杜太行,劉旭林,孫曙光,郝立林,紀(jì)學(xué)玲,王佳興
(河北工業(yè)大學(xué)人工智能與數(shù)據(jù)科學(xué)學(xué)院,天津 300130)
在低壓配電系統(tǒng)中,低壓電器能否正常運(yùn)行直接影響系統(tǒng)能否能正常供電配電,低壓電器電壽命試驗(yàn)是保證低壓電器產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。低壓電器電壽命試驗(yàn)系統(tǒng)主要分為測(cè)控單元以及模擬負(fù)載,測(cè)控單元采用工控機(jī)、采集卡、信號(hào)采集模塊等,實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)信號(hào)的采集與輸出、數(shù)據(jù)計(jì)算處理等功能;模擬負(fù)載通常采用電阻器、電感器的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)阻性、阻感性的試驗(yàn)負(fù)載。但模擬負(fù)載存在以下方面的問(wèn)題:模擬負(fù)載為了滿足多規(guī)格試品試驗(yàn)要求,增強(qiáng)設(shè)備通用性,需要設(shè)計(jì)成多段電阻、電感串并聯(lián)來(lái)滿足調(diào)節(jié)要求,即使采用優(yōu)化設(shè)計(jì),避免不了體積大,造價(jià)高的缺點(diǎn),同時(shí)這種方式電流調(diào)節(jié)有級(jí)性不能避免的,存在調(diào)節(jié)誤差;能耗大,由于采用能耗型元件進(jìn)行試驗(yàn),大量的電能以熱能的方式浪費(fèi)掉,還可能導(dǎo)致試驗(yàn)場(chǎng)所溫度過(guò)高,需要外加降溫設(shè)備如空調(diào)、風(fēng)扇等,又增加了功率損耗[1-4]。目前,電力電子技術(shù)在電力系統(tǒng)的應(yīng)用廣泛,在低壓電器領(lǐng)域,利用晶閘管作為主回路的固態(tài)接觸器、繼電器、斷路器[5]等產(chǎn)品已得到廣泛應(yīng)用;同時(shí),在電源設(shè)備檢測(cè)等方面得到進(jìn)一步應(yīng)用,如為檢測(cè)電源質(zhì)量,設(shè)計(jì)了電力電子負(fù)載,通過(guò)控制功率MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量,精確調(diào)整負(fù)載電流,模擬感性、阻性負(fù)載[6-7]。
本文設(shè)計(jì)了一種基于交流固態(tài)負(fù)載的低壓電器電壽命試驗(yàn)系統(tǒng)。測(cè)控單元實(shí)現(xiàn)控制系統(tǒng)運(yùn)行,數(shù)據(jù)采集、存儲(chǔ)、處理等功能。交流固態(tài)負(fù)載代替了模擬負(fù)載,利用電流發(fā)生單元控制電壓、電流及功率因數(shù),滿足不同規(guī)格試品的電壽命試驗(yàn)要求;能量回饋單元將電壽命試驗(yàn)過(guò)程中未損耗的能量通過(guò)逆變器回饋至電網(wǎng),實(shí)現(xiàn)能量回饋,達(dá)到節(jié)能目的。本文對(duì)系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì),并對(duì)各部分軟硬件設(shè)計(jì)進(jìn)行分析,最后進(jìn)行系統(tǒng)仿真及試驗(yàn)測(cè)試。
常規(guī)電壽命裝置分為測(cè)控單元和模擬負(fù)載,測(cè)控單元利用計(jì)算機(jī)、采集卡、電壓電流采集電路以及控制電路等,實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置、信號(hào)的采集與輸出、數(shù)據(jù)計(jì)算處理等。模擬負(fù)載采用可調(diào)電阻、電感,不同試品的試驗(yàn)要求不同,負(fù)載設(shè)計(jì)也不同,以繼電器為例[8-9],繼電器電壽命試驗(yàn)裝置如圖1所示。該負(fù)載設(shè)計(jì)采用多段可調(diào)電阻、電感串并聯(lián),以滿足調(diào)節(jié)要求,存在如前所述的問(wèn)題。
