāo)平臺(tái)Z軸,且和輔助陽極部分浸沒在NaOH 電解液中,兩個(gè)電極分別連接在脈沖電源的正負(fù)極。為了更好地觀測(cè)氣膜形成的整個(gè)過程,將脈沖電源的緩沖值設(shè)為50,這時(shí)電壓上升過程會(huì)較為緩慢。開始加工之后,通常在第8 s 到達(dá)臨界電壓并且擊穿氣膜,產(chǎn)生放電。高速攝像機(jī)對(duì)氣膜形成過程圖像進(jìn)行采集,取氣膜被擊穿前形成的穩(wěn)定而致密的氣膜圖像作為響應(yīng)的圖像,通過Matlab 邊緣檢測(cè)提取氣膜邊緣,從25 個(gè)位置通過ImageJ 測(cè)量工具追蹤邊緣計(jì)算氣膜的厚度。氣膜厚度的計(jì)算公式為

      圖2 電化學(xué)放電加工氣膜圖像捕獲及加工系統(tǒng)示意圖

      式中:H為氣膜厚度;d(n)為第n個(gè)位置處的氣膜厚度,n為測(cè)量位置的數(shù)量;D為工具電極的直徑。將測(cè)量得到的氣膜厚度數(shù)據(jù)導(dǎo)入到Minitab 19 中,使用全因子分析方法,分析數(shù)據(jù)的可靠性并得出試驗(yàn)結(jié)果。第二部分實(shí)驗(yàn)中則對(duì)兩種玻璃進(jìn)行加工,驗(yàn)證最終實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

      2 試驗(yàn)結(jié)果與討論

      2.1 氣泡生長融合

      電化學(xué)放電加工過程中氣泡的生長融合主要受到實(shí)驗(yàn)過程中氣泡表面張力和作用于氣泡的浮力影響。其中,氣泡表面張力有利于氣泡附著在電極表面,作用于氣泡的浮力會(huì)試圖驅(qū)逐氣泡,同時(shí)也促進(jìn)了不同氣泡的融合。圖3 所示為電化學(xué)放電加工中工具電極上氣泡生長融合與氣膜成形過程,此過程施加40 V 電壓。

      圖3 氣泡生長融合與氣膜成形過程

      如圖3a 所示,此時(shí)電源沒有接通,電化學(xué)反應(yīng)尚未開始,工具電極周圍沒有氣泡產(chǎn)生。當(dāng)電源接通后,電壓由0 V 躍變?yōu)?0 V,電化學(xué)反應(yīng)開始發(fā)生。如圖3b 所示,1 ms 時(shí),工具電極上有一層氣泡附著,由于此時(shí)電化學(xué)反應(yīng)剛剛開始,生成的氣泡體積較小,僅有薄薄一層附著于工具電極,不能明顯地看見氣泡。電化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行到3 ms 時(shí),由圖3c 可以觀察到氣泡層厚度增加,工具電極上有較為明顯的氣泡生成。電化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行到6 ms時(shí),如圖3d 所示,隨著工具電極上氣泡進(jìn)一步增長融合,電極表面有較大氣泡融合生成。電化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行到9 ms 時(shí),由圖3e 可以發(fā)現(xiàn),生成的氣泡開始逐漸融合為一個(gè)大氣泡包裹工具電極,生成的氣膜逐漸趨于穩(wěn)定。電化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行到12 ms 時(shí),如圖3f 所示,工具電極周圍的氣泡進(jìn)一步變大,在電極底部生長融合形成氣膜包裹工具電極,這是因?yàn)殡S著浸入深度的增加,工具電極底部受到的浮力也在增加,促進(jìn)了氣泡的生長融合,此時(shí)所形成的氣膜更致密穩(wěn)定。

      2.2 氣膜形成

      圖4 所示為電化學(xué)放電加工過程電壓-電流特性曲線,畫框區(qū)域?yàn)橐淮坞娀瘜W(xué)放電加工從氣膜形成到擊穿產(chǎn)生放電的過程,箭頭所指圖片為其電壓-電流特性曲線。通過圖像可以更加科學(xué)直觀地分析整個(gè)氣膜形成過程,結(jié)合圖5,整個(gè)過程可大概分為5 個(gè)區(qū)域。

