漏率
- 基于靜態(tài)壓降法量化表征某型貯箱氣密性方法研究
漏檢測；氣密性；漏率；壓降火箭研制過程涉及大量有密封性能要求的組件或部件，如推進(jìn)劑燃料貯箱，其氣密性能優(yōu)劣直接關(guān)系到火箭發(fā)射的成敗[1-4]。國內(nèi)外因泄漏造成的事故屢見不鮮，如阿波羅-13飛船因氧貯箱發(fā)生泄漏而使任務(wù)中斷，挑戰(zhàn)者號航天飛機(jī)因燃料泄漏機(jī)毀人亡[5-6]。某型運(yùn)載火箭在靶場測試中，對貯箱的氣密性能進(jìn)行評估無疑是一項極其重要的測試工作。容器氣密性檢測技術(shù)屬于氣體泄漏檢測中的一種[7-9]，氣密性檢測的方法有水浸法、皂泡法、壓力變化法、流量法、超聲
裝備環(huán)境工程 2023年6期2023-07-07
- 基于氧化石墨烯薄膜的極小漏率漏孔制備技術(shù)研究
3/s量級的極小漏率標(biāo)準(zhǔn)漏孔是超靈敏度檢漏技術(shù)的核心[1-2]。真空技術(shù)中較為常用的石英滲氦標(biāo)準(zhǔn)漏孔一般帶有1.01×105Pa（1個大氣壓）的純氦氣源，其下限只能達(dá)到10-11～10-5Pa·m3/s量級[3-4]。近年來國內(nèi)外學(xué)者開展了各類新型漏孔的研究。Yoshida等[5]采用孔隙小于1 μm的不銹鋼燒結(jié)型過濾器作為漏孔元件，當(dāng)上游壓力低于104Pa時，漏孔內(nèi)氣體運(yùn)動方式為分子流，研制的標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率范圍為10-8～10-6Pa·m3/s。Ierar
真空與低溫 2023年1期2023-02-14
- 一種雙密封結(jié)構(gòu)穩(wěn)定漏率判定方法
常常出現(xiàn)示漏氣體漏率緩慢爬升的現(xiàn)象，兩道密封處的初始漏率越小，穩(wěn)定平衡時間越長。針對雙密封結(jié)構(gòu)漏率測試的時間以及穩(wěn)定漏率的判定，目前沒有明確統(tǒng)一的方法，導(dǎo)致檢漏結(jié)果不一致，特別是在穩(wěn)定漏率略超出允許漏率，導(dǎo)致產(chǎn)品拒收時，分歧尤為突出[1-2]。本文提出一種穩(wěn)定漏率判定方法，通過建立漏率的增長模型，合理確定檢漏時間，可以在示漏氣體漏率曲線未平衡穩(wěn)定的情況下預(yù)判穩(wěn)定漏率，提高檢漏效率。1 雙密封結(jié)構(gòu)泄漏規(guī)律1.1 雙密封結(jié)構(gòu)泄漏模型及數(shù)值分析雙密封結(jié)構(gòu)原理和泄
真空與低溫 2022年6期2023-01-06
- 毛細(xì)管型真空漏孔及其計量特性研究
檢漏，需要用已知漏率的真空漏孔對檢漏儀靈敏度進(jìn)行校準(zhǔn)。薄膜滲透型真空漏孔因其對污染不敏感、長時間內(nèi)漏率穩(wěn)定、可以獲得很小漏率等特點[2]，應(yīng)用十分廣泛；但是其具有受溫度影響大、玻璃元件易碎、不能承受機(jī)械沖擊、易發(fā)生累積滲透飽和等缺點。為了減小溫度影響，增加抗震能力，研制一種毛細(xì)管型真空漏孔，具有溫度系數(shù)小、年衰減率小、響應(yīng)時間快、抗震和抗摔等特點。1 毛細(xì)管型真空漏孔的結(jié)構(gòu)組成毛細(xì)管型真空漏孔是一種利用毛細(xì)管特性產(chǎn)生恒定氣體漏率的裝置，可作為真空檢漏中氦質(zhì)
真空與低溫 2022年6期2023-01-06
- 不銹鋼玻封連接器密封失效分析及改進(jìn)
溫度沖擊后，出現(xiàn)漏率上升的問題。針對此問題，分析了溫沖后漏率上升的原因，找到了提高封接組件溫沖后漏率的工藝方法，提高了產(chǎn)品的可靠性。2 不銹鋼密封連接器漏率失效原因分析2.1 不銹鋼壓縮封接機(jī)理不銹鋼由于具有良好的機(jī)械性能、高耐磨性、較強(qiáng)的抗腐蝕能力等優(yōu)點，廣泛用于軍工產(chǎn)品零件的加工。在高密封連接器生產(chǎn)過程中常選擇不銹鋼材料做為殼體進(jìn)行封接，不銹鋼殼體玻璃封接組件是由奧氏體不銹鋼殼體、玻璃坯、鐵鎳合金插針在氮氣保護(hù)下高溫封接而成，不銹鋼殼體玻璃封接組件屬于
機(jī)電元件 2022年4期2022-08-31
- 硅鋁合金殼體焊接連接器氣密性分析
漏手段有最小可檢漏率,通常所說的“不漏”正是相對于此而言的。或者設(shè)備容許漏率遠(yuǎn)大于被檢件的漏率,也可認(rèn)為被檢件“不漏”。隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,氣泡法、涂抹法、浸水法等傳統(tǒng)氣密性檢測方法在很多領(lǐng)域都已經(jīng)不再使用。更多先進(jìn)的氣密性檢測方法是利用物質(zhì)的物理特性和化學(xué)特性進(jìn)行檢漏,典型的有鹵素法、氦質(zhì)譜法、超聲檢測法、四極質(zhì)譜計法、聲發(fā)射法等。在微波領(lǐng)域,常用的氣密性檢測方法是氦質(zhì)譜法。氦質(zhì)譜法是以氦氣為示蹤氣體,使用質(zhì)譜分析儀進(jìn)行氣密性檢測的一種檢漏方法。其基本原
制導(dǎo)與引信 2022年2期2022-07-22
- 基于不同氣體和壓力下通道型正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率的分析
道型正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率值的因素主要有氣體類型和進(jìn)口端壓力以及氣體的溫度[3,4]。不同氣體類型對漏孔的漏率值有很大影響，有學(xué)者使用真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔在H2、He、D2三種氣體以及不同的入口端壓力下研究了本底漏率對校準(zhǔn)漏孔漏率的影響，發(fā)現(xiàn)漏孔漏率與氣體黏度成反比這一結(jié)論[5]。與此同時，研究者用N2和He2兩種氣體對同一個金屬壓扁型正壓漏孔的漏率進(jìn)行了不同壓力下的研究，并根據(jù)黏滯流-分子流理論對結(jié)果作了修正[6]。此外，還有學(xué)者研究了同一氣體在多種壓力下金屬壓扁型正
上海計量測試 2022年1期2022-03-24
- 火箭總裝過程中閥門漏率差壓法檢測技術(shù)研究
