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      從某電容器多起失效著手分析并改進器件選型實例

      2022-05-12 20:24:58魏一鳴杜轍肖衛(wèi)鎮(zhèn)
      企業(yè)科技與發(fā)展 2022年2期
      關(guān)鍵詞:失效模式故障樹電容器

      魏一鳴 杜轍 肖衛(wèi)鎮(zhèn)

      【摘 要】文章針對某設(shè)備使用的型號為CWR09NK475KRB電容器出現(xiàn)多起非相同批次失效事件,通過故障樹分析法對電容器失效的故障根源進行分析,確定了失效的根本原因,最終對電路器件選型進行了改進。

      【關(guān)鍵詞】電容器;可靠性;降額余量;可靠性;失效模式;故障樹

      【中圖分類號】TM53 【文獻標識碼】A 【文章編號】1674-0688(2022)02-0096-03

      0 前言

      隨著電子設(shè)備的快速發(fā)展,其可靠性問題引起人們越來越多的關(guān)注。電容器作為基本電子元件,在電路中具有隔直流通交流的作用,廣泛應(yīng)用于隔直耦合、去耦、旁濾、濾波、諧振、震蕩控制等場合[1]。雖然電容器是功能最簡單、最基礎(chǔ)的電子元器件,但是它在電路中承擔(dān)重要作用,因此電容器的失效有可能造成整個電子設(shè)備功能異常甚至功能喪失,造成的損失更是不可估量。本研究結(jié)合某設(shè)備使用的電容器多起失效事例,使用故障樹分析方法對電容器失效原因進行深入的分析,最終從電容器選型降額余量入手做出及時更改,提高了電路可靠性,有效減少失效的發(fā)生。

      1 問題概述

      在某電源電路中使用了型號為CWR09NK475KRB(符合美軍標MIL-PRF-55365規(guī)范)的電容器,接連發(fā)生多起短路失效故障。故障模式相同且造成多起整機設(shè)備故障的嚴重后果。

      2 問題分析與定位

      (1)失效情況。該電容器使用在某DC-DC升壓電路應(yīng)用中,電路原理圖如圖1所示。VST電壓為該升壓電路供電,輸出36 V電壓。升壓電路主要由電感器L3、脈沖調(diào)節(jié)器N5、二極管V7和濾波電容C49等器件構(gòu)成。正常工作時,脈沖調(diào)節(jié)器N5內(nèi)部開關(guān)管處于高頻變換狀態(tài),控制電感器L3能量的存儲與釋放,感應(yīng)電動勢與輸入電壓VST疊加實現(xiàn)升壓。電阻器R100、R106、R68實現(xiàn)輸出電壓負反饋,調(diào)整N5內(nèi)部開關(guān)管驅(qū)動脈沖的寬度,維持36 V電壓輸出穩(wěn)定。電容器C49是36 V電壓的濾波電容,用作提升36 V輸出電壓品質(zhì)。在實際應(yīng)用過程中發(fā)生多起電容器C49短路故障,導(dǎo)致輸入端過功率保護,電路無法正常工作。

      (2)故障樹分析。故障樹是用已表明的故障或外界事件或它們的組合將導(dǎo)致產(chǎn)品發(fā)生一種給定故障的邏輯推理圖,故障樹的構(gòu)圖元素是事件和邏輯門,通過邏輯門將事件相互聯(lián)系起來。故障樹可以幫助使用者判斷可能發(fā)生的故障模式和原因,發(fā)現(xiàn)可靠性和安全性的薄弱環(huán)節(jié),采取改進措施。當(dāng)發(fā)生重大故障后,故障樹分析法是故障調(diào)查的一種有效手段,可以系統(tǒng)而全面地分析故障原因,為清除故障提供支持。

      針對有可能造成電容器C49開路的原因,列出故障樹,用故障樹分析法對系統(tǒng)可靠性進行分析[2],如圖2所示。下面逐層進行分析。

      第一層(A層),A1、A2中只要有一個條件存在,就會造成電容器失效。

      A1:外部因素。該電容器應(yīng)用在DC-DC升壓電路中,在實際環(huán)境下會受到各種外部應(yīng)力干擾或者沖擊,例如外部碰撞、過熱環(huán)境、電沖擊等,應(yīng)力干擾或者沖擊均會對電容器造成間接或者直接損傷,甚至失效。同時,電路設(shè)計不合理有可能造成電容器長期工作在異常狀態(tài),大大縮短電容器壽命。