      圖4 電化學(xué)放電加工過程電壓-電流特性曲線

      圖5 電化學(xué)放電加工過程

      OA段為截止區(qū):這個(gè)階段由于電壓低,基本沒有電流生成,電化學(xué)反應(yīng)未開始,沒有氣泡產(chǎn)生。

      AB段為線性區(qū):此階段電壓和電流關(guān)系服從歐姆定律,電流隨著輸入電壓的增大而呈線性增大;且電化學(xué)反應(yīng)開始產(chǎn)生,兩電極間形成通路,少量的氫氣泡開始在工具電極表面生成。

      BC段為飽和區(qū):從B點(diǎn)開始,工具電極表面產(chǎn)生的氣泡增多,并開始聚集合并,逐漸形成氣膜。雖然此時(shí)氣膜不夠致密和穩(wěn)定,但會(huì)導(dǎo)致兩電極之間的電阻值增大,且電流變化逐漸趨于平穩(wěn)。

      CD段為躍變區(qū):這個(gè)階段隨著電壓持續(xù)增大,大量的氫氣泡在工具電極表面生成、聚集以及合并,使得氣膜變成一種致密而穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)。此外,密集而穩(wěn)定的絕緣氣膜產(chǎn)生后,電流會(huì)逐漸收斂為0,氣膜內(nèi)外形成電位差,并開始產(chǎn)生一些微小的不穩(wěn)定火花放電。同時(shí)輔助陽極表面也有大量氧氣泡產(chǎn)生,但由于其具有較大的表面面積,并不能使得氣泡附著生成氣膜。

      DE段為放電區(qū):這個(gè)階段,形成的氣膜致密而穩(wěn)定,并隨著輸入電壓的持續(xù)增大,氣膜內(nèi)外電勢(shì)差增大,當(dāng)電勢(shì)差超過臨界值時(shí)將會(huì)擊穿氣膜,產(chǎn)生電化學(xué)放電,電化學(xué)放電加工的實(shí)際加工過程發(fā)生在這一階段,圖5 中DE部分為氣膜被擊穿產(chǎn)生火花放電。

      2.3 氣膜厚度

      據(jù)表3 展示了氣膜厚度的方差分析,F(xiàn)值和P值來確定影響因素的顯著性。F值較大和P值小于0.05 的因素被認(rèn)為是顯著的,由表3 可知,電壓、占空比、電壓和占空比的交互作用、頻率和占空比的F值較大。電壓、占空比、電壓和占空比的交互作用P=0,頻率和占空比的交互作用P=0.010。由此可知,電壓、占空比、電壓和占空比的交互作用、頻率和占空比交互作用對(duì)于氣膜厚度有較大的影響。

      表3 氣膜厚度的方差分析

      氣膜厚度均值的主效應(yīng)圖如圖6 所示。由圖6可知,電壓和占空比對(duì)于氣膜厚度有較大的影響,頻率對(duì)氣膜厚度的影響較?。蛔钚〉碾妷?、最大的占空比和頻率是形成薄氣膜的最佳工藝參數(shù)組合。如圖6a 所示,隨著電壓的增大,氣膜厚度也隨之增加。由于單位時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生更多的氣泡,氣泡積累速度隨著電壓的增大變快,氣膜厚度變厚;伴隨著電壓的升高,電化學(xué)放電也變得更為劇烈,這個(gè)過程中會(huì)伴隨著大量的熱量產(chǎn)生,電解液會(huì)被蒸發(fā),產(chǎn)生大量氣體。這兩個(gè)因素是導(dǎo)致隨著電壓升高、氣膜厚度過大的主要原因。如圖6b 所示,頻率對(duì)氣膜厚度的影響十分微小。如圖6c 所示,占空比對(duì)氣膜厚度也有較為顯著的影響,當(dāng)占空比達(dá)到最大(80%)時(shí),一個(gè)脈沖過程中通電時(shí)間所占的比例降低,這可能避免電壓過大產(chǎn)生的大氣泡的合并聚集,減小氣膜厚度。通過效應(yīng)圖可知,獨(dú)立因素下氣膜厚度的最佳實(shí)驗(yàn)參數(shù)組合為50 V 電壓、30 kHz頻率、80%占空比;氣膜厚度的極端實(shí)驗(yàn)參數(shù)為60 V 電壓、20 kHz 頻率、60%占空比,其氣膜厚度分別為214 μm 和335 μm。