圖1 繼電器電壽命試驗(yàn)裝置
參考繼電器使用類別AC-12、AC-14、AC-15,繼電器電壽命負(fù)載主要包括:阻性負(fù)載、阻感性負(fù)載以及變負(fù)載模擬。如圖1中負(fù)載,通過(guò)調(diào)節(jié)可調(diào)電阻以及電感,對(duì)試驗(yàn)電流以及功率因數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié),實(shí)現(xiàn)阻感性模擬負(fù)載試驗(yàn);通過(guò)開(kāi)關(guān)K1、K2切換不同的負(fù)載,實(shí)現(xiàn)變負(fù)載模擬,如沖擊電流模擬試驗(yàn),其控制時(shí)序如圖2所示。
圖2 控制時(shí)序圖
針對(duì)常規(guī)電壽命試驗(yàn)裝置的不足,設(shè)計(jì)了基于交流固態(tài)負(fù)載的低壓電器電壽命試驗(yàn)系統(tǒng),該系統(tǒng)包括測(cè)控單元和交流固態(tài)負(fù)載兩部分。測(cè)控單元利用工控機(jī)操控PCI-1712高速多功能數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)字輸出功能,驅(qū)動(dòng)由固態(tài)繼電器組成的控制電路,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)試品導(dǎo)通、關(guān)斷的控制;選用霍爾電壓傳感器和霍爾電流傳感器進(jìn)行電壓、電流的信號(hào)檢測(cè),通過(guò)信號(hào)調(diào)理模塊將信號(hào)傳輸?shù)綌?shù)據(jù)采集卡,對(duì)試品觸點(diǎn)電壓電流、交流固態(tài)負(fù)載能耗等實(shí)時(shí)監(jiān)控。交流固態(tài)負(fù)載包括電流發(fā)生單元和能量回饋單元,在試驗(yàn)時(shí),工控機(jī)通過(guò)通信端口將試驗(yàn)參數(shù)傳輸給電流發(fā)生單元,電流發(fā)生單元根據(jù)試驗(yàn)參數(shù)控制試驗(yàn)電壓、電流及功率因數(shù);能量回饋單元實(shí)現(xiàn)能量回饋。系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)框圖如圖3所示。
圖3 系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)框圖
本系統(tǒng)以PWM VSR為主體實(shí)現(xiàn)固態(tài)負(fù)載的電流發(fā)生單元,能量回饋單元采用逆變電路,中間環(huán)節(jié)采用直流母線電容,保持直流母線電壓穩(wěn)定,起到兩級(jí)解耦作用,使前后級(jí)分開(kāi)控制[10],如圖4所示。
圖4 交流固態(tài)負(fù)載結(jié)構(gòu)圖
試驗(yàn)電流發(fā)生單元即單相可控整流電路,將其等效為一個(gè)電壓源uab,試驗(yàn)電源電壓為u。在試驗(yàn)時(shí),根據(jù)不同試驗(yàn)要求,設(shè)置試驗(yàn)電流給定,根據(jù)試驗(yàn)電流給定與實(shí)際電流i反饋,利用PWM技術(shù),控制單相可控整流電路交流側(cè)uab,即可達(dá)到控制電流i的目的,實(shí)現(xiàn)負(fù)載模擬。實(shí)際中電流發(fā)生單元可根據(jù)不同試驗(yàn)要求,設(shè)置電流給定,利用PWM技術(shù)產(chǎn)生任意形狀的試驗(yàn)電流,增強(qiáng)設(shè)備通用性與靈活性;結(jié)合電力電子器件的良好開(kāi)關(guān)特性以及先進(jìn)的控制方法,可以克服模擬負(fù)載試驗(yàn)電流有級(jí)調(diào)節(jié)的缺點(diǎn);同時(shí)當(dāng)前電力電子功率器件具有很高的集成度,性價(jià)比高,克服了傳統(tǒng)負(fù)載體積大、造價(jià)高的缺點(diǎn)。
