陳 軍, 宋振飛, 萬(wàn)發(fā)雨, 謝 鳴
(1.南京信息工程大學(xué), 江蘇 南京 210044; 2.中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院, 北京 100029)
常規(guī)的天線增益測(cè)量可以采用遠(yuǎn)場(chǎng)三天線法或標(biāo)準(zhǔn)天線傳遞法,受測(cè)量場(chǎng)地的限制,一方面遠(yuǎn)場(chǎng)條件不能很好被滿足,另一方面收發(fā)天線間的互耦以及暗室多徑反射效應(yīng)客觀存在,導(dǎo)致常規(guī)增益測(cè)量方法的不確定度很難優(yōu)于0.3 dB。早在1973年,Newell A C等基于平面波散射矩陣?yán)碚撎岢隽送馔品ㄔ鲆鏈y(cè)量方法[1],即測(cè)量由近及遠(yuǎn)一系列距離下收發(fā)天線之間的功率傳輸特性,基于平面波散射矩陣?yán)碚?、以及由此衍生的天線互耦方程、功率級(jí)數(shù)展開等重要關(guān)系式,通過(guò)數(shù)值濾波等一系列核心技術(shù)濾除天線之間的多次耦合,再通過(guò)特定的數(shù)值擬合方法,獲得理想無(wú)限遠(yuǎn)距離下的天線絕對(duì)增益。該方法是目前國(guó)際上公認(rèn)的增益測(cè)量最準(zhǔn)確的方法。
美國(guó)NBS(現(xiàn)美國(guó)NIST)、英國(guó)NPL、俄羅斯VNIIFTRI、韓國(guó)KRISS等各國(guó)家計(jì)量院先后研制了外推法天線測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)裝置,中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院(NIM)也于2014年底建成了國(guó)內(nèi)第一套高精度外推法天線測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)裝置。近年來(lái),國(guó)際上外推法相關(guān)論文主要集中在測(cè)量理論完善[2,3]和測(cè)量應(yīng)用研究[4];國(guó)內(nèi)近幾年也出現(xiàn)了關(guān)于外推法天線測(cè)量方面的文獻(xiàn)[5,6]。但是,關(guān)于外推法增益測(cè)量誤差模型和測(cè)量不確定度評(píng)定的文獻(xiàn)論文則不多見。
天線增益的精密測(cè)量受諸多不確定因素的影響,天線饋電端口和測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)各連接端口處的阻抗失配會(huì)導(dǎo)致天線增益測(cè)量誤差,因此需要對(duì)增益值進(jìn)行阻抗失配修正。本文首先簡(jiǎn)要介紹了外推法天線增益測(cè)量的基本原理和測(cè)量過(guò)程,然后基于信號(hào)流圖法[7]建立了阻抗失配模型,推導(dǎo)出阻抗失配修正公式,結(jié)合各端口散射參數(shù)實(shí)測(cè)值可計(jì)算出阻抗失配修正值;最后,結(jié)合實(shí)際測(cè)試案例,基于蒙特卡羅法[8]對(duì)阻抗失配修正引入的不確定度及其概率分布進(jìn)行了評(píng)定。
外推法天線測(cè)量的基礎(chǔ)理論包括平面波散射矩陣,以及由此推導(dǎo)出的天線耦合方程和功率級(jí)數(shù)展開方程。實(shí)際測(cè)量時(shí)可依賴高精度導(dǎo)軌,測(cè)量由近及遠(yuǎn)一系列距離下收發(fā)天線之間的插入損耗,記為:
(1)
式中:PR和PT分別是天線接收功率和天線饋入功率;K是收發(fā)天線饋電端口相連時(shí)的傳輸損耗;d是收發(fā)天線之間的距離。
根據(jù)功率級(jí)數(shù)展開理論,P(d)d2可表示為:
多次反射項(xiàng)
(2)
式中:A1,A2,A3,……,An是功率級(jí)數(shù)展開系數(shù)。通過(guò)天線互耦抑制濾波算法濾除天線之間的多次反射影響,基于有限階多項(xiàng)式擬合算法忽略其中的高階耦合項(xiàng),從而得出有限個(gè)功率級(jí)數(shù)展開系數(shù)。
當(dāng)測(cè)量距離被外推至無(wú)限遠(yuǎn)處時(shí),結(jié)合Friis傳輸公式,利用式(2)中的擬合系數(shù)A1,可得收發(fā)天線在無(wú)限遠(yuǎn)處(d→∞)的增益乘積GTGR:
(3)
式中:GT和GR分別是發(fā)射天線和接收天線的增益;c是光速;f是頻率。 由式(3)可知:
(4)
以同樣的方法重復(fù)測(cè)量圖1所示的3種收發(fā)天線組合的增益乘積,進(jìn)而得到每個(gè)天線在無(wú)限遠(yuǎn)處的絕對(duì)增益。
圖1 收發(fā)天線的3種組合方式
圖2 阻抗失配模型
使用定向耦合器監(jiān)測(cè)發(fā)射天線的凈饋入功率,圖2中給出了其三端口的散射參數(shù)模型。把從定向耦合器端口②向饋源方向看去的反射系數(shù)稱為“有效源反射系數(shù)”,用ΓG″表示。
(5)
式中:S22,S21,S31,S32是定向耦合器端口相關(guān)散射參數(shù)。