      圖6 氣膜厚度均值的主效應(yīng)圖

      表3 的方差分析顯示,上述獨(dú)立因素的影響并不能更全面地說明這些因素對(duì)氣膜特性的影響,所以考慮2 因素的交互作用效果。表3 顯示,電壓-占空比和頻率-占空比對(duì)氣膜厚度的影響是顯著的。圖7 所示為電壓-占空比和頻率-占空比對(duì)氣膜厚度的交互作用效果圖。由圖7a 可知,占空比為60%時(shí),氣膜厚度隨著電壓的降低而線性下降;占空比為70%時(shí),氣膜厚度隨著電壓的降低而降低,但影響不大;占空比為80%時(shí),小電壓更有利于薄氣膜的形成。一般來說,當(dāng)占空比不變時(shí),氣膜的厚度隨著電壓的增加而減少。然而,由于小占空比導(dǎo)致脈沖電源的充電過程延長,氣泡數(shù)量的增加導(dǎo)致氣膜的厚度增加。為了獲得更薄的氣膜,小電壓和大占空比的組合是一個(gè)更理想的選擇。由圖7b可知,占空比超過70%時(shí),薄膜厚度會(huì)隨著頻率的降低而降低。最大占空比和最小頻率的組合為形成薄膜提供了有利的條件,原因可能是在大占空比下,電源在一個(gè)周期內(nèi)的通電時(shí)間減少,從而減少了氣泡的產(chǎn)生,減小了氣膜的厚度。

      圖7 電壓-占空比和頻率-占空比的氣膜厚度交互效應(yīng)圖

      綜上所述,電壓、占空比、電壓和占空比的交互作用、頻率和占空比的交互作用是對(duì)氣膜厚度有較明顯影響的因素。結(jié)合單因素和2 因素交互作用對(duì)氣膜厚度的影響分析,通過對(duì)數(shù)據(jù)的響應(yīng)優(yōu)化,最終確定最小電壓、最小頻率和最大占空比為形成薄氣膜的最佳工藝參數(shù)組合。最佳的工藝參數(shù)組合是電壓50 V、頻率20 kHz、占空比80%,極端的工藝參數(shù)組合是電壓60 V、頻率25 kHz、占空比60%,它們的氣膜厚度分別為189 μm 和338 μm。圖8 所示為極端實(shí)驗(yàn)參數(shù)和最佳工藝參數(shù)下的氣膜厚度的比較。

      圖8 極端實(shí)驗(yàn)參數(shù)和最佳工藝參數(shù)下的氣膜厚度(插圖為計(jì)算氣膜厚度的邊緣檢測(cè)圖像)

      3 氣膜厚度與加工質(zhì)量

      實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,當(dāng)ECDM 中使用最佳工藝參數(shù)組合時(shí),生成的氣膜有更薄的厚度。為了驗(yàn)證薄氣膜是否有利于提高加工質(zhì)量,采用已確認(rèn)的工藝參數(shù)組合(表4)在石英玻璃和K9 光學(xué)玻璃上進(jìn)行實(shí)驗(yàn)加工,以此提高加工質(zhì)量。為節(jié)省實(shí)驗(yàn)時(shí)間,使用1.5 μm/s 的進(jìn)給速度,對(duì)兩種玻璃進(jìn)行了100 s的加工。

      表4 已確認(rèn)的工藝參數(shù)組合

      表5 所示為通過實(shí)驗(yàn)結(jié)果計(jì)算出入口的徑向過切、圓度(兩點(diǎn)法)和孔的深徑比。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與極端實(shí)驗(yàn)參數(shù)組合加工的微小孔相比,在最佳工藝參數(shù)組合下,兩種玻璃加工的微小孔都有較小的徑向過切、較小的圓度誤差和較大的深徑比。

      表5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果匯總

      圖9 所示為所加工微孔的入口形狀及徑向過切。由表5 和圖9 結(jié)合分析可知,最佳工藝參數(shù)組合下,兩種玻璃上加工的微小孔徑向過切都有明顯的減小,這表明薄氣膜有利于電化學(xué)放電加工過程中徑向過切的減小。這是由于在最佳工藝參數(shù)組合下,所產(chǎn)生的氣膜厚度較小。在實(shí)際加工過程中,材料去除主要通過氣膜被擊破產(chǎn)生的電化學(xué)放電達(dá)成,由于加工過程中氣膜包裹著工具電極,若氣膜厚度的增加則相當(dāng)于增大了工具電極的直徑,導(dǎo)致加工中徑向過切增大。此外,隨著氣膜厚度增加,工具電極上產(chǎn)生的側(cè)壁放電與所加工孔壁距離減小,使得工件側(cè)壁材料去除增加。因此,通過減小氣膜厚度來減小電化學(xué)放電加工過程的徑向過切是可行的。雖然氣膜厚度的減小對(duì)孔深的提升較小,但氣膜厚度減小極大地減小了所加工微小孔的徑向過切,所以會(huì)使得微小孔深徑比也有較大的提升。