      A2:自身失效。該電容器不排除在制造過程中引入缺陷[3],可能是某批次電容器沒有完全達到合格標準,或者其生產(chǎn)加工方式本身不完善,導(dǎo)致電容器的出廠狀態(tài)就是不合格狀態(tài),存在生產(chǎn)過程引入的瑕疵,當(dāng)電容器應(yīng)用在實際電路后,經(jīng)過一段時間的使用,電容器失效。

      綜上,電容器的失效已進行了兩個方向的分解,繼而應(yīng)從A1和A2兩個方向繼續(xù)深入查找原因,因此將A1和A2下屬的各種可能的失效因素進行枚舉,列出故障樹第二層(X層),X1、X2、X3、X4、X5、X6這6個底事件只要有任意一個或者多個發(fā)生,就會造成電容器失效。接下來對6個底事件進行逐一分析。

      X1:機械應(yīng)力。因電容器生產(chǎn)介質(zhì)材料硬、脆的特性,電容器容易受機械應(yīng)力的影響,當(dāng)其彎曲形變超過其承受范圍時,極易產(chǎn)生破裂失效。在生產(chǎn)加工過程中,元器件貼裝焊接、單板分板切割、螺釘安裝、插件安裝、單板流轉(zhuǎn)等環(huán)節(jié)都會引入機械應(yīng)力[1]。檢查失效器件外觀形態(tài)正常,所有失效過的C49電容器均無外界機械外力損傷痕跡。該DC-DC升壓電路應(yīng)用的產(chǎn)品由金屬機箱裝載,自產(chǎn)品交付用戶使用后不存在機箱開蓋的情況。檢查機箱內(nèi)部,并無安裝沖突、頂撞,機箱內(nèi)未曾發(fā)現(xiàn)過多余物。依據(jù)產(chǎn)品實際使用環(huán)境,可以排除X1事件:機械應(yīng)力。

      X2:熱應(yīng)力。CWR09系列電容器是在高溫下燒結(jié)而成,耐高溫,但介質(zhì)材料耐熱沖擊性能較差,當(dāng)外界環(huán)境溫度沖擊或電容器內(nèi)存在溫度梯度,會使電容器受熱不均,各部分膨脹幅度不同,從而產(chǎn)生破壞性熱應(yīng)力[1]。熱應(yīng)力失效一般是由于產(chǎn)品的損耗太大導(dǎo)致失衡,熱量分布不均勻,局部熱量較大,導(dǎo)致熱破壞[4]。需要驗證電容器耐焊接熱能力和評估生產(chǎn)過程中是否存在引入熱沖擊的風(fēng)險,如烙鐵高溫、SMT爐溫不穩(wěn)定、SMT爐溫曲線變化速率過快等[5]。查詢CWR09系列電容器的元器件手冊,明確標注適用環(huán)境為-55~+125 ℃。查詢該電容器所屬產(chǎn)品的出廠前高低溫環(huán)境試驗范圍為-55~+70 ℃,該產(chǎn)品使用在國內(nèi)自然環(huán)境中,不存在超出-55~+70 ℃的自然氣候環(huán)境。再查產(chǎn)品內(nèi)C49電容器的布局環(huán)境,周圍不存在大功率或散熱量極大元器件,所有C49電容器的失效故障均為自身失效,并無產(chǎn)品內(nèi)其他元器件、結(jié)構(gòu)件等燒毀引發(fā)的散熱。同時,并無證據(jù)表明在C49電容焊接位存在焊接過程長時間加熱的必要或可能。依據(jù)產(chǎn)品實際使用環(huán)境,可以排除X2事件:熱應(yīng)力。