在直通校準(zhǔn)測(cè)量中,當(dāng)需要使用適配器連接收發(fā)天線饋電端口時(shí),適配器輸入輸出端口的阻抗失配會(huì)對(duì)直通測(cè)量值造成影響,圖2(a)中給出了適配器散射參數(shù)模型?;谛盘?hào)流圖法可知,適配器的失配損耗M1可表示為:
(6)
一般情況下,饋源與負(fù)載直接相連時(shí),阻抗失配損耗Mc可表示為:
(7)
式中:ΓGen和ΓLoad分別是饋源和負(fù)載的反射系數(shù)。
在傳輸測(cè)量中,發(fā)射天線和定向耦合器端口②、接收天線和接收功率測(cè)量端口的阻抗失配將影響到傳輸測(cè)量結(jié)果。根據(jù)式(7),圖2(b)中發(fā)射天線和定向耦合器端口②的阻抗失配損耗M2可表示為:
(8)
簡(jiǎn)稱發(fā)射端阻抗失配修正項(xiàng),式中:ΓT是發(fā)射天線的反射系數(shù)。接收天線和接收功率測(cè)量端口的阻抗失配損耗M3可表示為:
(9)
簡(jiǎn)稱接收端阻抗失配修正項(xiàng),式中:ΓR和ΓL分別是接收天線和接收功率測(cè)量端口的反射系數(shù)。
需要說(shuō)明的是,由于式(1)定義的插入損耗是傳輸測(cè)量和直通校準(zhǔn)測(cè)量結(jié)果之比,而定向耦合器端口①和端口③在這兩次測(cè)量中均未進(jìn)行重復(fù)連接,這兩處的阻抗失配損耗雖然客觀存在,但不會(huì)對(duì)最終的插入損耗測(cè)量值造成影響。因此,收發(fā)天線增益乘積的阻抗失配修正式為:
(10)
式中:GTMGRM是收發(fā)天線增益乘積的實(shí)測(cè)值;GTGR是經(jīng)過(guò)阻抗失配修正后收發(fā)天線的增益乘積;M1是直通校準(zhǔn)測(cè)量時(shí)適配器的失配損耗;M2T和M3R分別是發(fā)射端和接收端的阻抗失配修正項(xiàng)。
完成圖1所示3組收發(fā)天線組合下的增益乘積測(cè)量,結(jié)合式(10),可得天線A、天線B、天線C增益的阻抗失配修正系數(shù)分別為:
(11)
以天線A為例,阻抗失配修正后的絕對(duì)增益為GA=CAGAM。
阻抗失配修正值與輸入量散射參數(shù)測(cè)量值之間的關(guān)系可簡(jiǎn)化表述為式(12):
(12)
式中:fA、fB和fC分別為式(11)中天線A,B,C增益的阻抗失配修正系數(shù)計(jì)算函數(shù);所涉輸入量為12個(gè)散射參數(shù)的實(shí)部與虛部依次記為x1,x2,x3,…,x24。
散射參數(shù)的測(cè)量通過(guò)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀完成,其不確定度一方面來(lái)源于端口連接隨機(jī)效應(yīng)引入的不確定度,另一方面來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)系統(tǒng)效應(yīng)引入的不確定度?;诿商乜宸▽?duì)阻抗失配修正不確定度評(píng)定的基本流程是:(1)依據(jù)相關(guān)規(guī)范[9]評(píng)定網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)不確定度;(2) 假設(shè)端口連接隨機(jī)效應(yīng)引入誤差的概率密度函數(shù)服從正態(tài)分布,對(duì)應(yīng)式(12)右側(cè)每一個(gè)變量都生成N個(gè)服從正態(tài)分布的偽隨機(jī)數(shù)δi(i=1,2,…, 24),其數(shù)學(xué)期望分別為對(duì)應(yīng)散射參數(shù)實(shí)測(cè)值,標(biāo)準(zhǔn)差分別為對(duì)應(yīng)的網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)不確定度;(3)根據(jù)式(13)對(duì)每一只天線進(jìn)行阻抗失配修正的不確定度進(jìn)行評(píng)定。
(13)
式中:yA0、yB0和yC0是由實(shí)測(cè)散射參數(shù)計(jì)算獲得的3只天線阻抗失配修正值;yAr、yBr和yCr分別是將對(duì)應(yīng)的偽隨機(jī)數(shù)代入式(12)計(jì)算獲得的3只天線阻抗失配修正值;u(yA)、u(yB)和u(yC)分別表示天線A、天線B和天線C阻抗失配修正的標(biāo)準(zhǔn)不確定度。
以上各量均為絕對(duì)值表述形式,需要通過(guò)式(14)將天線A、天線B和天線C阻抗失配修正的標(biāo)準(zhǔn)不確定度轉(zhuǎn)化為dB形式。
(14)
以某同軸饋電Ku波段標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭天線的外推法增益測(cè)量為例。表1給出了3只天線反射系數(shù)的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),表2是根據(jù)式(11)求得的天線A、B、C增益的阻抗失配修正值(dB形式)。
表1 天線反射系數(shù)的實(shí)測(cè)值 dB