的薄弱環(huán)節(jié)，閥門漏率超標(biāo)導(dǎo)致的增壓輸送系統(tǒng)質(zhì)量問題時有發(fā)生[2-4]?；鸺傃b完成后，在各工況下的氣密性實驗是型號產(chǎn)品閥門裝配后質(zhì)量的最終驗證工序，用以檢驗其連接及閥門質(zhì)量的可靠性。閥門的泄漏檢測是預(yù)防閥門工作過程中出現(xiàn)質(zhì)量問題的有效手段，因此必須特別重視閥門的泄漏問題，應(yīng)列為防漏檢漏工作的重點。1 閥門差壓檢漏技術(shù)差壓檢漏法相比于直壓檢漏方法檢漏分辨率更高、檢測時間更短，而且能夠有效降低檢測過程中產(chǎn)品形變、溫度變化等帶來的影響。因此，針對閥門漏率量化檢測
機(jī)械工程與自動化 2022年1期2022-03-15
- 低溫發(fā)動機(jī)常用氦質(zhì)譜檢漏方法
，若發(fā)現(xiàn)被檢位置漏率超標(biāo)，則需對漏率超標(biāo)部位進(jìn)行處理，避免低溫發(fā)動機(jī)在工作時發(fā)生泄漏事故。低溫發(fā)動機(jī)采用氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)進(jìn)行泄漏檢測的幾種常用方法。1 氦質(zhì)譜檢漏原理氦質(zhì)譜檢漏是以氦氣為示漏氣體，通過使用氦質(zhì)譜檢漏儀對被檢件進(jìn)行漏孔定位、漏率定量的檢測過程。氦質(zhì)譜檢漏儀的主要結(jié)構(gòu)為質(zhì)譜室，質(zhì)譜室由燈絲、離化室和離子加速極組成離子源，由外加均勻磁場構(gòu)成分析器，由出口縫隙和收集極構(gòu)成收集器，如圖1 所示。圖1 氦質(zhì)譜檢漏儀質(zhì)譜室在離化室內(nèi)，氣體分子被由燈絲發(fā)射的
裝備制造技術(shù) 2022年11期2022-02-10
- 一種快速堵漏膠修補(bǔ)方式在空間環(huán)境下的應(yīng)用研究
較航天器密封結(jié)構(gòu)漏率，為空間站的在軌安全運(yùn)行和航天員的人身安全提供保障。1 實驗1.1 材料及儀器設(shè)備“創(chuàng)可貼式”快速堵漏膠（纖維增強(qiáng)、鋁箔增強(qiáng)，中國科學(xué)院長春應(yīng)用化學(xué)研究所）；真空平板試驗工裝（Φ5 mm、Φ3 mm、Φ1 mm，自制）；加壓腔體試驗工裝（Φ5 mm、Φ3 mm、Φ1 mm，自制）；氦質(zhì)譜真空檢漏儀（UL1000，德國INFICON）。1.2 試樣準(zhǔn)備與測試1.2.1 真空試驗件用酒精將30件真空平板試驗工裝的粘貼面擦拭干凈并晾干，分別將
現(xiàn)代鹽化工 2022年6期2022-02-09
- 核電站主控室內(nèi)漏率試驗案例研究
，即進(jìn)行主控室內(nèi)漏率試驗[1-2]，以保證事故工況下主控室人員受到的輻射在可接受范圍內(nèi)。美國ASTM E741—2011[3]推薦了三種測量空間泄漏率的方法，即：(1)濃度衰減法；(2)恒量注入法；(3)恒定濃度法。根據(jù)相關(guān)論文論證[4-5]，此三種方法均可對主控室的內(nèi)漏率進(jìn)行測量，綜合對比三種試驗方法的優(yōu)缺點和國內(nèi)相關(guān)行業(yè)借鑒經(jīng)驗[6]，主控室內(nèi)漏率試驗采用恒量注入法進(jìn)行測量。本文主要針對內(nèi)漏率試驗的原理、試驗過程和問題處理及改進(jìn)進(jìn)行研究，對于試驗方法等
輻射防護(hù) 2021年6期2021-12-06
- 光學(xué)檢漏的試驗時間問題
給出了光學(xué)檢漏的漏率計算公式[1]，之后該檢漏方法得以快速推廣應(yīng)用。我國軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB 548B-2005“微電子器件試驗方法和程序”中第5節(jié)的方法1014.2引入光學(xué)粗檢漏（試驗條件C4）、光學(xué)粗/細(xì)檢漏（試驗條件C5）。正在修訂中的GJB 548C也直接引用了STD-MIL-883J中關(guān)于光學(xué)檢漏試驗方法的最新規(guī)定，但其應(yīng)用才剛剛起步。STD-MIL-883J雖然給出了光學(xué)檢漏的漏率計算公式，但對于光學(xué)檢漏的試驗時間、壓力等均未明確規(guī)定，與傳統(tǒng)氦質(zhì)譜細(xì)
真空與低溫 2021年6期2021-12-02
- 氣氛置換法對緩解硅鋁封裝氦氣吸附影響研究
譜檢漏儀進(jìn)行動態(tài)漏率或累計漏率測試。氦氣對硅鋁器件表面的吸附，主要發(fā)生在加壓和保壓時間內(nèi)。其中，吸附過程包括兩種類型的吸附，分別是外擴(kuò)散和內(nèi)擴(kuò)散。由于氦氣分子的體積較小，其吸附過程主要分為以下3個階段。a）氦氣從氣流主體通過硅鋁材料周圍的氣膜在范德華力的作用下擴(kuò)散到硅鋁的外表面，為外擴(kuò)散或外部傳遞過程。b）氦氣從硅鋁材料表面經(jīng)微孔擴(kuò)散到吸附劑孔隙內(nèi)部，被稱為內(nèi)擴(kuò)散或孔內(nèi)部傳遞過程。因硅鋁材料表面曲折的晶界和機(jī)械加工過程中硅單質(zhì)表面形成的裂紋使其容易發(fā)生內(nèi)擴(kuò)
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗 2021年5期2021-11-12
- 氣密封連接器氦氣吸附問題的分析研究
，氣密封連接器的漏率要求為：≤ 1×10-9Pa·m3/s。根據(jù)氣密封連接器的實際應(yīng)用情況，當(dāng)中空密封器件盒安裝若干個氣密封連接器后，進(jìn)行器件盒密封性能測試，整體漏率要求為：≤ 1×10-9Pa·m3/s。3 結(jié)構(gòu)設(shè)計3.1 氣密封連接器的結(jié)構(gòu)對于氣密封連接器常規(guī)結(jié)構(gòu)如圖1所示：外導(dǎo)體、內(nèi)導(dǎo)體、玻璃高溫?zé)Y(jié)為一體以達(dá)到整個產(chǎn)品的密封要求，絕緣子采用過盈壓配的方法壓入外殼中，最后將一個帶有倒刺的插孔壓入絕緣子，完成整個產(chǎn)品的裝配，插孔的右端為一小孔，與內(nèi)導(dǎo)體
機(jī)電元件 2021年4期2021-10-20
- 卸料通道閥門泄漏對鈾濃縮分離功率的影響研究
