賈 鍇, 俞錦濤
(陸軍炮兵防空兵學(xué)院 基礎(chǔ)部數(shù)學(xué)教研室,安徽 合肥 230031)
設(shè)X為一非負(fù)連續(xù)型隨機變量,其概率密度函數(shù)為f,為了度量X中所包含的不確定性,文獻(xiàn)[1]定義X的香農(nóng)熵(Entropy)如下:
最近,文獻(xiàn)[2]定義了一個新的不確定性的度量,并稱之為Extropy。對于非負(fù)連續(xù)型隨機變量X,定義其Extropy如下:
J(X)和H(X)互為補對偶,更多關(guān)于Extropy與香農(nóng)熵的相關(guān)性質(zhì)可參閱文獻(xiàn)[2,3]。
若X表示一個新元件的壽命,該元件t時刻仍正常工作,它能繼續(xù)工作的壽命稱為其在t時刻的剩余壽命,記為Xt,由定義知Xt=(X-t|X>t)。因元件已經(jīng)工作到t時刻,再考察X中所包含的不確定性已不適合。文獻(xiàn)[4]指出不確定性應(yīng)該是時間t的函數(shù),并建議改為度量Xt中包含的不確定性?;谶@個思想,文獻(xiàn)[5]將X在t時刻的剩余Extropy定義如下:
(1)
非負(fù)連續(xù)型隨機變量X的概率分布還可以用分位函數(shù)表示,分位函數(shù)的定義為:
F-1(p)=inf {x|F(x)≥p},p∈(0,1)。
分布函數(shù)與分位函數(shù)在某種意義下是等價的,文獻(xiàn)[6,7]分別介紹了基于分位函數(shù)的概率模型及其在可靠性理論中的應(yīng)用。文獻(xiàn)[8]首次將分位函數(shù)引入不確定性的度量,類比其過程,令式(1)中的t=F-1(p),得到X的剩余分位Extropy如下:
其中第二個等號利用變量代換u=F(x)得到。QJp(X)從Extropy的角度度量了X在已經(jīng)工作了100p%的壽命后所剩余的不確定性,是一種基于分位函數(shù)的不確定性的度量。為了比較兩個隨機變量所包含的不確定性的大小,借助剩余分位Extropy提出一個新的隨機序,稱之為剩余分位Extropy(LQEx)序。
定義1.1稱X依LQEx序小于Y,如果QJp(X)QJp(Y)對于所有的p∈(0,1)都成立,記為XLQExY。
下面的引理1.2給出LQEx序的一個等價判別,其證明可由剩余分位Extropy的定義直接得到,故省略。該引理在本文的證明過程中將被反復(fù)使用。
引理1.2設(shè)隨機變量X、Y的概率密度函數(shù)分別為f、g,分位函數(shù)分別為F-1、G-1,則XLQExY,當(dāng)且僅當(dāng)對于所有的p∈(0,1),
本文將集中研究LQEx序的性質(zhì),具體安排如下:第二節(jié)分析了LQEx序與其他隨機序的關(guān)系,并給出由凸變換序得到LQEx序的條件。第三節(jié)討論非線性變換下的LQEx序,建立了隨機變量的非線性變換依LQEx序大于或小于其本身的充分條件,并討論了LQEx序經(jīng)非線性變換后封閉的條件。第四節(jié)研究了試驗總時間變量與原隨機變量之間的LQEx序,以及LQEx序在試驗總時間變換中的封閉性。第五節(jié)分析由同分布但可能相依的元件構(gòu)成的一般單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)的壽命,借助控制函數(shù)研究了LQEx序在一般的單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)中的封閉性。
本節(jié)研究LQEx序與其他隨機序之間的關(guān)系,首先介紹一些常用隨機序的定義以及其基本性質(zhì),有關(guān)這些隨機序的更多內(nèi)容還可參考文獻(xiàn)[9]。
(b)稱X依色散序小于Y,若f(F-1(p))≥g(G-1(p))對所有的p∈(0,1)都成立,記為XdispY;
(c)稱X依凸變換序小于Y,若G-1F(x)在(0,)上凸,記為XcY。
結(jié)合色散序的定義以及引理1.2分析可知XdispY?XLQExY。下面的定理2.2進(jìn)一步研究凸變換序和LQEx序的關(guān)系。
定理2.2若XcY,則XLQExY當(dāng)且僅當(dāng)J(X)J(Y)。
h′(p) =g(G-1(p))-f(F-1(p))