以天線A在12 GHz處的反射系數(shù)實(shí)部x1為例,實(shí)測(cè)值為0.022 5 dB,相應(yīng)的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度為0.007 0,故基于蒙特卡洛法生成服從正態(tài)分布的N個(gè)偽隨機(jī)數(shù)(N=10 000),其數(shù)學(xué)期望為0.022 5,方差為0.007 0,概率分布如圖3(a)所示。將該偽隨機(jī)數(shù)作為輸入量重新計(jì)算天線A的阻抗失配修正值,并與實(shí)測(cè)散射參數(shù)值計(jì)算獲得的阻抗失配修正值相比較,得到隨機(jī)效應(yīng)引入的阻抗失配修正誤差分布如圖3(b)所示。分析其分布特性可知,阻抗失配修正誤差近似服從正態(tài)分布,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(yA)=0.010 5 dB。類似地,可求出3只天線在測(cè)量頻段內(nèi)的阻抗失配修正的標(biāo)準(zhǔn)不確定度,結(jié)果如表3所示。
本文介紹了外推法天線增益測(cè)量的基本原理和方法,基于信號(hào)流圖法建立了外推法天線增益測(cè)量阻抗失配模型,推導(dǎo)出全端口阻抗失配修正的表達(dá)式,并提出了一種基于蒙特卡羅法的阻抗失配修正不確定度評(píng)定方法。最后,以Ku波段標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭天線增益測(cè)量為例,給出了阻抗失配修正不確定度的詳細(xì)評(píng)定過(guò)程。為科學(xué)、系統(tǒng)地評(píng)定外推法增益測(cè)量不確定度提供了一種有效方法。
表2 天線增益的阻抗失配修正值 dB
圖3 天線A阻抗失配修正輸入輸出量的概率分布
[1] Newell A C, Baird R C, Wacker P F. Accurate measurement of antenna gain and polarization at reduced distances by an extrapolation technique[J].IEEETransactionsonAntennasandPropagation, 1973, 21(4): 418-431.
[2] Kang J S, Kang N W, David G,etal. Intercomparison of standard gain horn antennas at W-band[J].IEEETransactionsonInstrumentationandMeasurement, 2011, 60(7): 2627-2633.
[3] Ji Y, Warner F M. Swept frequency gain measurements
表3 阻抗失配修正的標(biāo)準(zhǔn)不確定度 dB
for standard horn antennas[C]// 2010 Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Daejeon, Korea, 2010.
[4] Ameya M, Hirose M, Kurokawa S. Antenna gain calibration using time-domain gating in extrapolation range for V-band pyramidal horn antennas[C]// 2010 Conference on Precision Electromagnetic Measurements. Daejeon, Korea, 2010.
[5] 孟東林, 謝鳴, 李大博, 等. K波段喇叭天線增益的預(yù)測(cè)及外推法實(shí)測(cè)驗(yàn)證[J]. 微波學(xué)報(bào), 2012, 28(3): 39-43.
[6] Song Z F, David G, Lin H Y,etal. Accurate gain calibration for a WR10 standard gain horn (SGH) using the three-antenna extrapolation technique[C]// IET International Radar Conference, Hangzhou, China, 2015.
[7] Hunton J K. Analysis of Microwave Measurement Techniques by Means of Signal Flow Graphs[J].IRETransactiononMicrowaveTheoryandTechnique, 1960, 8(2): 206-212.
[8] 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局.JJF1059.2-2012. 用蒙特卡羅法評(píng)定測(cè)量不確定度[S].2012.
[9] Technical Committee for Electricity and Magnetis. Guidelines on the evaluation of vector network analyzers (VNA)[R]. EURAMET/cg-12/v.02, 2011.