·mol-1。若漏率越大，則一組卸料系統(tǒng)因閥門通道有漏導(dǎo)致超限用時就越短，本文為了分析漏率對級聯(lián)系統(tǒng)的影響，實驗中取了幾千個點進(jìn)行計算，因篇幅有限，以下只描述了漏率為v1=1.21×10-5F、v2=1.21×10-4F、v3=1.21×10-3F三種不同量級的情況，F(xiàn)是級聯(lián)總供料流量。2 未考慮漏率的級聯(lián)計算分析根據(jù)《核工程導(dǎo)論第二部分鈾濃縮的主要方法介紹》，設(shè)計模擬實驗離心級聯(lián)如圖2所示［6］。圖2 離心級聯(lián)層架結(jié)構(gòu)圖Fig.2 Structure d
核技術(shù) 2021年8期2021-08-20
- 徑向孔形狀對針?biāo)ㄊ絿娮⑵饕耗は?span id="j5i0abt0b" class="hl">漏率的影響
流量的比例(即下漏率)是研究如何提高針?biāo)^抗燒蝕能力的關(guān)鍵。針對以上問題，本文以準(zhǔn)確預(yù)估下漏率為切入點，以平面針?biāo)ǘ鄧娮卧獮檠芯繉ο?，基于前期針對徑向圓孔液束建立的考慮液膜液束變形和多噴注單元間相互影響的下漏率模型，首先通過類比分析，理論推導(dǎo)建立徑向矩形孔的膜束各自相對變形模型；再推導(dǎo)建立對應(yīng)的不同高寬比矩形孔的下漏率模型；然后通過試驗及數(shù)值仿真對不同徑向孔形狀的下漏率模型進(jìn)行驗證；最后通過對比分析為徑向孔形狀選擇給出合理建議，并給出模型中的常系數(shù)供工程
航空學(xué)報 2021年6期2021-07-07
- 商用快速接頭的檢漏方法及其液體漏率計算
離狀態(tài)和對接狀態(tài)漏率指標(biāo)均優(yōu)于10-5Pa.m3/s[1]。2 檢漏方法2.1 檢漏方法分類檢漏方法有很多種，習(xí)慣上按檢漏時被檢件內(nèi)部所處的狀態(tài)將檢漏方法分為以下兩類。①加壓檢漏法：被檢件內(nèi)部充以比外部壓力更高的示漏氣體，如壓降法、氣泡法、氦質(zhì)譜儀吸槍法。②真空檢漏法：被檢件內(nèi)部抽真空，將示漏氣體施加被檢件外部，如真空計法、氦質(zhì)譜儀噴吹檢漏法等。每一種檢漏工藝方法都具有特定的使用條件，檢漏范圍及測試能力。方法的選擇應(yīng)用要與產(chǎn)品的設(shè)計指標(biāo)、使用工況等因素相匹
工程技術(shù)與管理 2021年7期2021-06-15
- 艙門平衡閥為“天和”配備金鑰匙
在關(guān)閉狀態(tài)下正向漏率不低于2.0×10-6Pa·m3/s，反向漏率不低于2.0×10-5Pa·m3/s，開啟力不大于100 N，在軌壽命不小于18年，開關(guān)壽命不小于1 000次。艙門平衡閥的應(yīng)用為空間站各個艙門的順利開啟提供了可靠的條件保障，屬國內(nèi)首創(chuàng)。其設(shè)計滿足人機(jī)工效學(xué)要求，在失重狀態(tài)下方便航天員操作、結(jié)構(gòu)新穎、體積小、質(zhì)量輕、操作靈活、省力。2021年4月29日，核心艙發(fā)射升空，準(zhǔn)確進(jìn)入預(yù)定軌道。整器在軌檢測漏率指標(biāo)合格表明，艙門平衡閥技術(shù)狀態(tài)良好，
真空與低溫 2021年3期2021-06-07
- 艙門快速檢漏儀
——載人航天器的“門神”
進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的漏率檢測，具有國際先進(jìn)水平，產(chǎn)品照片如圖1所示。從載人飛船、貨運(yùn)飛船到“天宮”實驗室，再到空間站各個艙段（“天和”“夢天”“問天”），艙門快速檢漏儀已成為載人航天飛行器的系列化“標(biāo)配”設(shè)備，為航天員在軌工作和生活提供堅實的安全保障，稱得上是載人航天器的“門神”。圖1 空間站艙門快速檢漏儀實物圖為確保密封可靠，我國的飛船艙門和對接通道密封面上都裝有雙道密封圈，艙門關(guān)閉后雙道密封圈與門框之間會形成一個環(huán)形的小腔體，艙門快速檢漏儀巧妙利用了這種特
真空與低溫 2021年3期2021-06-07
- 電位主動控制試驗裝置供給單元的研制
度更高，同時對泄漏率的要求也更為苛刻。本文將對新型電位主動控制試驗裝置供給單元的任務(wù)需求、原理方案及試驗驗證情況進(jìn)行介紹。1 需求概述貨運(yùn)飛船搭載任務(wù)要求新型電位主動控制試驗裝置位于航天器艙壁外，試驗裝置外有金屬殼保護(hù)，金屬殼與航天器外壁電位保持一致。供給單元位于試驗裝置內(nèi)。供給單元需求包括：尺寸為250 mm×172 mm×100 mm；環(huán)境溫度范圍為-20～50℃；輸出氬氣流量指標(biāo)范圍為5～50 sccm（25 ℃±5 ℃）；漏率（內(nèi)、外漏疊加的綜合漏
航天器環(huán)境工程 2021年1期2021-03-15
- 月球樣品密封封裝裝置
如圖2所示，密封漏率低于4.5×10?9Pa·m3·s?1，實現(xiàn)了月球樣品的低漏率密封。2020年12月2日，月球樣品密封裝置在月表順利完成月球樣品密封，并于當(dāng)月17日返回地面，功能和性能正常。月球樣品密封封裝裝置的成功應(yīng)用，為后續(xù)月球極區(qū)水冰采樣返回、小行星采樣返回和火星采樣返回等任務(wù)提供了技術(shù)保障。關(guān)鍵詞：月球樣品；密封；裝置；防污染；極高真空；漏率Key words：lunar sample；seal；subsystem；anti-pollution
真空與低溫 2021年1期2021-02-02
- 大型密封容器高精度氣密性檢查方法初探
3-5]等領(lǐng)域。漏率通常作為衡量氣密性的物理量[6]。中國航天工業(yè)總公司航天工業(yè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)QJ 2592-94《彈頭氣密性檢查實驗方法》、QJ 2706-95《彈道式導(dǎo)彈彈頭總裝、測試和驗收通用技術(shù)條件》、QJ 3010-98《導(dǎo)彈內(nèi)外壓氣密性實驗方法》均對不同對象的氣密性檢查方法給出了詳細(xì)規(guī)定。而通常對于有氣密性要求的容器而言，漏孔的截面形狀和位置都有隨機(jī)性。常見的漏孔主要包括零部件本身的焊縫及與管路連接的焊縫，螺栓連接及可拆密封處發(fā)生劃傷、存在雜質(zhì)，動密
機(jī)械設(shè)計與制造 2020年7期2020-07-22
- 探討汽車燃油箱泄漏檢測設(shè)備設(shè)計
