郭松梅（重慶能源職業(yè)學(xué)院，401321）

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淺析微電子電路的校準(zhǔn)技術(shù)和自動測試

郭松梅
（重慶能源職業(yè)學(xué)院，401321）

摘要：隨著社會的不斷進(jìn)步，無論是工廠的大型電器設(shè)備還是日常生活的家用電器都會使用到微電子電路技術(shù)，微電子電路是一種以多種半導(dǎo)體器件為基礎(chǔ)的高新電子技術(shù)集成電路，其具有體積小、重量輕、可靠性高、工作速度快等多種特點。為了確保具有微電子電路的電器的質(zhì)量，我們必須對其進(jìn)行嚴(yán)格檢測，從而達(dá)到對其進(jìn)行質(zhì)控的目標(biāo)。為了確保電器設(shè)備中微電子電路的安全可靠性，本文主要針對微電子電路的校準(zhǔn)技術(shù)和自動測試技術(shù)進(jìn)行了研究，全文分為五個部分：第一部分引言對微電子電路進(jìn)行了介紹；第二部分分析了微電子電路研究的重要性；第三部分介紹了微電子電路的檢測方法；第四部分對探索了微電子電路的測試和校準(zhǔn)的具體方法；第五部分對全文進(jìn)行了總結(jié)。同時筆者也希望通過此次研究能夠更好的推動我國微電子電器設(shè)備的發(fā)展，促進(jìn)我國微電子技術(shù)的進(jìn)步。

關(guān)鍵詞：微電子電路；校準(zhǔn)技術(shù)；測試技術(shù)

0 引言

隨著科技的迅猛發(fā)展，計算機技術(shù)、電子信息技術(shù)、自動化技術(shù)不斷融合，這些高新技術(shù)共同成為了當(dāng)今社會科學(xué)技術(shù)的重要支柱。現(xiàn)如今，任何科學(xué)領(lǐng)域的新技術(shù)的研發(fā)必然與這些技術(shù)有著很大的聯(lián)系，正是這些技術(shù)共同推動著我國科學(xué)技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步。微電子技術(shù)作為其中一門重要技術(shù)，其在各種電器產(chǎn)品之中的深入應(yīng)用，對我們?nèi)粘Ｉ詈凸ぷ魃a(chǎn)帶來了非常大的變化。同時，為了確保微電子電路技術(shù)的電器產(chǎn)品質(zhì)量良好，我們必須對微電子電路進(jìn)行校準(zhǔn)與測試，運用校準(zhǔn)技術(shù)和自動測試技術(shù)保證以微電子電路為基礎(chǔ)的家電的質(zhì)量優(yōu)良。

1 微電子電路的重要性

當(dāng)前，隨著社會科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，無論是工廠的大型設(shè)備還是日常生活的家用電器都會適應(yīng)帶為電子電路技術(shù)，為了保證這些商品的質(zhì)量，我們不想確保這些商品微電子電路合格優(yōu)良，利用測試技術(shù)達(dá)到質(zhì)量控制了目的。在過去的十多年中，我們對于電器設(shè)備的質(zhì)量控制有了很大的進(jìn)步，但是還是存在一些問題，比如，設(shè)備自身的質(zhì)量問題，即檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性；有的檢測設(shè)備還需要跟進(jìn)具體情況變形檢測程序方可檢測；檢測方法過于繁瑣，檢測不及時。正是因為這些問題的存在，我們更需要一個科學(xué)各科的測試和校準(zhǔn)方法，確保及時準(zhǔn)確對電子電路進(jìn)行檢測和校驗。

2 當(dāng)前微電子電路的檢測

就當(dāng)前的校準(zhǔn)技術(shù)而言，為了確保測試軟件對微電子電路檢測的準(zhǔn)確性和可靠性，我們往往會采用三家測試結(jié)果比對和一票否決的檢測方法。當(dāng)?shù)?，這樣的檢測方法在確保了檢測結(jié)果的相對準(zhǔn)確的情況下，很大程度上增加了企業(yè)管理環(huán)節(jié)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的成本支出，降低了產(chǎn)品的生產(chǎn)效率，影響到企業(yè)的根本經(jīng)濟(jì)效益。為了確保微電子電路電器商品質(zhì)量能夠達(dá)標(biāo)，我們必須根據(jù)商品微電子電路的實際情況進(jìn)行實際測試。此時，檢測軟所選用的檢測方式、測試復(fù)蓋率和測試驗證等幾方面則是檢測的重點，也是微電子電路自動測試技術(shù)研究的一大重點。