      X3:過電應(yīng)力。電容器耐電強度由采用的介電材料和兩極間距離決定,實際工作電壓越高,壽命越短[6]。因過電壓或過電流脈沖,在電容器內(nèi)部產(chǎn)生積聚電場,當(dāng)超過電容器本身介電強度,電容內(nèi)部的絕緣層就會被擊穿從而出現(xiàn)裂紋,破壞區(qū)域多位于電場集中的內(nèi)部點擊端部[1]。本電路中過電應(yīng)力主要涉及兩個方面:一是過電壓或靜電作用,二是使用過程中輸入端引入的浪涌電壓或者輸出端負載的變化,引起的大電流燒損電容。經(jīng)測試,由感應(yīng)電壓產(chǎn)生的靜電過電壓并不高;此外,產(chǎn)品現(xiàn)場使用環(huán)境接地安全可靠,操作規(guī)范,不存在產(chǎn)生靜電過電壓條件。因此,可以排除X3事件:過電應(yīng)力。

      X4:設(shè)計缺陷。該DC-DC升壓電路在電路設(shè)計原理上不存在隱患,完全遵循了以脈沖調(diào)節(jié)器N5為主的升壓電路推薦使用方案。但是考慮到輸出電壓的不同,推薦方案并未對元器件選型做出任何指導(dǎo)意見。

      X5:器件質(zhì)量。CWR09系列電容器在同類產(chǎn)品及其他電路中大量使用,該型號的電容在采購到貨后,要進行電性能測試、溫度沖擊試驗和100%老化篩選,驗收合格后方能送生產(chǎn)線使用。該失效型號的電容器在同類產(chǎn)品及其他電路中并未發(fā)生過大量失效記錄,近5年的失效率小于0.1‰,可以認為電容器質(zhì)量較為可靠。因此,可以排除X5事件:器件質(zhì)量。

      X6:批次失效。從電容器C49失效的多起事件來看,電容器批次號較為分散,時間跨度大,不存在同一批次大量失效的情況。查詢其他使用該型號電容器產(chǎn)品的歷史故障信息,該型號電容器未曾發(fā)生過批次失效,也未曾得到電容器廠家的批次失效或召回通知。因此,可以排除X6事件:批次失效。

      綜合以上分析,可以排除X1、X2、X3、X5、X6,無法排除X4事件:設(shè)計缺陷帶來的產(chǎn)品故障隱患。

      (3)故障定位。由于該電路完全遵循了以脈沖調(diào)節(jié)器N5為主的升壓電路推薦使用方案,因此不存在元器件使用上的錯誤,但是不排除元器件選型出現(xiàn)錯誤。

      電容降額的主要參數(shù)是工作電壓和環(huán)境溫度,在實際中以工作電壓為主[7]。查詢《元器件降額準則》(GJB/Z35—93)[8],其中“5.8節(jié)”有對電容器降額準則的詳細要求(見表1)。

      該產(chǎn)品使用在飛行器設(shè)備,按照對應(yīng)降額等級要求,使用的元器件降額等級最低應(yīng)滿足等級Ⅲ,即0.7。

      電容器C49的使用環(huán)境為36 V,查詢電容器CWR09 NK475KRB元器件手冊,耐壓值為50 V,降額值為36 V÷50 V=0.72,已超出降額等級的下限(等級Ⅲ:0.7),由此可以判斷,該電路中C49多起失效應(yīng)該與元器件選型,即電容的降額余量不足有關(guān)。降額余量不足導(dǎo)致該電容工作可靠性下降,在長時間、大樣本下,體現(xiàn)出一種批次較為離散的、故障現(xiàn)象較為統(tǒng)一的故障。

      3 機理分析

      升壓DC-DC電路的輸入電壓為+12 V,輸出電壓為+36 V,輸出電流可達175 mA。輸出電壓經(jīng)R100、R68、R106組成的分壓器輸入N5內(nèi)部比較器的反相端,保證輸出電壓的穩(wěn)定性。該升壓電路的效率可達90%左右。輸出端使用了耐壓為50 V的電容器作為濾波電容,即C49。該電容器在電路正常上電后長時間處在降額余量超標的工作環(huán)境下,導(dǎo)致電容器雖然符合質(zhì)量標準,但是可靠性降低,易發(fā)生失效故障。