能量回饋以單相電壓型逆變電路為主體,將試驗(yàn)中未損耗的能量回饋至電流發(fā)生單元輸入端,達(dá)到節(jié)能目的。
2.1.1 電流發(fā)生單元設(shè)計(jì)
交流固態(tài)負(fù)載整體電路如圖5所示,圖中電流發(fā)生單元主體為單相可控整流電路,通過(guò)單相調(diào)壓器調(diào)節(jié)試驗(yàn)電壓,滿足試驗(yàn)電壓要求;通過(guò)單相可控整流電路控制試品電流大小以及功率因數(shù),滿足不同規(guī)格試品的電壽命試驗(yàn)要求,除進(jìn)行必要的電壓電流測(cè)量外,還包括:
圖5 交流固態(tài)負(fù)載整體電路
2.1.1.1 交流側(cè)電感
針對(duì)不同規(guī)格試品,在試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)電流變化較大,為更好地控制電流和抑制電流紋波,在單相整流電路的交流側(cè)串接L1與L2,通過(guò)控制固態(tài)繼電器SSR分?jǐn)嗷驅(qū)?,以選取不同的電感值,從而有效的控制試驗(yàn)電流。
2.1.1.2 預(yù)充電電路
在啟動(dòng)電流發(fā)生單元前,控制交流接觸器KM2斷開(kāi),之后閉合KM1,通過(guò)不控整流電路對(duì)直流母線電容C進(jìn)行充電,緩沖電阻R3保護(hù)直流母線電容C,減小直流母線電容C在充電過(guò)程中的沖擊,在直流母線電容C充電完成后,閉合KM2。
2.1.1.3 保護(hù)電路
為保護(hù)器件以及有效控制試驗(yàn)電流,直流母線電壓應(yīng)保持在一定范圍內(nèi),設(shè)計(jì)了由IGBT Q1和功率電阻R4組成的放電電路。通過(guò)控制Q1的導(dǎo)通、關(guān)斷,實(shí)現(xiàn)對(duì)直流母線電容的充放電,從而保證直流母線電壓始終保持在設(shè)定區(qū)域內(nèi)。
2.1.1.4 鎖相模塊
通過(guò)鎖相模塊檢測(cè)試驗(yàn)電壓過(guò)零點(diǎn),對(duì)試驗(yàn)電壓相位進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
2.1.1.5 試品觸點(diǎn)電壓測(cè)量
在電壽命試驗(yàn)過(guò)程中,測(cè)控單元通過(guò)對(duì)試品觸點(diǎn)吸合與分?jǐn)嚯妷簻y(cè)量,判斷試品是否失效;同時(shí)電流發(fā)生單元通過(guò)對(duì)試品觸點(diǎn)端電壓測(cè)量,進(jìn)而判斷試品狀態(tài),因此對(duì)試品觸點(diǎn)端電壓的有效測(cè)量很重要。
以R2、調(diào)壓器、試品觸點(diǎn)形成回路,不論單相可控整流電路工作與否,均可實(shí)現(xiàn)試品觸點(diǎn)電壓的有效測(cè)量;同時(shí)在試品分?jǐn)鄷r(shí),R1釋放調(diào)壓器二次側(cè)電感電能,R2釋放L1、L2電能,有效抑制試品觸點(diǎn)分?jǐn)嗨查g電壓沖擊。
2.1.2 能量回饋單元設(shè)計(jì)
能量回饋單元直流側(cè)輸入端為電流發(fā)生單元的直流輸出端,交流側(cè)輸出端為電流發(fā)生單元輸入端。如圖5中能量回饋單元所示。
交流固態(tài)負(fù)載上電時(shí),首先進(jìn)行預(yù)充電,預(yù)充電完成后,啟動(dòng)電流發(fā)生單元以及能量回饋單元。
針對(duì)電流發(fā)生單元,控制器通過(guò)鎖相模塊檢測(cè)到試驗(yàn)電壓的過(guò)零點(diǎn),使得電流參考值與試驗(yàn)電壓的相位差為試驗(yàn)設(shè)置的功率因數(shù)角。