氦檢設(shè)備;本底;漏率為保護(hù)生態(tài)環(huán)境，保障人體健康，防治壓燃式及氣體燃料點燃式發(fā)動機(jī)汽車排氣對環(huán)境的污染，環(huán)境保護(hù)部、國家質(zhì)檢總局發(fā)布了《輕型汽車污染物排放限值及測量方法（中國第六階段）》，簡稱國六排放標(biāo)準(zhǔn)，針對此標(biāo)準(zhǔn)汽車燃油箱對其允許泄露指標(biāo)有了新的要求，設(shè)計一套汽車燃油箱檢測設(shè)備勢在必行。1、國際上常用的燃油箱泄漏檢測方法簡介對于燃油箱的檢測，要檢測接口處是否有泄漏，還需要檢測整體漏率是否符合要求，目前常用的檢測方法有水泡檢測法和氦氣檢測法。（1）水泡檢
好日子（下旬） 2020年4期2020-07-04
- 金屬包裝容器二重卷封結(jié)構(gòu)的泄漏機(jī)理及其實驗研究
重卷封結(jié)構(gòu)中氣體漏率的影響。1 二重卷封結(jié)構(gòu)泄漏模型1.1 二重卷封結(jié)構(gòu)金屬包裝容器上的密封形式包括罐身接縫和二重卷封。其中，罐身接縫屬于永久密封形式，通常使用電阻焊工藝完成，其泄漏可忽略不計。二重卷封結(jié)構(gòu)是金屬包裝容器罐身與罐蓋、罐底的組合，以5層金屬本體輔助密封材料咬合連接在一起的密封形式，如圖1所示。密封膠預(yù)先噴涂在罐蓋外沿上，通過二重卷封工藝壓緊并充填于罐身與罐蓋之間的結(jié)合面上，實現(xiàn)二重卷封結(jié)構(gòu)的有效密封。氣體經(jīng)過二重卷封結(jié)構(gòu)的泄漏途徑有兩種：一是
兵工學(xué)報 2020年1期2020-02-18
- 橡膠管在氦質(zhì)譜檢漏中滲氦研究
，而且能定量檢測漏率，精度高達(dá)10-10Pa·m3/s，但是氦氣也有其自身的缺點，就是氦氣是單原子氣體，氦分子半徑相對較小，分子運(yùn)動時，很容易穿透大部分物質(zhì)，例如用橡膠管作為管路檢漏，管壁的組成為有機(jī)物，分子間隙大，氦分子半徑較小，很容易滲透橡膠中穿過管壁，迅速擴(kuò)散到質(zhì)譜室，對檢漏儀檢測的漏率直接造成影響。1 氦質(zhì)譜檢漏原理氦質(zhì)譜檢漏是利用氦氣作為示蹤氣體[1]，探測密封容器的漏率，是一種快速定位和定量檢測的理想方法，對密閉容器一般采用噴氦法檢漏，主要完成
中國新技術(shù)新產(chǎn)品 2020年1期2020-01-05
- 發(fā)射筒O形密封結(jié)構(gòu)密封性能預(yù)估研究
人航天器密封系統(tǒng)漏率設(shè)計方法[1]；王勇等提供了一種飛船管路系統(tǒng)柱塞密封結(jié)構(gòu)漏率預(yù)估模型[2]；周鑫等研究了衛(wèi)星推進(jìn)系統(tǒng)金屬球面密封結(jié)構(gòu)的漏率預(yù)估方法[3]。上述研究內(nèi)容均為針對金屬密封件的小密封面的漏率評估，而防空導(dǎo)彈發(fā)射筒采用非金屬密封件且具有密封面大、密封面多的特點，利用上述方法進(jìn)行密封面漏率評估存在一定缺陷。目前普遍采用將氮氣充入導(dǎo)彈貯運(yùn)發(fā)射筒的方法對導(dǎo)彈進(jìn)行密封貯存。發(fā)射筒各功能口框與筒體之間均通過O形密封結(jié)構(gòu)實現(xiàn)密封。為了確保導(dǎo)彈在筒內(nèi)環(huán)境下具
空天防御 2019年3期2019-08-23
- 一種動密封結(jié)構(gòu)老化前后密封性能試驗研究
統(tǒng)的有效最小可檢漏率優(yōu)于5×10-13Pa·m3/s。真空抽氣系統(tǒng)主要由前級泵、前級角閥、渦輪分子泵和插板閥等幾部分組成，能滿足檢測系統(tǒng)極限壓力優(yōu)于2×10-4Pa的要求。充氣系統(tǒng)主要包括預(yù)抽泵、角閥、進(jìn)樣閥門和氦氣源四部分[5]。輔助小艙安裝在檢測室內(nèi)，檢測室與標(biāo)準(zhǔn)漏孔、真空壓力規(guī)、示漏氣體充氣系統(tǒng)連接，檢測室和真空抽氣系統(tǒng)之間采用超高真空插板閥相連接。法蘭盤采用金屬密封方式與輔助小艙連接，漏率優(yōu)于2×10-12Pa·m3/s，密封圈試驗件和法蘭盤之間采
真空與低溫 2019年2期2019-04-29
- 貯氫壓力系統(tǒng)氫介質(zhì)檢漏方法研究
工作壓力下密封氦漏率不大于1.0×10-8Pa·m3/s。這類壓力系統(tǒng)常作為設(shè)備或武器產(chǎn)品的分系統(tǒng)之一，在服役期間需經(jīng)歷特定的環(huán)境載荷(常為一系列運(yùn)輸、加速度、振動等序貫環(huán)境)，而檢測密封性是獲得其經(jīng)歷特定環(huán)境載荷后性能狀態(tài)的主要手段。氦質(zhì)譜檢漏方法技術(shù)成熟，應(yīng)用廣泛。但是，若直接對服役期間的貯氫壓力系統(tǒng)進(jìn)行氦質(zhì)譜檢漏，涉及高壓氫氣釋放、抽真空、加注氦氣、檢漏、釋放氦氣、重新加注氫氣等環(huán)節(jié)，而工藝特性及試驗?zāi)康牟辉试S對該類系統(tǒng)進(jìn)行多次裝配及充氦檢漏。因此，
壓力容器 2019年2期2019-04-08
- MOCVD系統(tǒng)檢漏技術(shù)
體。2 當(dāng)前主流漏率檢測技術(shù)目前，氦質(zhì)譜檢漏儀法是世界公認(rèn)的最靈敏、能定位和定量測量漏孔漏率的一種優(yōu)選方法。因此在各行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用。如何正確的反映MOCVD 系統(tǒng)工作時的漏率值，并盡可能的降低漏率值，仍然是廣大工藝人員和維護(hù)人員所關(guān)心的問題。另外，基于安全和設(shè)備本身的限制，氦質(zhì)譜檢漏儀法并不是萬能的，MOCVD 系統(tǒng)部分分支機(jī)構(gòu)需要結(jié)合靜態(tài)升壓法、靜態(tài)降壓法、氫氣儀檢漏法、氣泡檢漏法等方法進(jìn)行檢漏，只有當(dāng)設(shè)備所有的分系統(tǒng)漏率都處于可接受的范圍，才能
設(shè)備管理與維修 2019年17期2019-02-16
- MOCVD 系統(tǒng)檢漏技術(shù)
體。2 當(dāng)前主流漏率檢測技術(shù)目前，氦質(zhì)譜檢漏儀法是世界公認(rèn)的最靈敏、能定位和定量測量漏孔漏率的一種優(yōu)選方法。因此在各行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用。如何正確的反映MOCVD 系統(tǒng)工作時的漏率值，并盡可能的降低漏率值，仍然是廣大工藝人員和維護(hù)人員所關(guān)心的問題。另外，基于安全和設(shè)備本身的限制，氦質(zhì)譜檢漏儀法并不是萬能的，MOCVD 系統(tǒng)部分分支機(jī)構(gòu)需要結(jié)合靜態(tài)升壓法、靜態(tài)降壓法、氫氣儀檢漏法、氣泡檢漏法等方法進(jìn)行檢漏，只有當(dāng)設(shè)備所有的分系統(tǒng)漏率都處于可接受的范圍，才能