      圖9 不同工藝參數(shù)電化學(xué)放電加工兩種玻璃的入口過切

      圖10 所示為不同工藝參數(shù)組合加工出來的盲孔三維表面形貌。由表5 和圖10 結(jié)合分析可知,使用最佳工藝參數(shù)組合加工的微小孔圓度誤差小、圓度大,且入口處加工產(chǎn)生的碎屑較少。這與氣膜的穩(wěn)定性有一定的關(guān)系,因?yàn)闅饽し€(wěn)定的提高會(huì)使加工過程中氣膜形狀保持較好,產(chǎn)生的放電更加穩(wěn)定,對(duì)工件的表面微觀形態(tài)提升有較好的影響。這也從另一種角度說明,氣膜厚度的減小在一定程度上提升了氣膜的穩(wěn)定性,從而提升加工質(zhì)量和加工精度。但氣膜厚度過小對(duì)加工也是不利的,過薄的氣膜會(huì)反而會(huì)由于加工過程中湍流擾動(dòng)等原因降低氣膜穩(wěn)定性,使氣膜難以維持。實(shí)驗(yàn)結(jié)果也表明,最佳工藝參數(shù)組合下,良好的氣膜特性使得電化學(xué)放電加工的微小孔有更小的圓度誤差,且表面更加光滑,起皺少。在極端工藝參數(shù)時(shí)氣膜較厚,且氣膜穩(wěn)定性差使得氣膜各位置厚度分布不均勻,導(dǎo)致所加工玻璃微小孔不同位置的材料去除程度有很大差異。如圖10 所示,氣膜厚度較大的位置放電能量少,導(dǎo)致材料去除過少會(huì)形成不規(guī)則的凸起;氣膜較薄的位置產(chǎn)生的放電能量多、材料去除過多。在微小孔形貌上表現(xiàn)為其圓度誤差更大。

      圖10 電化學(xué)放電加工微小孔三維形貌

      根據(jù)上述研究結(jié)果,在最佳的工藝參數(shù)組合下,ECDM 過程中會(huì)形成一層薄而穩(wěn)定的氣體膜,因此電化學(xué)放電產(chǎn)生的放電能量在各個(gè)位置的分布更加均勻。此外,研究發(fā)現(xiàn),減少氣膜的厚度也會(huì)降低對(duì)氣膜穩(wěn)定性的影響。由于更薄的氣膜需要更少的放電能量來破裂,導(dǎo)致氣膜在電解質(zhì)周圍被擊穿所帶來的湍流更少,氣膜的穩(wěn)定性更好,在加工結(jié)果中表現(xiàn)為微孔的圓度誤差較小。

      4 結(jié)語

      首先,通過實(shí)驗(yàn)從氣泡生長、融合再到氣膜成形分析了電化學(xué)放電加工過程中氣膜形成的過程。其次,采用三因素三水平全析因?qū)嶒?yàn)分析了電化學(xué)放電加工過程中的氣膜厚度的變化。以電源參數(shù)為變量,氣膜厚度作為衡量氣膜質(zhì)量的主要因素進(jìn)行研究,確定了能得到最小氣膜厚度的最佳的工藝參數(shù)組合。然后,利用圓度誤差、徑向過切和深徑比對(duì)表面微觀形貌的影響進(jìn)行了表征和分析,研究了氣膜厚度在電化學(xué)放電加工中的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,應(yīng)用最佳工藝參數(shù)組合生成189 μm 厚的氣膜,相比極端工藝參數(shù)組合氣膜厚度減小了149 μm,在石英玻璃和光學(xué)玻璃兩種類型的玻璃進(jìn)行微結(jié)構(gòu)加工,結(jié)果表明,小電壓、小頻率和大占空比的組合是產(chǎn)生高質(zhì)量氣膜的條件,且有利于提升加工質(zhì)量。

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