控制器采集試品觸點(diǎn)端電壓、電流,實(shí)時(shí)計(jì)算試品觸點(diǎn)的等效電阻R,觸點(diǎn)正常閉合時(shí)R為一極小值,觸點(diǎn)正常分?jǐn)鄷r(shí)R為一極大值,據(jù)此值大小可實(shí)時(shí)判斷觸點(diǎn)的閉合與分?jǐn)酄顟B(tài)??刂破鞲鶕?jù)試驗(yàn)參數(shù)及試品觸點(diǎn)狀態(tài),確定試驗(yàn)電流參考值,利用PWM技術(shù)控制單相可控整流電路的交流側(cè)電壓值,使得在試品觸點(diǎn)正常閉合時(shí)流經(jīng)試品觸點(diǎn)的電流幅值以及功率因數(shù)為設(shè)定值,在試品觸點(diǎn)正常分?jǐn)鄷r(shí),流經(jīng)試品觸點(diǎn)的電流接近于0。從而實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)電流幅值可依據(jù)參考值的幅值大小動(dòng)態(tài)連續(xù)調(diào)節(jié)以及功率因數(shù)調(diào)節(jié)。電流發(fā)生單元控制流程圖如圖6所示。
能量回饋單元將電流發(fā)生單元輸入電流is作為給定值,利用PWM技術(shù),控制單相逆變電路輸出電流if與電流發(fā)生單元輸入端電流is相位一致,將試驗(yàn)中未損耗的能量回饋到電流發(fā)生單元輸入端,實(shí)現(xiàn)能量循環(huán)利用,降低電壽命試驗(yàn)中用電損耗。能量回饋單元控制流程序如圖7所示。
圖6 電流發(fā)生單元控制流程圖
圖7 能量回饋單元控制流程圖
本系統(tǒng)測(cè)控單元軟件設(shè)計(jì)使用LabVIEW平臺(tái),實(shí)現(xiàn)控制系統(tǒng)運(yùn)行、試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置、信號(hào)的采集與輸出、數(shù)據(jù)處理等功能。試驗(yàn)開(kāi)始前,對(duì)試驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置,并通過(guò)串口將試驗(yàn)參數(shù)發(fā)送給電流發(fā)生單元;開(kāi)始試驗(yàn)后,控制試品動(dòng)作,啟動(dòng)AD對(duì)電壓電流信號(hào)采集;并將采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)及處理;當(dāng)判斷試品失效或者停止試驗(yàn)時(shí),結(jié)束試驗(yàn)。測(cè)控單元控制流程圖如圖8所示。測(cè)控單元軟件主要包括試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置及串口發(fā)送,信號(hào)輸出、采集及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)等模塊。
圖8 測(cè)控單元控制流程圖
系統(tǒng)的試驗(yàn)參數(shù)主要包括試驗(yàn)次數(shù)、試驗(yàn)頻率、通斷占空比、試驗(yàn)電壓、試驗(yàn)電流、功率因數(shù)等。通過(guò)串口通信方式將試驗(yàn)參數(shù)發(fā)送到電流發(fā)生單元。串口通信中,采用數(shù)據(jù)幀的通信協(xié)議格式:幀頭、參數(shù)碼、數(shù)據(jù)、CRC校驗(yàn),電流發(fā)生單元通過(guò)參數(shù)碼識(shí)別不同的試驗(yàn)參數(shù),根據(jù)試驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行控制。試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置及串口發(fā)送程序如圖9所示。