例2.4令X的分布函數(shù)F(x)=1-exp (-2x2),x≥0,Y的分布函數(shù)G(x)=1-e-x,x≥0,則G-1F(x)=2x2為凸,即XcY。另外
于是由定理2.2可知XLQExY。
定理3.1設(shè)X為一非負(fù)連續(xù)型隨機變量,φ是一個嚴(yán)格遞增的函數(shù),且滿足φ(0)=0,
(a)若φ′(x)≥1對所有的x>0都成立,則XLQExφ(X);
(b)若0<φ′(x)1對所有的x>0都成立,則φ(X)LQExX。
證(a)對于所有的p∈(0,1)都有
≥0
其中不等式由條件φ′(x)≥1得。則由引理1.2可得XLQExφ(X)。
(b)的證明類似。
下面的推論3.2和例3.3分別給出定理3.1的一個簡單推廣和重要應(yīng)用。
推論3.2設(shè)X為一非負(fù)連續(xù)型隨機變量,
(a)若θ≥1,則XLQExθX;
(b)若0<θ1,則θXLQExX。
例3.3令X服從參數(shù)為λ的指數(shù)分布,φ(x)=log (1+λγx/β)/γ,其中γ>0,β≥λ>0,則φ(X)服從參數(shù)為(β,γ)的Gompertz-Makeham分布,其分布函數(shù)Fφ(x)=1-exp [-β(eγx-1)/γ],x≥0。因為φ′(x)=λ/(β+λγx)1,所以由定理2.1可知φ(X)LQExX。即有QJp(φ(X))QJp(X)=-λ/4。
接下來我們考慮,如果隨機變量X和Y存在LQEx序的關(guān)系,那么這種關(guān)系在經(jīng)過φ變換后能否保留。首先介紹如下引理:
引理3.4[10]設(shè)μ(x)是(a,b)上的測度,其中-a
定理3.5令XLQExY,若YstX且φ(x)是一個嚴(yán)格遞增的凹函數(shù)滿足φ(0)=0,則有φ(X)LQExφ(Y)。
證由引理1.2可知,XLQExY時[f(F-1(u))-g(G-1(u))]du≥0對于所有的p∈(0,1)都成立。同樣根據(jù)引理1.2,只需證≥0對于所有的p∈(0,1)都成立即可,其中分別表示φ(Y)的密度函數(shù)和分位函數(shù)。注意到Y(jié)stX意味著G-1(x)F-1(x),且φ(x)是凹函數(shù),所以
另一方面,φ(x)是一個嚴(yán)格遞增的凹函數(shù),故1/φ′(F-1(u))是非負(fù)且單調(diào)遞增的,則由引理3.4可知上式右端恒大于0,結(jié)論證畢。
Barlow等人于1972年首次提出試驗總時間(total time on test)變量的概念,并將其運用于凸變換序的檢驗[11]。之后,這種變換的性質(zhì)被廣泛研究與運用,其成果可參閱文獻(xiàn)[12]。本節(jié)將首先介紹試驗總時間變量的定義,然后研究試驗總時間變量在LQEx序中的應(yīng)用。
(2)
定義4.2稱X依試驗總時間序小于Y,如果
對所有的p∈(0,1)都成立,記為XtttY。
結(jié)合定義4.1和4.2知,XtttY的充要條件是XtttstYttt,且若XstY,則XtttY。
性質(zhì)4.3XtttLQExX。
證對式兩邊求導(dǎo)得
其中fttt表示Xttt的密度函數(shù)。整理上式得
(3)
于是由引理3.4得XtttLQExX。
例4.4設(shè)X和Y分別服從參數(shù)為1指數(shù)分布,由定義4.1得其試驗總時間變量Xttt服從(0,1)上的均勻分布再由定理4.3可得
定理4.5若XLQExY,則XtttLQExYttt。
證由XLQExY可知[f(F-1(u))-g(G-1(u))]du≥0對于所有p∈(0,1)都成立,注意到式(3)可得
即XtttLQExYttt。