設(shè)備管理與維修 2019年9期2019-02-16
- 包裝箱正壓環(huán)境下航天器總漏率檢測技術(shù)
航天器子系統(tǒng)的總漏率?，F(xiàn)階段，該技術(shù)是在常壓環(huán)境下開始累積，在累積過程中，航天器包裝箱內(nèi)、外壓力差會受箱體內(nèi)、外溫度和大氣壓變化影響，可能出現(xiàn)包裝箱處于正壓或負(fù)壓的工況?；诖?，航天器包裝箱需進(jìn)行結(jié)構(gòu)加強(qiáng)設(shè)計，而承載負(fù)壓的設(shè)計會造成航天器包裝箱質(zhì)量的大幅增加。本文研究在正壓環(huán)境下利用氦質(zhì)譜非真空累積檢漏方法進(jìn)行航天器總漏率測試的可行性和測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，判斷這一新的檢漏方法是否滿足航天器總漏率檢測的需求，進(jìn)而為航天器包裝箱的減重設(shè)計和利用正壓環(huán)境進(jìn)行檢漏測
航天器環(huán)境工程 2018年5期2018-10-23
- 載人航天器對接通道保壓檢漏方法
和氣密試驗，艙體漏率須滿足指標(biāo)要求。結(jié)構(gòu)或密封面失效將導(dǎo)致整個密封艙艙體泄漏，會造成人員傷亡等嚴(yán)重后果，如20世紀(jì)60年代蘇聯(lián)“聯(lián)盟11號”飛船返回時因密封艙失壓導(dǎo)致3名航天員喪生。根據(jù)航天器在軌檢漏的不同目標(biāo)，檢漏方法大體分為整體檢漏和局部檢漏2類。整體檢漏主要是對航天器整艙泄漏情況進(jìn)行監(jiān)測，如俄羅斯載人航天器配置了生命保障系統(tǒng)中的壓力調(diào)節(jié)裝置，通過膜片壓差信號來監(jiān)測生活艙的大氣泄漏情況；局部檢漏主要是對某個密封面或者是某個關(guān)鍵的液腔/氣腔的漏率進(jìn)行監(jiān)測
航天器環(huán)境工程 2018年5期2018-10-23
- 基于全息激光的光學(xué)檢漏技術(shù)研究
質(zhì)譜檢漏主要針對漏率小于5 Pa·cm3/s的漏孔，通過向壓力裝置充入氦氣，一般加壓2～5 h，如果器件存在漏孔，氦氣就會通過漏孔進(jìn)入器件內(nèi)部，通過氦質(zhì)譜檢漏儀可以檢測到器件內(nèi)部氦氣，并計算出漏率；氟油氣泡檢漏主要針對漏率大于5 Pa·cm3/s的漏孔，其具體的做法通常為：首先，向壓力裝置中注入低沸點的氟碳化合物液體，一般加壓2 h，如果器件存在漏孔，則液體就會通過漏孔滲入到器件內(nèi)部；然后，立即取出器件置于 (125±5)℃的高沸點氟碳化合物液體中，使?jié)B入
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗 2018年4期2018-09-04
- 深入理解光學(xué)檢漏：漏率計算及其他
cm3/s的較小漏率，即所謂細(xì)檢漏。相反，氟油檢漏只能確定大于1 Pa·cm3/s的較大漏率，即粗檢漏[1]。檢漏過程中需遵循先細(xì)檢漏后粗檢漏的原則，否則容易出現(xiàn)漏孔堵塞而呈現(xiàn)密封合格的假象。也就是說，一個完整的檢漏過程須分細(xì)檢漏和粗檢漏兩步完成。眾所周知，我國國家標(biāo)準(zhǔn)、國家軍用標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于密封試驗的方法及程序直接引用了美國軍用標(biāo)準(zhǔn)STD-MIL-883中的相應(yīng)條款，在最新的STD-MIL-883J中給出了光學(xué)檢漏的漏率計算公式。本文對該公式的推導(dǎo)過程進(jìn)行了
電子與封裝 2018年7期2018-07-23
- 基于最小二乘法的氦質(zhì)譜非真空累積檢漏方法研究
漏儀讀數(shù)不穩(wěn)定，漏率初值或終值的讀取可能不準(zhǔn)確，進(jìn)而造成測量誤差。提出一種基于最小二乘法擬合的氦質(zhì)譜非真空累積檢漏方法，在非真空累積過程中，多次讀取收集室內(nèi)漏率值，并利用最小二乘法對漏率變化率進(jìn)行擬合，進(jìn)而求出被檢件漏率。大量試驗結(jié)果表明，與傳統(tǒng)的氦質(zhì)譜非真空累積檢漏法相比，該方法可有效避免單次數(shù)據(jù)測量造成的測量誤差，具有更高的數(shù)據(jù)可信度。航天器；氦質(zhì)譜檢漏；非真空累積；最小二乘法0 引言近年來，隨著航天器設(shè)計在軌壽命的延長，航天器的密封性能成為衡量航天器
真空與低溫 2017年3期2017-07-25
- 金屬與玻璃封裝集成電路小漏率檢測技術(shù)研究
璃封裝集成電路小漏率檢測技術(shù)研究盧思佳（工業(yè)和信息化部電子第五研究所，廣東廣州510610）對金屬-玻璃封裝集成電路的小漏率檢測技術(shù)進(jìn)行了研究。首先，介紹了充壓式氦質(zhì)譜檢漏法、破壞性內(nèi)部氣氛含量分析法和累積型氦檢漏法的原理和流程；然后，分別利用這3種方法，對某試驗樣品的小漏率進(jìn)行了檢測；最后，根據(jù)試驗結(jié)果，對3種方法的優(yōu)缺點和適用范圍進(jìn)行了總結(jié)，對于金屬-玻璃封裝集成電路的小漏率的檢測方法的正確選擇具有重要的指導(dǎo)意義。集成電路；小漏率；檢測技術(shù)0 引言元器
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗 2016年4期2016-12-08
- 大型空間環(huán)境模擬試驗設(shè)備的檢漏
不足的問題，在總漏率的測試中提出了真空室累積法，并詳細(xì)介紹了其測試步驟?？臻g環(huán)境模擬試驗設(shè)備；檢漏；氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)；真空室累積法0 引言大型空間環(huán)境模擬試驗設(shè)備可用于模擬太空的真空、外熱流與冷黑環(huán)境，對航天器進(jìn)行真空放電、熱真空平衡及熱真空循環(huán)等空間環(huán)境試驗［1-4］，主要由罐體和熱沉兩大部分組成。對其檢漏具有典型的大容器檢漏特點。由于檢漏靈敏度要求很高，選擇了氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)。大型空間環(huán)境模擬試驗設(shè)備泄漏檢測的難點主要表現(xiàn)在:（1）設(shè)備要求的真空度高（真空