      考慮到實際工作環(huán)境,36 V直流輸出為額定值并非瞬態(tài)值,其與紋波的疊加量完全有可能超過該電容的50 V額定電壓值。電容器使用電壓超過額定電壓時,容易破壞介質(zhì)層,將導(dǎo)致電容器性能劣化,嚴重時甚至產(chǎn)生介質(zhì)擊穿[9],因此在應(yīng)用中,電容器必須按照《元器件降額準則》(GJB/Z35—93)或產(chǎn)品手冊進行降額設(shè)計,建議使用電壓設(shè)定在額定電壓的70%(甚至是50%)以下,防止電路中紋波對介質(zhì)層造成損傷。

      4 改進措施

      針對該起因元器件選型降額余量不足導(dǎo)致的產(chǎn)品多起失效,采取以下措施:?譹?訛對該電路不做原理上的調(diào)整,在產(chǎn)品位號C49處原位替換成耐壓75 V,與原型號容值相同的電容器(降額余量為0.48,已滿足等級Ⅰ:0.5)。查詢替換電容器的安裝尺寸,可與原型號電容通用,不存在空間位置的局限。?譺?訛檢查并再次核算該產(chǎn)品其他元器件選型降額余量,不存在降額余量超標的情況。?譻?訛召回已交付的產(chǎn)品,將位號C49電容器替換成新型號電容器。

      5 結(jié)語

      經(jīng)過該電容器選型更正之后,產(chǎn)品經(jīng)過用戶長時間使用驗證,再未發(fā)生過C49電容器失效事件,通過元器件選型更改有效提高了整個產(chǎn)品的使用可靠性。

      降額設(shè)計是提高產(chǎn)品可靠性的重要手段,應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品承受的工作應(yīng)力(包括電應(yīng)力、熱應(yīng)力等)對其使用可靠性影響較大。因此,降額設(shè)計在電子產(chǎn)品設(shè)計中具有重要的作用,是產(chǎn)品可靠性設(shè)計的必要手段。降額設(shè)計是電子產(chǎn)品可靠性設(shè)計中必不可少的組成部分,針對機載電子產(chǎn)品高可靠性要求的特性,降額設(shè)計尤為重要。通過降額設(shè)計能有效延緩元器件參數(shù)退化,降低產(chǎn)品基本失效率,提高使用可靠性,增加工作壽命。

      當(dāng)前,機載電子產(chǎn)品的可靠性要求越來越高,通過對電子元器件進行降額技術(shù)應(yīng)用,可以有效提高產(chǎn)品的可靠性[10]。因此,在電路設(shè)計過程中,不僅考慮電路原理設(shè)計隱患,更要在元器件選型過程中對質(zhì)量標準、降額余量等因素作為重點考慮對象,通過合理的設(shè)計增加產(chǎn)品使用可靠性,提升產(chǎn)品質(zhì)量。

      參 考 文 獻

      [1]吳廣霖,白瑞林.片式多層陶瓷電容的可靠性應(yīng)用研究[J].功能材料與器件學(xué)報,2014,20(5):117-121.

      [2]周斌,黃元亮.基于模塊化分解的故障樹分析方法[J].計算機工程,2015,41(2):141-144.

      [3]李松,卞楠.片式多層陶瓷電容失效原因分析[J].理化檢驗(物理分冊),2016,52(9):663-666.

      [4]王爍.鉭電容失效模式及分析[J].科技風(fēng),2018(1):108-109.

      [5]王天午.MLCC電容失效分析總結(jié)[J].電聲技術(shù),2018,42(2):36-40.

      [6]孫海華.大功率UPS系統(tǒng)關(guān)鍵器件壽命分析及其在應(yīng)用中的影響[J].通信電源技術(shù),2018,35(5):91-94.

      [7]郭振鋒,郭炳,趙凱.電子元器件降額設(shè)計研究[J].電子元器件,2016(1):257-258.

      [8]GJB/Z 35—93,元器件降額準則[S].

      [9]崔德勝,陳朝杰,彭磊,等.電容器常見漏電失效模式分析及應(yīng)用建議[J].電子元件與材料,2017,36(9):38-42.

      [10]辛穎,靳靜,雷苗英,等.機載電子產(chǎn)品降額設(shè)計研究[J].通用質(zhì)量特性,2018(1):13-16.

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