圖9 試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置及串口發(fā)送程序
系統(tǒng)采用研華PCI-1712高速多功能數(shù)據(jù)采集卡,通過(guò)采集卡IO端口控制試品通斷;利用AD采集端口對(duì)電壓、電流信號(hào)實(shí)時(shí)采集,采集卡提供有多個(gè)基于LabVIEW的驅(qū)動(dòng)模塊和庫(kù)函數(shù),解決了LabVIEW與采集卡之間的交互問(wèn)題。數(shù)據(jù)采集模塊程序編寫(xiě)采用DMA(direct memory access)模式,DMA方式采集數(shù)據(jù)可準(zhǔn)確的采集各個(gè)傳感器輸出的信號(hào),同時(shí)提高采樣速率和CPU的利用率。
在試驗(yàn)過(guò)程中,需要對(duì)采集到試品電壓、電流等信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)存儲(chǔ),以便于后期對(duì)試品的性能進(jìn)行分析。LabVIEW中提供了多種存儲(chǔ)方式,本系統(tǒng)采用TDMS存儲(chǔ)方式。TDMS 文件是一種二進(jìn)制記錄文件,其文件結(jié)構(gòu)符合一定的存儲(chǔ)規(guī)律。TDMS 的邏輯結(jié)構(gòu)分為3層,文件、通道組和通道,每1個(gè)層次上都可以附加特定的屬性,TDM文件的存儲(chǔ)速度很快,非常適合用來(lái)存儲(chǔ)海量數(shù)據(jù),可在實(shí)時(shí)系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)程序如圖10所示。
圖10 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)程序
本文搭建了仿真系統(tǒng),進(jìn)行大功率試驗(yàn),對(duì)試驗(yàn)方案進(jìn)行了驗(yàn)證;同時(shí)由于試驗(yàn)條件限制,利用設(shè)計(jì)的試驗(yàn)系統(tǒng)進(jìn)行了小功率試驗(yàn)測(cè)試。
本文利用Matlab軟件搭建了系統(tǒng)仿真模型,仿真模型如圖11所示。該仿真采用開(kāi)關(guān)元件模擬試品。利用脈沖發(fā)生器控制試品的導(dǎo)通關(guān)斷,利用電壓電流采集模塊、示波器實(shí)現(xiàn)信號(hào)的測(cè)量顯示,以此代替測(cè)控單元。本仿真設(shè)置試品的開(kāi)關(guān)頻率為1 800次/h,通斷占空比50%,試驗(yàn)電壓有效值為220 V,試驗(yàn)電流:沖擊電流有效值為125 A、沖擊電流時(shí)間200 ms,額定電流有效值為25 A、額定電流時(shí)間為800 ms,功率因數(shù)角為60°,直流母線電壓為400~410 V。
圖11 交流固態(tài)負(fù)載仿真模型
仿真試驗(yàn)波形如圖12所示。試品控制時(shí)序以及試驗(yàn)電壓、電流參考波形如圖12(a)、(b)所示。t0到t3為一個(gè)通斷周期2 s,通斷占空比為50%:
t0=0 s時(shí)刻:試品導(dǎo)通,電流為沖擊電流125 A;
t1=0.2 s時(shí)刻:電流由沖擊電流變?yōu)轭~定電流25 A;
t2=1 s時(shí)刻:試品關(guān)斷,電流變?yōu)? A;
t3=2 s時(shí)刻:試品導(dǎo)通,進(jìn)入下一個(gè)通斷周期。
圖12 仿真試驗(yàn)波形
如圖12(c)所示。仿真中含有沖擊電流,根據(jù)試驗(yàn)電流不同,實(shí)時(shí)改變交流側(cè)電感值,從而有效的控制試驗(yàn)電流。
試品觸點(diǎn)端電壓波形如圖12(d)所示,試品處于分?jǐn)酄顟B(tài),試品觸點(diǎn)電壓為試驗(yàn)電壓,試品處于導(dǎo)通狀態(tài),試品觸點(diǎn)電壓接近于零。