真空與低溫 2016年3期2016-09-22
- 淺談汽車空調(diào)氦檢原理及漏率計算
車空調(diào)氦檢原理及漏率計算李俊鋒，謝璐璐(上汽通用五菱汽車股份有限公司，廣西柳州 545007)通過分析氦檢的原理、各種檢漏方式的優(yōu)劣等來說明汽車空調(diào)制造商在生產(chǎn)制造過程中為什么選擇氦檢、如何將氦檢運(yùn)用到生產(chǎn)實際當(dāng)中，以及詳細(xì)講述汽車氦檢漏率的計算過程、氦檢設(shè)備報警點限值的設(shè)定和設(shè)備的校準(zhǔn)管理等。汽車空調(diào)；氦檢；漏率計算0 引言氦檢是汽車空調(diào)生產(chǎn)制造中一項先進(jìn)的常用的檢漏技術(shù)。為確保汽車空調(diào)的制冷效果和使用壽命，汽車空調(diào)的蒸發(fā)器、冷凝器、壓縮機(jī)等的檢漏是不可
汽車零部件 2016年6期2016-07-18
- IC裝備真空腔室的氣密性檢測試驗及分析
的重要因素，腔室漏率數(shù)量級不高于、極限真空度數(shù)量級不高于，才能滿足IC工藝的漏率要求. 本文用氦質(zhì)譜檢漏儀檢測真空腔室泄漏情況，并將泄漏處逐一進(jìn)行堵漏處理，使腔室氣密性能達(dá)到IC裝備的工藝要求. 用靜態(tài)升壓法計算得出腔室漏率為，極限真空度為，考慮用于實際生產(chǎn)的工藝腔室體積小，而本實驗腔室體積較大，所以搭建的真空室可以滿足IC裝備的漏率要求.真空腔室；氦質(zhì)譜檢漏儀；靜態(tài)升壓法；漏率真空設(shè)備在電子產(chǎn)品如電子管、晶體管、半導(dǎo)體集成電路的生產(chǎn)與封裝中應(yīng)用廣泛，真空
五邑大學(xué)學(xué)報（自然科學(xué)版） 2015年1期2015-10-22
- 氦質(zhì)譜細(xì)漏檢測最長候檢時間的定量拓展
了當(dāng)細(xì)漏氦氣測量漏率判據(jù)Rmax小于粗漏判據(jù)相應(yīng)的氦氣測量漏率判據(jù)R0max時，定量拓展細(xì)漏檢測最長候檢時間的公式，并給出了保持被檢件內(nèi)部氦氣分氣壓不低于0.9倍的正常空氣中氦氣分氣壓PHe0的方法。氦質(zhì)譜；細(xì)漏檢測；最長候檢時間；定量拓展0 引 言2013、2014年申請的發(fā)明專利［1-4］提出了定量確定氦質(zhì)譜細(xì)漏檢測最長候檢時間的方法?；诿芊饧?nèi)外氣體交換的分子流模式，在參考文獻(xiàn)［5］中論證推演了定量確定壓氦法和預(yù)充氦法最長候檢時間的公式，并在參考文
中國電子科學(xué)研究院學(xué)報 2015年6期2015-06-24
- 氟利昂氣體泄漏率的定量分析
)?氟利昂氣體泄漏率的定量分析宋棟梁(江蘇省計量科學(xué)研究院，南京 210007)工業(yè)上一般使用標(biāo)準(zhǔn)漏孔對氟利昂檢漏儀進(jìn)行定性檢測，由于它的便捷性得到廣泛使用。近年來，對標(biāo)準(zhǔn)漏孔的溯源方式和校準(zhǔn)方法進(jìn)行探索逐漸進(jìn)入人們的視野，對其進(jìn)一步定量分析，進(jìn)行測量不確定度定量分析工作迫在眉睫。通過建立數(shù)學(xué)模型，對標(biāo)準(zhǔn)漏孔在測量過程中影響測量不確定度的因素進(jìn)行分析和量化。通過實驗驗證，測量結(jié)果的相對擴(kuò)展不確定度約為4%，基本滿足了量值傳遞過程中10%的要求。氟利昂；標(biāo)準(zhǔn)
計量技術(shù) 2015年3期2015-06-07
- 淺議軍標(biāo)民標(biāo)在氦檢漏中的差異及虛漏
介。同時解釋測量漏率必須換算成等效標(biāo)準(zhǔn)(空氣)漏率的原因，氦氣漏率不是密封元器件正規(guī)使用的氣體漏率。2 試驗的標(biāo)準(zhǔn)溫度GB/T2423.23－2013規(guī)定基準(zhǔn)溫度為25℃，允許誤差為15℃ ～35℃;GJB360B－2009規(guī)定基準(zhǔn)溫度為25℃，允許誤差為15℃ ～35℃;GJB548B－2005規(guī)定基準(zhǔn)溫度為25℃，允許誤差為±5K。2003年之前，IEC有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定基準(zhǔn)溫度為23℃，允許誤差 15℃ ～35℃，其后 IEC61810－1:2003改為2
機(jī)電元件 2015年4期2015-03-05
- 衛(wèi)星推進(jìn)分系統(tǒng)發(fā)動機(jī)螺接頭漏率變化規(guī)律試驗研究
行多次復(fù)測發(fā)現(xiàn)，漏率值不盡相同。因此，有必要研究螺接頭漏率變化規(guī)律，為實際工程應(yīng)用提供依據(jù)。截至目前，國內(nèi)外尚未有螺接頭漏率變化規(guī)律試驗研究的相關(guān)報道。 本試驗的出發(fā)點是以螺接頭初始漏率接近合格范圍為標(biāo)準(zhǔn)，目的是摸索變化規(guī)律，避免因誤判而帶來的返工或等待時間，提高檢漏工作效率和準(zhǔn)確性。1 球頭-錐面密封結(jié)構(gòu)的泄漏機(jī)理球頭-錐面密封結(jié)構(gòu)是國內(nèi)衛(wèi)星推進(jìn)系統(tǒng)廣泛采用的一種靜密封形式（圖1）。球頭和錐面在擰緊之前為線接觸，當(dāng)施加擰緊力矩后，球頭和錐面發(fā)生彈塑性變形
航天器環(huán)境工程 2014年6期2014-12-21
- 柔性收集室檢漏技術(shù)可靠性分析與驗證
術(shù)是一種航天器總漏率檢測技術(shù)，其工作原理是利用柔性材料制成的罩子作為示漏氣體的收集容器，以氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)為基礎(chǔ)進(jìn)行航天器總漏率檢測。該檢漏技術(shù)的檢測方法和檢測系統(tǒng)中有許多需要重點注意的環(huán)節(jié)和要素，針對其可靠性進(jìn)行分析和試驗驗證是十分必要的。1 航天器總漏率檢測方法目前，航天器總漏率的檢測方法主要采用氦質(zhì)譜非真空累積檢漏法，檢測系統(tǒng)主要包括收集室、檢漏儀、基準(zhǔn)氣體、示漏氣體充放系統(tǒng)、示漏氣體取樣系統(tǒng)和漏率標(biāo)定系統(tǒng)等，檢測系統(tǒng)以高純氦氣作為示漏氣體，此外需要配