單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)是可靠性理論中滿足單調(diào)性和關(guān)聯(lián)性兩個最基本公理的系統(tǒng)。單調(diào)性即系統(tǒng)中元件可靠性的降低不會使系統(tǒng)可靠性提高,關(guān)聯(lián)性即系統(tǒng)中不存在無用元件,每個元件都與系統(tǒng)有關(guān)。設(shè)系統(tǒng)中各元件壽命為一隨機向量X=(X1,…,Xn),其中Xi表示第i個元件的壽命。系統(tǒng)壽命T是元件壽命的函數(shù),即T=φ(X1,…,Xn),φ是系統(tǒng)結(jié)構(gòu)函數(shù)。元件之間可能是相依的,其相依性在聯(lián)合分布函數(shù)F(t1,…,tn)=P{X1t1,…,Xntn}中體現(xiàn)。聯(lián)合分布函數(shù)還可寫作F(t1,…,tn)=K(F1(t1),…,Fn(tn)),其中Fi為Xi的邊緣分布函數(shù),K稱作它們的分布連接函數(shù)。這樣寫的好處在于元件的壽命特性由其對應(yīng)的邊緣分布表示,而它們之間的相關(guān)性只存在于分布連接函數(shù)中。最近,文獻(xiàn)[13]證明了單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)壽命的分布函數(shù)FT與其元件壽命的分布函數(shù)Fi的關(guān)系,在同分布(可能不獨立)條件下有如下表述:
引理5.1令T=φ(X)表示單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)的壽命,其由同分布但可能相依的元件X=(X1,…,Xn)構(gòu)成。設(shè)元件壽命均具有分布函數(shù)F,則系統(tǒng)壽命的分布函數(shù)
FT(t)=h(F(t))
其中h稱為控制函數(shù),僅與系統(tǒng)結(jié)構(gòu)函數(shù)φ和X1,…,Xn的分布連接函數(shù)K相關(guān)。h在(0,1)上連續(xù)且嚴(yán)格遞增,滿足h(0)=0,h(1)=1。
上結(jié)論對分析單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)的性質(zhì)起關(guān)鍵性作用,基于引理5.1文獻(xiàn)[13]分析了多種壽命分布類在單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)中的封閉性,文獻(xiàn)[14]證明了多種常用隨機序在單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)中的封閉性。最近,文獻(xiàn)[15]證明了剩余分位熵(LQE)序在單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)中封閉的條件,其序的意義可參考文獻(xiàn)[15]以及其中的引文。接下來本節(jié)將證明LQEx序在單調(diào)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)中封閉的條件,作為LQE序的補對偶,LQEx序的封閉條件與其類似。
定理5.2令X=(X1,…,Xn)和Y=(Y1,…,Yn)為彼此獨立但分量可能相依的隨機向量,其分量Xi均與X同分布,Yi均與Y同分布。它們分別表示兩組元件的壽命。T1=φ(X1,…,Xn),T2=φ(Y1,…,Yn)分別表示由這兩組元件組成的結(jié)構(gòu)相同的系統(tǒng)的壽命,它們具有相同的控制函數(shù)h,
(a)若XLQExY,h是(0,1)上的凸函數(shù),則T1LQExT2;
(b)若T1LQExT2,h是(0,1)上的凹函數(shù),則XLQExY。
其中最后一個等式利用變量代換u=h(v),且p′=h-1(p)。
(a)若XLQExY,則由引理1.2可知
對于所有的p′∈(0,1)都成立。又因為h是(0,1)上的增凸函數(shù),故[h′(v)]2在(0,1)上非負(fù)遞增。于是根據(jù)引理3.4可知式大于等于0對于所有的p′∈(0,1)都成立。注意到h在(0,1)上連續(xù)且嚴(yán)格遞增,滿足h(0)=0,h(1)=1,故p=h(p′)∈(0,1)。則由引理1.2可知T1LQExT2。
(b)的證明類似。
注5.3若考慮X1,…,Xn獨立同分布且Y1,…,Yn獨立同分布的情況。若系統(tǒng)為并聯(lián)系統(tǒng),h(x)=xn為凸函數(shù),則由定理5.2(a)可知并聯(lián)系統(tǒng)保留元件之間的LQEx序。若系統(tǒng)為串聯(lián)系統(tǒng),h(x)=1-(1-x)n為凹函數(shù),則由定理5.2(b)可知元件保留串聯(lián)系統(tǒng)的LQEx序。