3 微電子電路自動測試與校準(zhǔn)技術(shù)的探討

3.1微電子電路校準(zhǔn)依據(jù)與方法研究

目前，對于微電子電路的檢測還未形成一個系統(tǒng)的檢測標(biāo)準(zhǔn)。除了三十多種電路測試方法的基本原理，為了確保檢測結(jié)果的完整性、準(zhǔn)確性和一致性，還需要與這三十多種檢測方法搭配想要的程序設(shè)計。在程序設(shè)計時，選擇使用自動檢測系統(tǒng)，在對微電子電路校準(zhǔn)過程中可以自由控制，從而少數(shù)了人工操作錯誤產(chǎn)生的幾率。

3.2復(fù)蓋率檢測和校準(zhǔn)完整性檢測

針對以往微電子電路檢測過于繁瑣，操作困難的情況，我們可以采用覆蓋率檢測和校準(zhǔn)完整性檢測的方法，這種檢測方法不同于以往的檢測方法，其并不在乎測試碼的大小，其主要的是考慮微電子電路檢測參量是否完全測驗，從人與校準(zhǔn)方式和校準(zhǔn)過程掛鉤。

3.3微電子電路的量值溯源

微電子電路中的量值溯源，指的是其量值通過一條不間斷鏈持續(xù)追溯到最高標(biāo)準(zhǔn)。對微電子電路測試所使用的檢測設(shè)備而言，其校準(zhǔn)和溯源有著很大聯(lián)系的。因此在對微電子電路檢測和校準(zhǔn)時可以采用分別溯源法或者是標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)法，對微電子電路進(jìn)行校準(zhǔn)。

4 結(jié)束語

微電子電路技術(shù)作為當(dāng)前科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重點，我們確保其跟上時代的步伐進(jìn)步的同時，有一個完整、準(zhǔn)確和一致的檢測方法。因此，需要加強微電子電路自動測試與校準(zhǔn)技術(shù)的研究力度，掌控好以微電子電路為基礎(chǔ)的電器設(shè)備的質(zhì)量。

參考文獻(xiàn)

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［2］沈森祖，韓紅星.微電子電路自動測試與校準(zhǔn)技術(shù)研究［J］.全國電子測控工程學(xué)術(shù)年會， 2002.

［3］鮑雅萍.微機電系統(tǒng)性能檢測的分析與研究［J］.安陽大學(xué)學(xué)報：綜合版， 2004（02）.

［4］周厚平.集成電路測試系統(tǒng)微小微電子參量校準(zhǔn)技術(shù)研究［J］.中國艦船研究》， 2012.

作者簡介

郭松梅，女，1976年12月，湖北省英山縣，重慶能源職業(yè)學(xué)院，碩士在讀，講師，研究方向：電氣工程及其自動化。

Calibration technology and automatic test of microelectronic circuit

Guo Songmei
（Chongqing energy Career Academy， 401321）

Abstract：With the progress of society， whether it is a large plant or electrical equipment everyday household appliances will be used to microelectronic circuit technology，microelectronic circuit is a semiconductor device in a variety of high-tech electronic technology-based integrated circuits，having small size，light weight，high reliability，work fast and many other features.To ensure the quality of microelectronic circuits having electrical，and we must be rigorous testing，quality control so as to achieve its objectives.To ensure the safety and reliability of electrical equipment in microelectronic circuits，this paper mainly for microelectronic circuit technology calibration and automated testing techniques have been studied. The paper is divided into five parts： The first part of the introduction of microelectronic circuits were introduced；second microelectronic circuit section analyzes the importance of the study；the third part describes the detection method microelectronic circuit；the fourth part explores the specific methods microelectronic circuit test and calibration；the fifth part of the paper are summarized.At the same time we also hope that through this research to better promote the development of China's microelectronics electrical equipment， promote the progress of China's microelectronics technology.

Keywords：microelectronic circuit；calibration；Testing Technology