航天器環(huán)境工程 2014年6期2014-12-21
- 采用靜態(tài)膨脹法校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)漏孔極小漏率的不確定度評定
靜態(tài)膨脹法的極小漏率校準(zhǔn)方法并未得到深入系統(tǒng)的研究。這里采用靜態(tài)膨脹法對10－10Pa·m3/s量級真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔進(jìn)行了校準(zhǔn)實驗，并著重對校準(zhǔn)結(jié)果的測量不確定度進(jìn)行了評定。1 校準(zhǔn)原理靜態(tài)膨脹法校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)漏孔的極小漏率裝置，由真空抽氣系統(tǒng)、前級壓力測量系統(tǒng)、氣體壓力衰減系統(tǒng)、質(zhì)譜計、監(jiān)測真空計以及非蒸散型吸氣劑泵等組成，校準(zhǔn)裝置原理如圖1所示。真空抽氣系統(tǒng)由真空抽氣機(jī)組組成，滿足校準(zhǔn)室極限真空度小于10－6Pa的要求。前級壓力測量系統(tǒng)通過電容薄膜真空計、數(shù)字式
真空與低溫 2014年2期2014-05-24
- 解讀標(biāo)準(zhǔn)漏率
0)1 引言標(biāo)準(zhǔn)漏率，又稱標(biāo)準(zhǔn)漏氣速率，在 GJB(idt MIL)及IEC標(biāo)準(zhǔn)中已經(jīng)宣貫幾十年了。近年來，有專家稱這是虛擬的，并提出了自己的定義，在全國三十多個科研、院校及工廠作報告。并以Email方法發(fā)到各單位，要求收到單位組織討論。筆者所在單位也收到了兩份，并有幸收到同事的打印稿，自然要按要求提點意見，但這里僅限“標(biāo)準(zhǔn)漏率”(以下簡稱“漏率”)這個術(shù)語。另一原因是漏率的定義關(guān)系到氦檢漏的基本計算公式。故把兩個術(shù)語作個比較，供讀者評判別，以便去偽存真。
機(jī)電元件 2014年6期2014-03-05
- 氦質(zhì)譜檢漏試驗方法分析
定量的氦氣后，其漏率低于某一規(guī)定值。通常，氣密封裝材料必須是金屬、陶瓷或玻璃。有機(jī)物封裝（即塑封）雖然沒有空腔，但它允許水汽不斷地從大氣通過封裝材料滲透到器件內(nèi)部，因而屬非氣密封裝。對于金屬封裝，穿過金屬腔壁的互連可以利用膨脹系數(shù)與其匹配的玻璃絕緣子來實現(xiàn)密封。氣密封裝允許將電路安裝在密封的充入良性氣氛的環(huán)境中——一般是充入氮氣，它可以由液氮得到。這種氮氣非常干燥，水汽含量小于百萬分之十（10 ppm）。為進(jìn)一步地預(yù)防水汽的侵入，需將封蓋前的封裝（電路已安
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗 2014年4期2014-02-09
- 多次壓氦法和預(yù)充氦壓氦法質(zhì)譜細(xì)檢漏方法研究
均采用相同的測量漏率判據(jù)。這對多次壓氦法，n次檢測的判據(jù)可能加嚴(yán)n倍；對預(yù)充氦壓氦法，檢測的判據(jù)可能加嚴(yán)幾倍到幾個數(shù)量級。而且還可能出現(xiàn)接近粗漏的大漏的漏檢和細(xì)漏的錯判。在我國的相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)[4]中，曾提出先細(xì)檢漏，壓氦后再細(xì)檢漏，以后一次漏率的增加值為測量漏率。這種二次檢測方法有一定的可行性，但會加大測試的偏差，而且喪失了多次壓氦，特別是預(yù)充氦所形成的高靈敏檢測特性。薛大同等先生經(jīng)過深入研究和持續(xù)的改進(jìn)[5～7]，提出了新的二次檢測方法。該方法主要通過多
中國電子科學(xué)研究院學(xué)報 2014年1期2014-02-07
- 真空-氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)在真空絕熱深冷壓力容器制造中的應(yīng)用
產(chǎn)品存在的漏孔的漏率遠(yuǎn)小于產(chǎn)品允許的漏率或儀器的最高靈敏度；它不會影響產(chǎn)品的使用效果。如果泄漏量過大，產(chǎn)品就無法正常使用，故須采用合適的檢漏方法，測量出產(chǎn)品在規(guī)定條件下的漏率，以保證產(chǎn)品的整體質(zhì)量[2]。檢漏的目的是：用適當(dāng)?shù)姆椒ㄑ杆倥袛嗍欠衤狻４_定漏率，以便確定是否在產(chǎn)品允許的范圍之內(nèi)。選擇適當(dāng)?shù)臋z漏方法，找出漏孔的確切位置，以便進(jìn)行修補(bǔ)。真空技術(shù)中用漏率表達(dá)漏孔的大小，而不以漏孔的幾何尺寸表述漏孔的大小。所謂漏率，是指規(guī)定條件下，單位時間內(nèi)通過漏孔的
機(jī)械管理開發(fā) 2013年3期2013-12-13
- 比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)方法研究
參考標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行真空漏率量值傳遞的漏孔，主要原理是在壓力或濃度差的作用下，使氣體從氣室的一側(cè)通過器壁的孔洞、孔隙、滲透元件流出，該漏孔主要用于氦質(zhì)譜檢漏儀漏率的校準(zhǔn)。常用真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)方法一般分為定容法［1］、恒壓法［2］、比較法。定容法是將真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的氣體引入到已知容積的定容室中，通過測量單位時間內(nèi)壓力的變化量及定容室容積值，計算出真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率的一種校準(zhǔn)方法，校準(zhǔn)范圍一般為1×10－2～1×10－8Pa·m3/s。恒壓法是將真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的氣體
真空與低溫 2013年4期2013-12-04
- 載人航天器密封系統(tǒng)漏率設(shè)計方法