通過(guò)對(duì)試品觸點(diǎn)電壓電流的有效測(cè)量,可實(shí)時(shí)計(jì)算試品觸點(diǎn)的等效電阻R,判斷試品觸點(diǎn)的閉合與分?jǐn)酄顟B(tài),控制試驗(yàn)電流大小以及功率因數(shù)。電流發(fā)生單元所產(chǎn)生的實(shí)際電流如圖12(e)所示,試品導(dǎo)通時(shí)沖擊電流有效值為125 A,沖擊時(shí)間200 ms,額定電流有效值25 A,額定時(shí)間800 ms,圖中放大部分為2.2 s處的電壓電流波形,試驗(yàn)電流與電壓的功率因數(shù)角為60°??梢?jiàn)電流發(fā)生單元實(shí)現(xiàn)了預(yù)設(shè)的試驗(yàn)電流產(chǎn)生功能,具有很高的精度。
如圖12所示,(f)為電流發(fā)生單元輸入電流,(g)為回饋電流,放大部分為2.2 s處電流波形。如圖13所示,對(duì)電源輸出端的有功功率進(jìn)行測(cè)量。由圖13可知,能量回饋單元的節(jié)能效果明顯。
(a)無(wú)能量回饋的有功功率
(b)有能量回饋的有功功率圖13 電源輸出的有功功率
根據(jù)設(shè)計(jì)方案搭建試驗(yàn)系統(tǒng),進(jìn)行試驗(yàn)系統(tǒng)測(cè)試。圖5中,交流固態(tài)負(fù)載的開(kāi)關(guān)器件為IGBT模塊FF150R12ME3G模塊及其對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)模塊2SP0115T2B0-12,控制器采用TMS320F28335芯片。R1、R2為1 000 Ω,R3為20 Ω,R4為10 Ω,L1為50 mH,L2、L2、L3為5 mH,直流母線電容C為4 700 uF。
選取交流繼電器試品,進(jìn)行感性負(fù)載試驗(yàn)。進(jìn)行實(shí)際試驗(yàn)測(cè)試,通過(guò)LabVIEW平臺(tái)設(shè)置試驗(yàn)頻率1 800次/h,通斷占空比50%,試驗(yàn)電壓為220 V,試驗(yàn)電流為額定電流10 A,功率因數(shù)角為45°。試驗(yàn)過(guò)程中,測(cè)控系統(tǒng)軟件界面如圖14所示,試驗(yàn)電壓、電流及功率因數(shù)與設(shè)置相符,且節(jié)能效果明顯。
圖14 系統(tǒng)界面
本文設(shè)計(jì)了基于交流固態(tài)負(fù)載的低壓電器電壽命試驗(yàn)系統(tǒng),通過(guò)分析常規(guī)電壽命試驗(yàn)的不足及試驗(yàn)要求,給出了系統(tǒng)整體設(shè)計(jì)方案,并進(jìn)行了交流固態(tài)負(fù)載以及測(cè)控單元的軟硬件設(shè)計(jì)。交流固態(tài)負(fù)載代替了常規(guī)電壽命試驗(yàn)中的模擬負(fù)載,交流固態(tài)負(fù)載的電流發(fā)生單元對(duì)試品觸點(diǎn)端電壓有效檢測(cè),實(shí)時(shí)判斷試品觸點(diǎn)動(dòng)作狀態(tài),以控制在動(dòng)作過(guò)程中流經(jīng)試品觸點(diǎn)的電流,實(shí)現(xiàn)了試驗(yàn)電壓、電流以及功率因數(shù)的調(diào)節(jié),可以產(chǎn)生任意形狀的試驗(yàn)電流,更加契合控制實(shí)際負(fù)載,增強(qiáng)設(shè)備通用性與靈活性,同時(shí)降低設(shè)備的成本,具有更高的調(diào)節(jié)精度;利用能量回饋單元實(shí)現(xiàn)了能量回饋,降低了試驗(yàn)用電損耗,達(dá)到了節(jié)能的目的。同時(shí)測(cè)控單元實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)運(yùn)行的控制、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的采集、處理與存儲(chǔ),且操作方便。