的管路部分。系統(tǒng)漏率是衡量系統(tǒng)密封性能的重要指標(biāo)。若漏率指標(biāo)過大，則會造成氣體、液體工質(zhì)的大量泄漏，影響系統(tǒng)性能甚至危及航天員的安全；若漏率指標(biāo)過小，則導(dǎo)致工程實現(xiàn)難度過大、研制成本過高，甚至?xí)绊懛桨傅目尚行?。因此，載人航天器密封系統(tǒng)漏率設(shè)計是總體設(shè)計的一項重要內(nèi)容[2-3]。本文提出了一種漏率設(shè)計方法，并建立相應(yīng)的漏率檢測系統(tǒng)，根據(jù)該方法制定了艙體和管路的漏率設(shè)計及指標(biāo)分配的流程。1 載人航天器密封系統(tǒng)與載人航天器密封性能緊密相關(guān)的主要包括艙體密封系統(tǒng)
航天器環(huán)境工程 2013年6期2013-11-28
- 氦質(zhì)譜細(xì)檢漏的基本判據(jù)和最長候檢時間
譜檢漏儀檢測氦氣漏率。這種方法的優(yōu)點是使用同樣靈敏度(或最小可檢漏率)的檢漏儀，對大部分內(nèi)腔容積范圍可以比壓氦法檢出更低氦氣標(biāo)準(zhǔn)漏率的樣品。其缺點是只能一次性充氦，當(dāng)存在泄漏時，經(jīng)一定時間貯存候檢，必然產(chǎn)生漏檢。目前越來越多的軍用標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在工藝控制中采用這種方法。壓氦法是英國人 Howl，D.A 和 Mann，C.A.［11］在20世紀(jì)60年代提出的，很快被美國軍標(biāo)所采用，現(xiàn)在已被各項標(biāo)準(zhǔn)普遍采用。具體方法是將密封元器件放入壓氣罐，抽真空后施加一定壓力(P
中國電子科學(xué)研究院學(xué)報 2013年2期2013-11-10
- 氦質(zhì)譜撿漏的幾個問答
1 術(shù)語等效標(biāo)準(zhǔn)漏率中溫度定為25℃，為什么沒有公差，如25℃ ±5K?等效標(biāo)準(zhǔn)漏率，即通常所說的漏率。眾所周知，氣體漏率與溫度有關(guān)，故標(biāo)準(zhǔn)確定了基準(zhǔn)點，將不同溫度下的漏率換算成25℃下的數(shù)值，以便實現(xiàn)可比性和再現(xiàn)性。如果定為25℃ ±5K就可能換算成20℃或30℃下的值，就無法進(jìn)行比較或再現(xiàn)。等效漏率的單位為Pa·cm3。漏率即單位時間內(nèi)通過漏孔泄漏出的氣體量，則僅有體積(V)和壓強(qiáng)(P)是無法衡量氣體量的。氣體量必須用PV/T或M(質(zhì)量)來表示的。溫度
機(jī)電元件 2013年1期2013-10-12
- 冷媒氣體泄漏率的定量分析
論計算直接得出其漏率值，可實現(xiàn)超微小漏率的檢測;同時可利用現(xiàn)有的色譜技術(shù)對標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率進(jìn)行標(biāo)定。漏孔根據(jù)填充物和功用的不同分為很多種，文中描述的以氟利昂為填充物的標(biāo)準(zhǔn)漏孔。氟利昂等消耗臭氧物質(zhì)是臭氧層破壞的元兇，氟利昂是本世紀(jì)20年代合成的，其化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，不具有可燃性和毒性，被當(dāng)作制冷劑、發(fā)泡劑和清洗劑，廣泛用于家用電器、泡沫塑料、日用化學(xué)品、汽車、消防器材等領(lǐng)域。氟利昂物質(zhì)有 R134A、R600A、R22、R404c、R407A、R410c等型氟利
低溫與特氣 2013年5期2013-09-19
- 更正說明
用錫焊密封，其泄漏率很難達(dá)到不大于10－8atm﹒cm3/s(10－3Pa﹒cm3/s)，暫允許為泄漏率不大于1×10－5atm﹒cm3/s(100Pa﹒cm3/s)。而GJB65B標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的繼電器均采用熔焊密封，繼電器按4.8.6進(jìn)行試驗時，空氣漏率不得超過1×10－3Pa﹒cm3/s(不是測量漏率R1)。從漏率的數(shù)值上來看GJB65B標(biāo)準(zhǔn)比QJ840617技術(shù)條件要求的高很多，另外GJB65B標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是“空氣漏率”又比QJ840617技術(shù)條件高約一個
機(jī)電元件 2013年6期2013-02-20
- 金屬壓扁型正壓漏孔不同壓力下的漏率研究
意義。正壓漏孔的漏率是指漏孔的入口壓力高于一個標(biāo)準(zhǔn)大氣壓，出口壓力為一個標(biāo)準(zhǔn)大氣壓或者當(dāng)?shù)卮髿鈮毫r，在(23±3)℃的環(huán)境溫度條件下的漏率。通常在23℃溫度條件下，入口為2個標(biāo)準(zhǔn)大氣壓，出口為一個標(biāo)準(zhǔn)大氣壓，以某種特定氣體(通常使用氦氣)為示漏氣體對正壓漏孔進(jìn)行校準(zhǔn)，此時的校準(zhǔn)值即作為正壓漏孔的漏率值。實驗表明，在不同的入口壓力和出口壓力條件下，同一支正壓漏孔的漏率值是不相同的。在實際的正壓檢漏工作中，正壓漏孔兩端的壓力往往在某個范圍內(nèi)變化，在實驗室對所
真空與低溫 2011年4期2011-12-04
- 標(biāo)準(zhǔn)中氦質(zhì)譜檢漏試驗判據(jù)的研究
譜檢漏時的氦測量漏率極限值。靈活方法只針對不同器件的內(nèi)腔容積，規(guī)定器件的空氣等效標(biāo)準(zhǔn)漏率的極限值，實施時根據(jù)規(guī)定的等效標(biāo)準(zhǔn)漏率和實際的加壓條件，計算氦測量漏率極限值。作為制定詳細(xì)規(guī)范和實施檢驗時可以選用的兩種方法，其寬嚴(yán)程度應(yīng)該基本相當(dāng)。但是本文以美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-750E《半導(dǎo)體器件試驗方法》[1]為例進(jìn)行的具體計算說明并非如此。靈活方法明顯嚴(yán)于固定方法，多數(shù)情況下超過一個數(shù)量級。2 計算方法和結(jié)果美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-750E《半導(dǎo)體器
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗 2011年3期2011-02-04